The invention provides a method for measuring polarizability of polarizers, which is used to measure polarizability of polarizers. The advantages of the invention are that the polarizer need not be removed from the module and then measured to avoid the module being destroyed, and to avoid the damage of the polarizer and influence the polarizability of the polarizer. In addition, the polarizability measurement method of the invention can realize a large number of polarizers. Quantity on-line monitoring, strong operability.
【技术实现步骤摘要】
偏光度的测量方法
本专利技术涉及显示装置领域，尤其涉及一种偏振片的偏光度的测量方法。
技术介绍
随着显示技术的进步，薄膜晶体管液晶显示器(thinfilmtransistorliquidcrystaldisplay，TFT-LCD)由于具有轻、薄、低辐射以及体积小而不占空间等优势，目前已经成为显示器市场的主力产品。液晶显示器主要利用两片偏振片所产生的线偏光达到亮暗对比的显示效果。其主要光源由背光模组提供，其光线经过第一片偏光板后产生线偏光，随着液晶分子的排列扭转后，再透过第二片偏光板即会产生亮暗变化，最后到达观看者眼内达到显示效果。其中，偏振片的偏光度P对其对比度K有很大影响，而偏振片的对比度会影响液晶显示器的对比光学表现。其中，偏光度P与对比度K之间存在如下关系：因此，若要检测监测液晶显示器的对比光学表现则需要对偏振片的偏光度P进行测量。而偏光度P与偏振片的平行透光率T//及偏振片的正交透光率T⊥存在如下关系因此，可通过测量光片的平行透光率T//及偏振片的正交透光率T⊥得到偏振片的偏光度P，进而可监测液晶显示器的对比光学表现。目前，传统的测试偏振片的偏光度的方法...
【技术保护点】
1.一种偏光度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：提供一参考偏振片的反射率及一参考基板的反射率；一各向线偏振光入射至一偏振片与一基板组合形成的一模组，测量所述模组的反射率，将所述模组的反射率的最大值作为所述模组的平行反射率，将所述模组的反射率的最小值作为所述模组的正交反射率；根据所述参考偏振片的反射率、所述参考基板的反射率、所述模组的平行反射率及所述模组的正交反射率计算所述偏振片的偏光度。
【技术特征摘要】
1.一种偏光度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：提供一参考偏振片的反射率及一参考基板的反射率；一各向线偏振光入射至一偏振片与一基板组合形成的一模组，测量所述模组的反射率，将所述模组的反射率的最大值作为所述模组的平行反射率，将所述模组的反射率的最小值作为所述模组的正交反射率；根据所述参考偏振片的反射率、所述参考基板的反射率、所述模组的平行反射率及所述模组的正交反射率计算所述偏振片的偏光度。2.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，根据公式(1)、公式(2)及公式(3)求得所述偏振片的偏光度：R//＝RPOL+T//*RG(1)R⊥＝RPOL+T⊥*RG(2)其中，RPOL为所述参考偏振片的反射率，RG为所述参考基板的反射率，T//为所述偏振片的平行透光率，T⊥为所述偏振片的正交透光率，R//为所述模组的平行反射率，R⊥为所述模组的正交反射率，P为所述偏振片的偏光度。3.根据权利要求1所述的偏光度的测量方法，其特征在于，定义一标准白参考板对一光源入射光的反射率为100％，测量所述光源入射至所述标准白...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊吉，
申请(专利权)人：惠州市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。