下载基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法及装置的技术资料

文档序号:20093931

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本发明公开了一种基于受激布里渊散射边带整形的光谱测量方法。将第一微波扫频信号调制于窄线宽光载波,生成载波抑制的光单边带调制信号;对该光单边带调制信号进行基于受激布里渊散射(SBS)的边带整形;以边带整形后的光单边带调制信号作为光本振信号,使...
该专利属于南京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京航空航天大学授权不得商用。

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