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本发明提供一种偏光度的测量方法，其用于测量偏振片的偏光度，本发明的优点在于，采用反射式测量方法，不需要将偏振片从模组上取下后再测量偏光度，避免模组被破坏，且避免偏振片受损，影响偏振片的偏光度；另外，本发明偏光度的测量方法能够实现大批量在线监...
该专利属于惠州市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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