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本发明提供一种半导体存储产品高温老化测试方法，所述测试方法包括：将高温设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对高温设备、测试机、计时器和预警器做控制；通过编辑产出报告格式，自动回填各测...
该专利属于江苏华存电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏华存电子科技有限公司授权不得商用。

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