一种电子元件移动测试装置制造方法及图纸

一种电子元件移动测试装置，包括承载治具和检测仪器，承载治具包括有导电体；导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端，用于连接检测仪器的仪器连接端以及用于连接元件连接端和仪器连接端的连接部；检测仪器设有用于触接电子元件的元件接触部和用于触接仪器连接端的仪器接触部；电子元件、导电体和检测仪器依次连接构成测试回路。当插接于承载治具的导电体上的电子元件，完成一项电气性能测试后，可通过承载治具整体移动到下一个检测仪器的工作站，进行下一项测试，避免了在进行多项电气性能测试时电子元件重复取放，省时省力，提高生产效率，降低成本。

A Mobile Testing Device for Electronic Components

A mobile testing device for electronic components includes a load-bearing fixture and a testing instrument, the load-bearing fixture includes a conductive body; the conductive body includes an element connecting end for connecting the tested electronic components, an instrument connecting end for connecting the testing instrument and a connecting part for connecting the element connecting end and the instrument connecting end; the testing instrument is provided with a component contacting part for contacting the electronic components and a connecting part for connecting the instrument connecting end. The instrument contact part used for contacting the connecting end of the instrument; the electronic components, the conductor and the testing instrument are connected in turn to form the testing circuit. When the electronic components plugged into the conductor of the bearing fixture have completed an electrical performance test, they can be moved to the workstation of the next testing instrument by the whole bearing fixture to carry out the next test, which avoids repetitive taking and placing of the electronic components when conducting multiple electrical performance tests, saves time and labor, improves production efficiency and reduces costs.

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件移动测试装置
本专利技术涉及电子元件测试
，具体的说，涉及一种电子元件移动测试装置。
技术介绍
随着经济的不断发展，电子产品成为我们生活中不可或缺的一部分，因此，各种电子元件的生产也得到了长足进步与发展。电子元件生产出来以后，要经过一个检验的过程，对电子元件的各种性能进行测试，例如：物理性能，电气性能，环境性能等。其中对电子元件电气性能的测试，是其中较为重要的部分，现有技术中对电子元件的测试采用的是，每个测试项目分开单独测试，需要多次取放电子元件，费时费力，生产效率较低。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服了现有技术中的缺陷，提供了一种电子元件移动测试装置，该装置可稳固承置被测电子元件，便于被测电子元件的元件输出端和元件输入端和检测仪器电连接，避免在进行多项电气性能测试时电子元件重复取放，省时省力，提高生产效率，降低成本。为了解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：一种电子元件移动测试装置，包括承载治具和检测仪器，承载治具包括导电体；导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端，用于连接检测仪器的仪器连接端以及用于连接元件连接端和仪器连接端的连接部；检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元件移动测试装置，其特征在于：包括承载治具和检测仪器，所述承载治具包括导电体；所述导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端，用于连接所述检测仪器的仪器连接端以及用于连接所述元件连接端和所述仪器连接端的连接部；所述检测仪器设有用于触接所述电子元件的元件接触部和用于触接所述仪器连接端的仪器接触部；所述电子元件、所述导电体和所述检测仪器依次连接构成测试回路。

【技术特征摘要】
1.一种电子元件移动测试装置，其特征在于：包括承载治具和检测仪器，所述承载治具包括导电体；所述导电体包括用于连接被测的电子元件的元件连接端，用于连接所述检测仪器的仪器连接端以及用于连接所述元件连接端和所述仪器连接端的连接部；所述检测仪器设有用于触接所述电子元件的元件接触部和用于触接所述仪器连接端的仪器接触部；所述电子元件、所述导电体和所述检测仪器依次连接构成测试回路。2.根据权利要求1所述的电子元件移动测试装置，其特征在于：所述承载治具包括底座、第一夹板、第二夹板和上盖板，所述底座设有供所述元件连接端穿过的槽孔；用于夹持住所述元件连接端的所述第一夹板和第二夹板固接于所述底座；所述上盖板对应所述元件连接端设有通孔，所述上盖板固接于所述第一夹板和第二夹板。3.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴绍飞，
申请(专利权)人：吴绍飞，
类型：发明
国别省市：江苏,32