【技术实现步骤摘要】
错充检测方法及错充检测系统
本申请属于显示面板检测
，尤其涉及一种错充检测方法及错充检测系统。
技术介绍
伴随着人们视觉需求水平的逐步提升，大尺寸、高解析度显示面板在工业技术中得到越来越广泛的应用；而随着显示面板中的画面尺寸越大，则阵列基板中驱动走线就是越长，并且由于驱动走线包括依次连接的电容、电阻等电子元器件，在子画素的扫描驱动过程中，传统技术往往需要从驱动走线的两端同时接入驱动信号，以实现显示面板的双向扫描过程；由于驱动信号在驱动走线中传输时间以及功耗等各个方面存在较大的差异，因此在显示面板的双向扫描过程中，驱动信号从驱动走线的两端输入会存在一定的传输延迟，即显示面板的错充现象，由于驱动信号在驱动走线上所产生的传输延迟所导致的错充现象，将会极大地降低显示面板中画面显示质量，给用户的视觉体验带来不良的影响。因此为了提高显示面板中的画面显示质量，技术人员需要及时地检测阵列基板的错充程度，以防止显示面板中的画面质量出现极大幅度的下降；但是由于传统技术中的检测装置一般体积较大，而阵列基板中驱动走线宽度极小，技术人员无法通过检测装置来获取驱动走线中的驱动信号，进而...
【技术保护点】
1.一种错充检测方法，其特征在于，所述错充检测方法包括：获取待检测的目标子画素，并得到与所述目标子画素连接的目标扫描线、目标数据线，以及与所述目标子画素相邻的目标公共电极线；断开所述目标子画素与垂直方向相邻的子画素之间的连接；断开所述目标子画素与所述目标数据线之间的连接；将所述目标扫描线、所述目标数据线、所述目标公共电极线以及所述目标子画素中的像素电极依次连接；在所述目标子画素的像素电极中获取所述目标扫描线的扫描信号；根据所述目标扫描线的扫描信号得到阵列基板的错充程度；显示所述阵列基板的错充程度。
【技术特征摘要】
1.一种错充检测方法，其特征在于，所述错充检测方法包括：获取待检测的目标子画素，并得到与所述目标子画素连接的目标扫描线、目标数据线，以及与所述目标子画素相邻的目标公共电极线；断开所述目标子画素与垂直方向相邻的子画素之间的连接；断开所述目标子画素与所述目标数据线之间的连接；将所述目标扫描线、所述目标数据线、所述目标公共电极线以及所述目标子画素中的像素电极依次连接；在所述目标子画素的像素电极中获取所述目标扫描线的扫描信号；根据所述目标扫描线的扫描信号得到阵列基板的错充程度；显示所述阵列基板的错充程度。2.根据权利要求1所述的错充检测方法，其特征在于，所述断开所述目标子画素与垂直方向相邻的子画素之间的连接，具体为：在所述目标数据线上选取第一断点和第二断点，所述第一断点位于所述第一交叉点与第二交叉点之间，所述第二断点位于所述第一交叉点与第三交叉点之间；其中，所述第一交叉点为所述目标扫描线在所述目标数据线上的投影点，与所述目标子画素在垂直方向相邻的子画素为：第一子画素和第二子画素，所述第一子画素位于所述目标子画素的一侧，所述第二子画素位于所述目标子画素的另一侧，所述第一子画素与第一扫描线以及所述目标数据线连接，所述第二子画素与第二扫描线以及所述目标数据线连接，所述第二交叉点为所述第一扫描线在所述目标数据线上的投影点，所述第三交叉点为所述第二扫描线在所述目标数据线上的投影点；在所述第一断点将所述目标数据线切断，在所述第二断点将所述目标数据线切断。3.根据权利要求1所述的错充检测方法，其特征在于，所述目标子画素包括第一像素电极和第一开关管，其中所述第一开关管的第一导通极接所述目标数据线，所述第一开关管的第二导通极接所述第一像素电极，所述第一开关管的控制端接所述目标扫描线；所述断开所述目标子画素与所述目标数据线之间的连接，具体为：切断所述第一开关管的第一导通极与所述目标数据线之间的连接。4.根据权利要求1所述的错充检测方法，其特征在于，所述将所述目标扫描线、所述目标数据线、所述目标公共电极线以及所述目...
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