四路独立电子负载控制并测量结温系统及其结温测量方法技术方案

技术编号:20220678 阅读:39 留言:0更新日期:2019-01-28 19:33
本发明专利技术公开了一种四路独立电子负载控制并测量结温系统,包括试验电源、四路独立电子负载和老化板,器件安装在老化板上,所述试验电源经过四路独立电子负载调整后给器件加电流,每路独立电子负载分为两个部分:提供0‑20A加热电流IH的电子负载A板和提供10mA测试电流Im的电子负载B板,所述电子负载A板、电子负载B板、试验电源和老化板通过电子负载转接板连接,所述电子负载B板采用18位高精度高速AD芯片。本发明专利技术的四路独立电子负载互不影响,并且电子负载分成两块板,控制部分和调整保护部分分开避免干扰,可以准确检测出负载电压,精确调整负载电流,更多的保护电路,采用高精度高速AD芯片使数据的结果更准确可靠。

【技术实现步骤摘要】
四路独立电子负载控制并测量结温系统及其结温测量方法
本专利技术涉及一种器件测量设备,尤其涉及一种四路独立电子负载控制并测量结温系统及其结温测量方法。
技术介绍
间歇寿命试验是对电路间断的施加应力,使器件受到“开”“关”之间的电应力周期变化,来加速电路内部的物理、化学反应的过程,而这种周期变化的电应力又导致器件和外壳温度的周期变化,最终得到测定微电子器件的典型失效率或者证实器件的质量或可靠性。因此,需要设计出四路独立电子负载控制并测量结温系统来决定间歇寿命试验的准确性、安全性以及对整个电路更好的保护。
技术实现思路
本专利技术为了解决上述现有技术中存在的缺陷和不足,提供了一种四路独立电子负载互不影响,并且电子负载分成两块板,控制部分和调整保护部分分开避免干扰,可以准确检测出负载电压,精确调整负载电流,更多的保护电路,不会因短路、温度过高、操作不当等原因造成器件损坏和影响电子负载,采用高精度高速AD芯片使数据的结果更准确可靠的四路独立电子负载控制并测量结温系统及其结温测量方法。本专利技术的技术方案:一种四路独立电子负载控制并测量结温系统,包括试验电源、四路独立电子负载和用于安装器件的老化板,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种四路独立电子负载控制并测量结温系统,其特征在于:其包括试验电源、四路独立电子负载和用于安装器件的老化板,器件安装在老化板上,所述试验电源经过四路独立电子负载调整后给器件加电流,每路独立电子负载分为两个部分:提供0‑20A加热电流IH的电子负载A板和提供10mA测试电流Im的电子负载B板,所述电子负载A板、电子负载B板、试验电源和老化板通过电子负载转接板连接,所述电子负载B板采用18位高精度高速AD芯片。

【技术特征摘要】
1.一种四路独立电子负载控制并测量结温系统,其特征在于:其包括试验电源、四路独立电子负载和用于安装器件的老化板,器件安装在老化板上,所述试验电源经过四路独立电子负载调整后给器件加电流,每路独立电子负载分为两个部分:提供0-20A加热电流IH的电子负载A板和提供10mA测试电流Im的电子负载B板,所述电子负载A板、电子负载B板、试验电源和老化板通过电子负载转接板连接,所述电子负载B板采用18位高精度高速AD芯片。2.根据权利要求1所述的一种四路独立电子负载控制并测量结温系统,其特征在于:在电子负载A板上有独立的加功率恒流源IH、过温保护、短路保护、过流保护和过压保护,电子负载A板具有调整达到稳定电流、信号反馈和各种电路保护的功能。3.根据权利要求1所述的一种四路独立电子负载控制并测量结温系统,其特征在于:电子负载B板是一块电子负载的控制板:负责采样VF计算出Tj,准确检测出负载电压,精确调整负载电流,数据的处理,快速的开关切换,发出指令,电子负载B板可实现IH和Im之间的转换,准确检测出负载电压,精确调整负载电流,提供一个10mA的测试电流...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡久恒
申请(专利权)人:杭州高坤电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:浙江,33

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