The invention discloses a method for measuring attosecond pulse ellipsometry by using photoelectron spectroscopy. Firstly, a combined beam consisting of near-infrared laser pulses and attosecond pulses is focused on the gas medium. After ionization, an optoelectronic signal containing attosecond pulse information is formed. The optoelectronic spectrum is acquired by collecting the optoelectronic signal. Then, the relationship between the optoelectronic spectrum and the attosecond pulse is calculated by using the time-dependent Schrodinger equation, and the ellipticity of the attosecond pulse is obtained by analyzing the optoelectronic spectrum. The invention provides a method for obtaining attosecond pulse ellipsometry by detecting photoelectron spectra, which is simple, effective and widely applicable.
【技术实现步骤摘要】
一种测量阿秒脉冲椭偏率的方法
本专利技术涉及超快激光测量
，具体涉及一种测量阿秒脉冲椭偏率的方法。
技术介绍
近年来随着强场物理的发展，人们在阿秒科学领域取得了重要突破。尤其是利用高次谐波技术产生的孤立阿秒脉冲，目前脉冲宽度最短的孤立阿秒脉冲已经达到43阿秒[T.Gaumnitzetal,Streakingof43-attosecondsoft-X-raypulsesgeneratedbyapassivelyCEP-stablemid-infrareddriver,OpticsExpress25,27506-27518(2017)]，可以实现很好的时间分辨率，为探测原子、分子和固态物质内部结构以及实时探测和控制超快电子动力学过程提供了有力工具。例如，孤立阿秒脉冲在探测分子圆二色性和产生阿秒量子电流、阿秒磁场等领域具有巨大的优势，而这些应用都取决于孤立阿秒脉冲的圆偏振或椭圆偏振的特性。因此，标定和测量孤立阿秒脉冲的椭偏率对于孤立阿秒的应用非常重要。偏振是光场的矢量特性表征。对于脉冲宽度为飞秒量级和更长的脉冲光束，其偏振特性可以利用透射式的偏振依赖的光学元件(如...
【技术保护点】
1.一种测量阿秒脉冲椭偏率的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1将近红外激光脉冲与椭偏率待测的阿秒脉冲合束聚焦后与气体介质相互作用产生光电子信号，并收集光电子信号获得光电子谱；S2利用含时薛定谔方程计算所述阿秒脉冲的椭偏率和所述光电子谱的角分布的关系，并根据所述阿秒脉冲的椭偏率和所述光电子谱的角分布的关系对光电子谱进行分析并标定阿秒脉冲的椭偏率。
【技术特征摘要】
1.一种测量阿秒脉冲椭偏率的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1将近红外激光脉冲与椭偏率待测的阿秒脉冲合束聚焦后与气体介质相互作用产生光电子信号，并收集光电子信号获得光电子谱；S2利用含时薛定谔方程计算所述阿秒脉冲的椭偏率和所述光电子谱的角分布的关系，并根据所述阿秒脉冲的椭偏率和所述光电子谱的角分布的关系对光电子谱进行分析并标定阿秒脉冲的椭偏率...
【专利技术属性】
技术研发人员：兰鹏飞，翟春洋，张银福，何立新，陆培祥，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：湖北,42
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