基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法。将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；对该光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射（SBS）的边带整形；以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号，使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。本发明专利技术还公开了一种基于SBS边带整形的光谱测量装置。本发明专利技术在现有基于扫频光源和相干光电探测的光谱测量方法基础上，利用SBS的窄带增益效果放大扫频边带，同时利用其衰减效果抑制残留边带，提高边带抑制比，实现了大动态范围的光谱测量。

Spectral measurement method and device based on stimulated Brillouin scattering sideband shaping

The invention discloses a spectral measurement method based on stimulated Brillouin scattering sideband shaping. The first microwave sweep signal is modulated on narrow line-wide optical carrier to generate carrier-suppressed optical single-sideband modulation signal; the optical single-sideband modulation signal is shaped based on stimulated Brillouin scattering (SBS); the optical single-sideband modulation signal after the shaping of the sideband is used as the optical local oscillator signal, and the optical measurement method based on Microwave sweep source and coherent photoelectric detection is used to treat the photometric signal. The spectra of The invention also discloses a spectrum measuring device based on SBS sideband shaping. On the basis of the existing spectral measurement method based on sweep light source and coherent photoelectric detection, the narrowband gain effect of SBS is used to amplify the sweep sideband, while the attenuation effect is used to suppress the residual sideband and improve the sideband rejection ratio, thus realizing the spectral measurement with a large dynamic range.

【技术实现步骤摘要】
基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法及装置
本专利技术涉及一种光谱测量方法，尤其涉及一种基于受激布里渊散射(stimulatedBrillouinscattering，简称SBS)边带整形的光谱测量方法及装置。
技术介绍
随着光子技术的飞速发展，近年来不断涌现的宽带业务、不断提高的服务质量要求、以及不断指数增长的接入设备，使得光纤宽带网络成为一个重点发展内容。密集波分复用技术(DenseWavelengthDivisionMultiplexing，DWDM)以及其它高速调制技术的发展及应用成为必然趋势。然而，随之带来的是光信息系统单个信道的带宽(或频谱复用的粒度)越来越小，例如：下一代光接入网标准之一超密集波分复用无源光网络(UDWDM-PON)的信道间隔为GHz量级；光频分正交复用(OFDM)系统子载波带宽通常在百MHz量级；微波光子系统则要求能分辨数十MHz间隔的无线信道，传统的光谱仪器分辨率远大于上述精度，迫切需要亚皮米(1pm＝10-12m)甚至是飞米(1fm＝10-15m)量级分辨率的光谱仪等高性能的光学参数检测仪器设备。在超宽波长范围调谐激光器(TLS)技术成熟后，相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法，其特征在于，首先，将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；然后，对所述载波抑制的光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射的边带整形，将要保留的一侧边带置于受激布里渊散射效应的增益谱内进行进一步放大，将要去除的另一侧边带置于受激布里渊散射效应的衰减谱内进行进一步抑制；最后，以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号，使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。

【技术特征摘要】
1.基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法，其特征在于，首先，将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；然后，对所述载波抑制的光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射的边带整形，将要保留的一侧边带置于受激布里渊散射效应的增益谱内进行进一步放大，将要去除的另一侧边带置于受激布里渊散射效应的衰减谱内进行进一步抑制；最后，以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号，使用基于微波扫频源和相干光电探测的光谱测量方法对待测光信号的光谱进行测量。2.如权利要求1所述方法，其特征在于，所述基于受激布里渊散射的边带整形具体如下：将第二微波扫频信号调制于所述窄线宽光载波分出的一束光载波上，生成载波抑制的光双边带信号，并以其作为泵浦光源，在介质中激发出受激布里渊散射效应，所述第二微波扫频信号与第一微波扫频信号之间的频率差为一定值，等于所述介质的布里渊频移；令所述载波抑制的光单边带调制信号经由所述介质进行传输，即得边带整形后的光单边带调制信号。3.如权利要求2所述方法，其特征在于，所述介质为光纤。4.如权利要求1所述方法，其特征在于，所述载波抑制的光单边带调制信号中的单边带为1阶边带或2阶边带。5.基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量装置，其特征在于，包括：光单边带调制器，用于将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波，生成载波抑制的光单边带调制信号；边带整形模块，用于对所述载波抑制的光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射的边带整形，将要保留的一侧边带置于受激布里渊散射效应的增益谱内进行进一步放大，将要去除的另一侧边带置于受激布里渊散射效应的衰减谱内进行进一步抑制；光谱测量模块，用于以边带整形后的光单边带...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛敏，朱贝贝，陈维，潘时龙，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32