存储器自动检测和修复的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种存储器自动检测和修复的方法及装置，该方法包括：记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔；在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果；根据所述检测结果，对所述存储器进行修复。本发明专利技术实施例提供了一种存储器自动检测和修复的方法及装置，能够在用户使用存储器的过程中，对存储器自动进行检测和修复，延长了存储器的使用寿命。

Method and Device of Memory Automatic Detection and Repair

The embodiment of the present invention provides a method and device for automatically detecting and repairing memory. The method includes: recording the operation type and frequency of the storage unit in the memory and acquiring the time interval between any two operations of the user; detecting the storage unit of the memory in the time interval and generating the test result; and according to the detection, recording the operation frequency of the storage unit in the memory and acquiring the time interval of any two operations of the user. The memory is repaired by measuring results. The embodiment of the present invention provides a method and device for automatically detecting and repairing memory, which can automatically detect and repair memory in the process of user using memory and prolong the service life of memory.

【技术实现步骤摘要】
存储器自动检测和修复的方法及装置
本专利技术实施例涉及存储器
，尤其设计一种存储器自动检测和修复的方法及装置。
技术介绍
存储器中的芯片，在出厂前会被批量测试，来检测存储单元是不是有故障，当检测到故障时，会对故障的存储单元进行修复。那么，用户在使用存储器的过程中，当存储器出现故障的时候，如何修复是一个亟待解决的问题。目前存储器的趋势是密度越来越高，内部走线越来越密集，位线或者字线之间短接、断接现象也较为严重。因此存储器在出厂前，需要进行大量测试，这些过程影响产品面向市场周期，且耗费大量人力、物力。另外，出厂前存储器修复结果会固化到存储器中，每次上电都会自动加载修复信息，保证用户正常使用。但是，用户在使用过程中，存储器出现故障的时候，目前只能通过ECC来矫正，但ECC纠错能力有限。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种存储器自动检测和修复的方法及装置，能够在用户使用存储器的过程中，对存储器自动进行检测和修复，延长了存储器的使用寿命。第一方面，本专利技术实施例提供了一种存储器自动检测和修复的方法，该方法包括：记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔；在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果；根据所述检测结果，对所述存储器进行修复。可选地，所述操作类型包括编程操作、擦除操作和读取操作。可选地，所述记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率时，还包括追踪并记录用户在使用所述存储器过程中，所述存储器中存储单元发生的数据类型错误、发生数据类型错误的频率以及发生数据类型错误的所述存储单元的地址；根据所述存储器中的存储单元发生的数据类型错误、发生数据类型错误的频率以及发生数据类型错误的所述存储单元的地址，在所述时间间隔内，对发生数据类型错误的所述存储单元进行检测。可选地，在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果具体包括：在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行编程操作；对所述存储器的存储单元进行编程操作之后，对所述存储器的存储单元进行读取操作，得到实际读取结果；若所述实际读取结果和对所述存储器的存储单元进行编程操作的预期读取结果不符，则判断所述存储单元发生故障，生成检测结果，所述检测结果为发生故障的所述存储单元的地址。可选地，根据所述检测结果，对所述存储器进行修复之后还包括：发生故障的所述存储单元经过修复之后，对所述发生故障的所述存储单元进行再此检测，若修复成功，删除所述检测结果中的所述发生故障的所述存储单元的地址。第二方面，本专利技术实施例提供了一种存储器自动检测和修复的装置，该装置包括：记录模块，所述记录模块和检测模块相连，用于记录追踪并记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔；所述检测模块，用于在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果，所述检测模块和所述修复模块相连；修复模块，用于根据所述检测结果，对所述存储器进行修复。可选地，所述操作类型包括编程操作、擦除操作和读取操作。可选地，所述记录模块还用于记录用户在使用所述存储器过程中，所述存储器中存储单元发生的数据类型错误、发生数据类型错误的频率以及发生数据类型错误的所述存储单元的地址；所述检测模块用于根据所述存储器中的存储单元发生的数据类型错误、发生数据类型错误的频率以及发生数据类型错误的所述存储单元的地址，在所述时间间隔内，对发生数据类型错误的所述存储单元进行检测。可选地，所述检测模块还包括编程单元，用于在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行编程操作；所述检测模块还包括读取单元，所述读取单元和所述编程单元相连，用于对所述存储器的存储单元进行编程操作之后，对所述存储器的存储单元进行读取操作，得到实际读取结果；所述检测模块还包括检测结果生成单元，所述检测结果生成单元和所述读取单元相连，用于若所述实际读取结果和对所述存储器的存储单元进行编程操作的预期读取结果不符，则判断所述存储单元发生故障，生成检测结果，所述检测结果为发生故障的所述存储单元的地址。可选地，所述修复模块还用于，根据所述检测结果，对所述存储器进行修复之后，对所述发生故障的所述存储单元进行再此检测，若修复成功，删除所述检测结果中的所述发生故障的所述存储单元的地址。本专利技术实施例提供了一种存储器自动检测和修复的方法及装置，通过记录用户针对存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔，利用用户不对存储器进行操作的时间间隔，对存储器的存储单元进行检测，生成检测结果，根据检测结果，对存储器进行修复，将检测和修复的时间碎片化，提高了测试和修复的效率，并且起到了在用户使用的存储器的过程中，对存储器的存储单元的自动维护和保养的目的，延长了存储器的使用寿命。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的一种存储器自动检测和修复的方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例二提供的一种存储器自动检测和修复的方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例三提供的一种存储器自动检测和修复的方法的流程示意图；图4为本专利技术实施例四提供的一种存储器自动检测和修复的装置结构示意图；图5为本专利技术实施例四提供的又一种存储器自动检测和修复的装置结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。而本专利技术实施例提供的存储器自动检测和修复的方法及装置便是针对在用户使用的过程中，通过存储器自动检测和修复的方法及装置，对存储器进行自动检测和修复。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种存储器自动检测和修复的方法的流程示意图。该方法可以由一种存储器自动检测和修复的装置来执行，其中，该装置可由硬件和/或软件来实现，具体包括如下步骤：步骤110、记录用户针对存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔。在本实施例中，用户针对存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，可以称之为用户习惯，即用户习惯性地对某些存储单元进行一种操作，可选地，操作类型包括编程操作、擦除操作和读取操作，并且每种类型的操作以及操作频率可能比较固定，针对这样的用户习惯，在本实施例中可以将存储器中的存储单元的操作类型和操作频率以及存储单元的地址记录下来，经过分析总结，获取到用户任意两次操作的时间间隔。需要说明的是，任意两次操作，可以为同种类型的操作，也可以为不同种类型的操作，这一点取决于用户的习惯。获取到用户任意两次操作的时间间隔，便可以在后续的操作过程中，在这个时间间隔内，进行一些检测和修复。步骤120、在时间间隔内，对存储器的存储单元进行检测，生成检测结果。在本实施例中，对存储器的存储单元进行检测，生成检测结果。检测的目的是要排查存储器中的存储单元的故障。存储单元的故障示例性地可以包括硬件故障和软件故障。硬件故障一般包括以下4种情况：1、由于译码器内部短路或断路，导致部分地址或全部地址不能接受寻址。2、存储器的输入/输出电路内晶体管失效。3、存储单元损坏，可能在制造过程中产生，也可能在老化时产生，表本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器自动检测和修复的方法，其特征在于，记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔；在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果；根据所述检测结果，对所述存储器进行修复。

【技术特征摘要】
1.一种存储器自动检测和修复的方法，其特征在于，记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率，并获取用户任意两次操作的时间间隔；在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果；根据所述检测结果，对所述存储器进行修复。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述操作类型包括编程操作、擦除操作和读取操作。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述记录用户针对所述存储器中的存储单元的操作类型和操作频率时，还包括追踪并记录用户在使用所述存储器过程中，所述存储器中存储单元发生的数据类型错误、发生数据类型错误的频率以及发生数据类型错误的所述存储单元的地址；根据所述存储器中的存储单元发生的数据类型错误、发生数据类型错误的频率以及发生数据类型错误的所述存储单元的地址，在所述时间间隔内，对发生数据类型错误的所述存储单元进行检测。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行检测，生成检测结果具体包括：在所述时间间隔内，对所述存储器的存储单元进行编程操作；对所述存储器的存储单元进行编程操作之后，对所述存储器的存储单元进行读取操作，得到实际读取结果；若所述实际读取结果和对所述存储器的存储单元进行编程操作的预期读取结果不符，则判断所述存储单元发生故障，生成检测结果，所述检测结果为发生故障的所述存储单元的地址。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述检测结果，对所述存储器进行修复之后还包括：发生故障的所述存储单元经过修复之后，对所述发生故障的所述存储单元进行再此检测，若修复成功，删除所述检测结果中的所述发生故障的所述存储单元的地址。6.一种存储器自动检测和修复的装置，其特征在于，记录模块，所述记录模块和检测模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏志强，刘璐，李建新，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11