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本发明公开了一种利用光电子谱测量阿秒脉冲椭偏率的方法。首先，将由近红外激光脉冲和阿秒脉冲构成的合束光聚焦在气体介质上，经过电离形成包含阿秒脉冲信息的光电子信号，采集光电子信号，获得光电子谱；然后，利用含时薛定谔方程计算光电子谱和阿秒脉冲的关...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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