The invention provides: a photosensitive resin composition with excellent low temperature curability, sensitivity, development contrast and resistance to electroless copper plating solution; a dry film having a resin layer obtained from the composition; a curing substance of the composition or the resin layer of the dry film; and a semiconductor element, a printed circuit board and an electronic component having the curing substance. The present invention is a photosensitive resin composition, etc. The photosensitive resin composition is characterized by containing polyamide ester and photoalkali-producing agent, as the aforementioned polyamide ester, as the complete ester polyamide ester with the repetitive structure shown in general formula (A), as the aforementioned photoalkali-producing agent, and containing at least one of the compounds, oxime esters and the like shown in general formula (B).
【技术实现步骤摘要】
感光性树脂组合物、干膜、固化物、半导体元件、印刷电路板和电子部件
本专利技术涉及感光性树脂组合物、干膜、固化物、半导体元件、印刷电路板和电子部件。
技术介绍
聚酰亚胺基于高的绝缘性、耐热性、高机械强度等优异的特性,被广泛用于各种领域。例如,不仅限于最初应用的航空宇宙领域,还推进了向半导体元件的涂布膜、柔性印刷电路板、耐热绝缘性层间材料的应用。聚酰亚胺具有如下方面:缺乏热塑性和在有机溶剂中的溶解性,加工困难。因此,聚酰亚胺通过如下方法而被广泛使用:对配混聚酰胺酸、聚酰胺酸酯等聚酰亚胺前体与光反应性的化合物而得到的感光性树脂组合物照射活性光线后进行显影,从而形成期望的图案膜后,施加高温使其闭环而进行酰亚胺化(例如专利文献1、2)。例如,专利文献1中记载了,包含聚酰胺酸酯和感光性产碱剂的负色调组合物。另外,专利文献2中记载了,包含特定结构的产碱剂、和特定结构的产碱剂以及高分子前体的感光性树脂组合物。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平5-197148号公报专利文献2:日本专利第5598031号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而,专利文献1中记载的负色调组合物是以提供用于制造集成电路的感光性聚酰亚胺为课题而作出的,虽然记载了聚酰胺酸酯与氨基甲酸苄酯等各种感光性产碱剂的组合,但是根据聚酰胺酸酯与产碱剂的组合的种类而灵敏度、溶解对比度降低。例如,对于专利文献1的实施例中记载的组合物,即使在低温下也能进行酰亚胺化,但是为了形成良好的图案,需要照射大量的活性光线,灵敏度不充分。专利文献2中记载的感光性树脂组合物是以灵敏度优异、无论高分子前体的种类如何溶解对比度 ...
【技术保护点】
1.一种感光性树脂组合物,其特征在于,含有聚酰胺酸酯和光产碱剂,作为所述聚酰胺酸酯,包含为具有下述通式(A)所示重复结构的完全酯的聚酰胺酸酯,
【技术特征摘要】
2017.07.12 JP 2017-136674;2018.05.22 JP 2018-097701.一种感光性树脂组合物,其特征在于,含有聚酰胺酸酯和光产碱剂,作为所述聚酰胺酸酯,包含为具有下述通式(A)所示重复结构的完全酯的聚酰胺酸酯,通式(A)中,XA为四价的有机基团,YA为二价的有机基团,RA1和RA2分别独立地为一价的有机基团,任选相同或不同,n为1以上的整数,作为所述光产碱剂,包含如下物质中的至少任1种:下述通式(B)或(C)所示的化合物;下述通式(D)~(H)中的任意者所示的季铵盐;通过活性光线的照射而产生分子中包含氮原子和氧原子各一个以上的叔胺的季铵盐;肟酯化合物;和,下述通式(I)所示的含有氨基甲酰基氧亚氨基的化合物,通式(B)中,RB1和RB2分别独立地为氢原子或有机基团,任选相同或不同;RB1和RB2任选它们键合而形成环状结构,任选包含杂原子的键合;其中,RB1和RB2中的至少1个为有机基团;RB3和RB4分别独立地为氢原子、卤素原子、羟基、巯基、硫醚基、甲硅烷基、硅烷醇基、硝基、亚硝基、亚磺基、磺基、磺酸根基、膦基、氧膦基、膦酰基、膦酸酯基、或有机基团,任选相同或不同;RB5、RB6、RB7和RB8分别独立地为氢原子、卤素原子、羟基、巯基、硫醚基、甲硅烷基、硅烷醇基、硝基、亚硝基、亚磺基、磺基、磺酸根基、膦基、氧膦基、膦酰基、膦酸酯基、氨基、铵基或有机基团,任选相同或不同;RB5、RB6、RB7和RB8任选它们中的2个以上键合而形成环状结构,任选包含杂原子的键合;RB9为氢原子或有机基团,通式(C)中,ZC为氢原子或硝基,RC1、RC2、RC3和RC4分别独立地为碳数1~8的烷基,RC5为氢原子或碳数1~8的烷基,RC1和RC2以及RC3和RC4任选各自彼此形成环结构,通式(D)中,RD1为碳数1~18的烷基、碳数2~18的烯基、碳数2~18的炔基、碳数6~14的芳基、硝基、羟基、氰基、-ORD2所示的烷氧基、-NRD3RD4所示的氨基、RD5CO-所示的酰基、RD6COO-所示的酰氧基、-SRD7所示的烷硫基或芳硫基、或卤素原子,RD2、RD5、RD6和RD7为碳数1~8的烷基或碳数6~12的芳基,RD3和RD4为氢原子、碳数1~8的烷基或碳数6~12的芳基,n为0~7的整数,YD+为下述式(D1)~(D4)中的任意者所示的季铵基,QD为氮原子或次甲基(-CH-),t和u为2或3,w为0~2的整数,AD为氢原子、羟基或卤素原子,RD8~RD10为碳数1~18的烷基、碳数2~18的烯基或碳数6~14的芳基,RD1与CH2-YD+XD-任选键合于相同的苯环,或者任选键合于不同的苯环,XD-为选自硼酸根阴离子、酚盐阴离子和羧酸根阴离子中的抗衡阴离子,通式(E)中,RE1为碳数1~18的烷基、碳数2~18的烯基、碳数2~18的炔基、碳数6~14的芳基、硝基、羟基、氰基、-ORE2所示的烷氧基、-NRE3RE4所示的氨基、RE5CO-所示的酰基、RE6COO-所示的酰氧基、-SRE7所示的烷硫基或芳硫基、或卤素原子,RE2、RE5、RE6和RE7为碳数1~8的烷基或碳数6~12的芳基,RE3和RE4为氢原子、碳数1~8的烷基或碳数6~12的芳基,m为0~9的整数,YE+为下述式(E1)~(E4)中的任意者所示的季铵基,QE为氮原子或次甲基(-CH-),t和u为2或3,w为0~2的整数,AE为氢原子、羟基或卤素原子、RE8~RE10为碳数1~18的烷基、碳数2~18的烯基或碳数6~14的芳基,RE1与CH2-YE+XE-任选键合于相同的苯环,或者任选键合于不同的苯环;XE-为选自硼酸根阴离子、酚盐阴离子和羧酸根阴离子中的抗衡阴离子,通式(F)中,RF1、RF2、RF4和RF5分别独立地为氢原子或碳数1~6的烷基,RF3和ArF分别独立地为碳数6~14的芳基,这些芳基任选具有取代基,该取代基为碳数1~18的烷基、碳数2~18的烯基、碳数2~18的炔基、碳数6~14的芳基、硝基、羟...
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