曲面触控屏测试方法技术

一种曲面触控屏测试方法，包括：一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有一全平面区、一外围区，且具有四个圆弧顶角、多个像素单元、多个发射电极通道线、以及多个接收电极通道线；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的发射电极通道线及像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的所述接收电极通道线及像素单元；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。上述测试方法可测试各种曲面触控屏。

Test Method of Surface Touch Screen

A test method for curved surface touch screen includes: a curved surface touch screen providing step, including a curved surface touch screen, wherein the curved surface touch screen has a full plane area and a peripheral area, and has four arc apex angles, multiple pixel units, multiple emission electrode channel lines, and multiple receiving electrode channel lines; a channel shielding step, including shielding corresponding to the peripheral area. The transmitting electrode channel line and the pixel unit of the area are shielded and the receiving electrode channel line and the pixel unit corresponding to the peripheral area are shielded; a vertex capture step includes activating the unshielded pixel unit on the surface touch screen, driving a touch screen tester to capture the activated pixel unit on the surface touch screen, and searching according to the activated pixel unit. The four apex vertices of the full plane area and a test step include driving the touch screen tester to conduct a touch test of the full plane area according to the four apex vertices. All kinds of curved surface touch screens can be tested by the above test methods.

【技术实现步骤摘要】
曲面触控屏测试方法
本专利技术关于一种曲面触控屏测试方法，所述曲面触控屏测试方法能够在一曲面触控屏上的平面区域中设定一测试区域，并且在所述测试区域的其中一顶角顶点设定一座标原点，再以一触控屏测试机对所述曲面触控屏进行测试，藉此避免触控屏测试机无法在所述曲面触控屏的曲面边缘上找到顶角顶点，而无法在顶角顶点上设定一座标原点，导致无法进行测试的问题。
技术介绍
请参照图1，现有的触控屏测试机在进行触摸测试或划线测试时，必须通过一传统矩形全平面触控屏80的直角顶角的顶点81进行对位，并在其中一顶点上设定一座标原点，进而定义出一对应所述全平面触控屏80的座标系统。随着主动有机发光二极管(Active-matrixorganiclight-emittingdiode,AMOLED)显示技术的日渐成熟，包括了立体(3D)曲面触控屏及具二维圆弧顶角的触控屏的曲面触控屏等产品也越来越多。请参照图2，当以上述触控屏测试机对一曲面触控屏90(包括立体(3D)曲面触控屏及具二维圆弧顶角的触控屏)进行测试时，由于所述曲面触控屏90仅有圆弧顶角91而不具直角顶角，所述触控屏测试机无法依据直角顶角设定座标原点并定义出座标系统。因此，触控屏测试机无法对曲面触控屏90进行打点测试或划线测试。故，有必要提供一种曲面触控屏测试方法，以解决上述技术问题。
技术实现思路
本专利技术主要目的在于提供一种曲面触控屏测试方法，所述曲面触控屏测试方法能够在一曲面触控屏上的平面区域中设定一测试区域，并且在所述测试区域的其中一顶角顶点设定一座标原点，再以一触控屏测试机对所述曲面触控屏进行测试，藉此避免触控屏测试机无法在所述曲面触控屏的曲面边缘上找到顶角顶点，而无法在顶角顶点上设定一座标原点，导致无法进行测试的问题。为达上述目的，本专利技术提供一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括：一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。在本专利技术中，所述曲面触控屏的外围区具有二第一侧边以及二第二侧边，各所述第一侧边的二端分别形成有一第一圆弧部，二所述第二侧边垂直于二所述第一侧边，各所述第二侧边的二端分别行程有一第二圆弧部，其中，各所述第一侧边的其中一第一圆弧部与相邻于所述第一侧边的所述第二侧边的其中一第二圆弧部相连接而形成所述曲面触控屏的四个圆弧顶角的其中一个；所述多个发射电极通道线平行所述二第一侧边，其中各所述第一侧边对应所述多个发射电极通道线的至少其中一个；以及所述多个接收电极通道线平行所述二第二侧边，其中各所述第二侧边对应所述多个接收电极通道线的至少其中一个。在本专利技术中，所述通道屏蔽步骤包括屏蔽对应各所述第一侧边的所述至少一发射电极通道线及屏蔽所述至少一发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应各所述第二侧边的所述至少一接收电极通道线及屏蔽所述至少一接收电极通道线所对应的像素单元。在本专利技术中，所述测试方法包括一在所述测试步骤之前的座标系统设定步骤，所述座标系统设定步骤包括驱动所述触控屏测试机依据所找寻到的所述四个顶角顶点设定一出对应所述全平面区的测试座标系统；在所述测试步骤中，所述触控屏测试机依据所述测试座标系统所对应的所述全平面区进行所述触控测试。在本专利技术中，在所述座标系统设定步骤中，所述触控屏测试机将所找寻到的所述四个顶角顶点的其中一个设定为一座标原点，并且根据所述座标原点进一步设定出所述对应所述全平面区的测试座标系统。在本专利技术中，在所述顶点捕捉步骤中，所述触控屏测试机具有一摄像装置，并以所述摄像装置捕捉所述全平面区的所述四个顶角顶点。在本专利技术中，所述摄像装置为一感光耦合元件摄像装置。在本专利技术中，所述触控测试包括一打点测试和一划线测试中的至少一者。在本专利技术中，所述全平面区的四个顶角顶点为直角顶角顶点。在本专利技术中，各所述第一侧边和第二側邊中的至少一者为圆弧侧边。与现有技术相较，本专利技术的曲面触控屏测试方法解决了触控屏测试机无法对曲面触控屏测试的问题。本专利技术的曲面触控屏测试方法可事先屏蔽曲面触控屏上的边缘的发射电极通道线及接收电极通道线及屏蔽所述发射电极通道线与所述接收电极通道线所对应的像素单元，再启动其余未被屏蔽的像素单元来进行发光，以供所述触控屏测试机捕捉到所述曲面触控屏上的全平面区的四个直角顶角顶点，确保所述触控屏测试机能够准确对位所述曲面触控屏的全平面区，并且对所述全平面区进行打点测试、划线测试或其他相关触控测试。藉此，本专利技术的曲面触控屏测试方法可使触控屏测试机能够对各种曲面触控屏进行触控测试。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，幷配合所附图式，作详细说明如下：附图说明图1为现有技术的全平面触控屏的俯视图。图2为现有技术的曲面触控屏的俯视图。图3为本专利技术曲面触控屏测试方法的曲面触控屏的俯视图。图4为为本专利技术曲面触控屏测试方法的曲面触控屏的发射电极通道线与接收电极通道线的配置示意图。图5为本专利技术曲面触控屏测试方法的曲面触控屏的发射电极通道线与接收电极通道线与多个像素的配置示意图，其中对应外围区的发射电极通道线与接收通道的多个像素Px2被屏蔽而不启动，其余对应全平面区的发射电极通道线与接收通道的多个像素Px1被启动。图6为本专利技术曲面触控屏测试方法的一实施例。图7为本专利技术曲面触控屏测试方法的另一实施例。具体实施方式请参照图6，本专利技术的曲面触控屏测试方法主要包括：一曲面触控屏提供步骤S01、一通道屏蔽步骤S02、一顶点捕捉步骤S03、一测试步骤S05。请参照图3至图5，所述曲面触控屏提供步骤S01包括提供一曲面触控屏10。所述曲面触控屏10可为立体(3D)曲面触控屏或是二维圆弧顶角的触控屏，且包括：一全平面区100、一外围区110、多个像素单元Px1、Px2、多个发射电极通道线Tx以及多个接收电极通道线Rx。所述全平面区100呈矩形而具有四顶角顶点CP，所述四个顶角顶点CP可为直角顶角顶点CP。所述外围区110围绕所述全平面区100，且具有四个圆弧顶角103。所述多个像素单元Px1、Px2设置在所述曲面触控屏10上。图5的像素单元Px1、Px2以多个方格表示，各方格分别代表一组像素单元Px本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括︰一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。...

【技术特征摘要】
1.一种曲面触控屏测试方法，其特征在于包括︰一曲面触控屏提供步骤，包括提供一曲面触控屏，其中所述曲面触控屏具有：一全平面区，所述全平面区呈矩形而具有四顶角顶点；一外围区，围绕所述全平面区，且具有四个圆弧顶角；多个像素单元，设置在所述曲面触控屏上；多个发射电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上；以及多个接收电极通道线，并排设置在所述曲面触控屏上，且与所述多个发射电极通道线相交，其中各所述接收电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元，各所述发射电极通道线对应所述曲面触控屏的部分像素单元；一通道屏蔽步骤，包括屏蔽对应所述外围区的至少二所述发射电极通道线及屏蔽所述至少二发射电极通道线所对应的像素单元，并且屏蔽对应所述外围区的至少二所述接收电极通道线及屏蔽所述至少二接收电极通道线所对应的像素单元，其中未被屏蔽的发射电极通道线、未被屏蔽的接收电极通道线及未被屏蔽的像素单元位于所述全平面区内；一顶点捕捉步骤，包括启动所述曲面触控屏上未被屏蔽的像素单元，驱动一触控屏测试机捕捉所述曲面触控屏上的被启动的像素单元，并根据所述被启动的像素单元找寻所述全平面区的所述四个顶角顶点；以及一测试步骤，包括驱动所述触控屏测试机依据所述四个顶角顶点来对所述全平面区进行一触控测试。2.如权利要求1所述的曲面触控屏测试方法，其特征在于：所述曲面触控屏的外围区具有二第一侧边以及二第二侧边，各所述第一侧边的二端分别形成有一第一圆弧部，二所述第二侧边垂直于二所述第一侧边，各所述第二侧边的二端分别行程有一第二圆弧部，其中，各所述第一侧边的其中一第一圆弧部与相邻于所述第一侧边的所述第二侧边的其中一第二圆弧部相连接而形成所述曲面触控屏的四个圆弧顶角的其中一个；所述多个发射电极通道线平行所述二第一侧边，其中各所述第一侧边对应所述多...

【专利技术属性】
技术研发人员：林丹，
申请(专利权)人：武汉华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42