修复器件以及包括修复器件的半导体器件制造技术

公开了一种修复器件和包括该修复器件的半导体器件，其涉及用于封装后修复(PPR)器件的技术。修复器件包括：时钟发生器，其被配置为产生与可用熔丝相对应的熔丝时钟信号；熔丝选择电路，其被配置为区分熔丝时钟信号中的第一时钟信号和第二时钟信号；熔丝信号发生器，其被配置为在封装后修复(PPR)模式期间输出与第一时钟信号相对应的第一修复信号和与第二时钟信号相对应的第二修复信号；以及输出电路，其被配置为响应于第一修复信号而通过检测剩余的未使用熔丝的地址信息来输出第一输出信号，或者被配置为通过检测剩余的未使用熔丝的地址信息来输出第二输出信号。

【技术实现步骤摘要】
修复器件以及包括修复器件的半导体器件相关申请的交叉引用本申请要求2017年8月11日提交的申请号为10-2017-0102266的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
本公开的实施例总体而言可以涉及一种修复器件以及包括该修复器件的半导体器件，并且更具体地，涉及一种用于封装后修复(PPR)器件的技术。
技术介绍
当在多个存储单元的至少一个存储单元中发生缺陷或错误时，具有缺陷存储单元的半导体存储器件作为缺陷产品被丢弃。随着越来越多的半导体存储器件以更高的速度发展到更高的集成度，半导体器件具有缺陷存储单元的可能性更大。考虑到成本和生产率，由于半导体存储器件中的少量缺陷存储单元而丢弃整个半导体存储器件导致半导体存储器件的产量降低是低效的。因此，为了提高半导体存储器件的产量，许多开发商和公司正在对高效地修复半导体存储器件的缺陷单元的方法进行深入的研究。通常，半导体存储器件包括冗余存储单元。当在完成这种封装之后出现缺陷存储单元或者故障存储单元时，用冗余存储单元替换缺陷存储单元，从而修复半导体存储器件。在封装状态下的测试完成之后用冗余存储单元替换缺陷存储单元的方法被称为封装后修复(P本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种修复器件，包括：时钟发生器，其被配置为基于指示熔丝是否被使用的熔丝信号来产生与可用熔丝相对应的熔丝时钟信号；熔丝选择电路，其被配置为响应于第一信号和第二信号而区分熔丝时钟信号中的第一时钟信号和第二时钟信号；修复信号发生器，其被配置为在封装后修复PPR模式期间，输出与第一时钟信号相对应的第一修复信号和与第二时钟信号相对应的第二修复信号；以及输出电路，其被配置为响应于第一修复信号而通过检测剩余的未使用熔丝的地址信息来输出第一输出信号，或者被配置为响应于第二修复信号而通过检测剩余的未使用熔丝的地址信息来输出第二输出信号。

【技术特征摘要】
2017.08.11 KR 10-2017-01022661.一种修复器件，包括：时钟发生器，其被配置为基于指示熔丝是否被使用的熔丝信号来产生与可用熔丝相对应的熔丝时钟信号；熔丝选择电路，其被配置为响应于第一信号和第二信号而区分熔丝时钟信号中的第一时钟信号和第二时钟信号；修复信号发生器，其被配置为在封装后修复PPR模式期间，输出与第一时钟信号相对应的第一修复信号和与第二时钟信号相对应的第二修复信号；以及输出电路，其被配置为响应于第一修复信号而通过检测剩余的未使用熔丝的地址信息来输出第一输出信号，或者被配置为响应于第二修复信号而通过检测剩余的未使用熔丝的地址信息来输出第二输出信号。2.根据权利要求1所述的修复器件，其中，封装后修复PPR模式是硬封装后修复HPPR模式。3.根据权利要求1所述的修复器件，其中，时钟发生器从周期性触发的时钟信号产生熔丝时钟信号，所述熔丝时钟信号在熔丝信号具有第一逻辑值时触发。4.根据权利要求1所述的修复器件，还包括：熔丝控制器，其被配置为产生响应于启动信号而被周期性使能的时钟信号，并且响应于封装后修复PPR信号、故障地址和模式选择信号而输出封装后修复PPR使能信号；故障区检测电路，其被配置为响应于故障地址而确定故障区的位置，并且选择性地激活第一信号和第二信号；熔丝区选择电路，其被配置为响应于故障地址、第一修复信号和第二修复信号而输出用于修复故障区的修复命令信号；以及熔丝阵列，其被配置为包括被分配给封装后修复PPR模式的多个熔丝，并且响应于修复命令信号而执行修复操作。5.根据权利要求4所述的修复器件，其中，熔丝阵列被配置为产生指示所述多个熔丝是否被使用的熔丝信号。6.根据权利要求4所述的修复器件，其中，熔丝阵列被划分为第一组的熔丝区和第二组的熔丝区。7.根据权利要求4所述的修复器件，其中，熔丝阵列被划分为布置在偶数行的偶数熔丝区和布置在奇数行的奇数熔丝区。8.根据权利要求4所述的修复器件，其中，所述多个熔丝以上升顺序和下降顺序中的一种被依次激活。9.根据权利要求1所述的修复器件，其中：当第一信号具有第一逻辑电平时，熔丝选择电路从熔丝时钟信号的偶数触发产生第一时钟；以及当第二信号具有第一逻辑电平时，熔丝选择电路从熔丝时钟信号的奇数触发产生第二时钟。10.根据权利要求1所述的修复器件，其中，修复信号发生器包括：第一熔丝信息检测器，其被配置为在硬封装后修复HPPR模式期间输出与第一时钟信号同步的第一修复信号；以及第二熔丝信息检测器，其被配置为在硬封装后修复HPPR模式期间输出与第二时钟信号同步的第二修复信号。11.根据权利要求1所述的修复器件，其中，修复信号发生器在PPR模式下输出第一修复信号和第二修复信号，以及其中，当熔丝阵列在PPR模式下具有用于修复操作的N个熔丝时，在周期性触发的时钟触发N次时激活PPR模式。12.根据权利要求1所述的修复器件，其中，输出电路包括：第一熔丝信息输出电路，其被配置为检测分别与第一熔丝组中的可用熔丝相对应的第一修复信号的单独触发，并且输出表示第一熔丝组中的可用熔丝的第一输出信号；以及第二熔丝信息输出电路，其被配置为检测分别与第二熔丝组中的可...

【专利技术属性】
技术研发人员：金钟三，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR