电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法技术

本发明专利技术公开了一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，包括以下步骤：对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定；对于随贮存时间有显著变化的性能参数，根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势；根据性能参数随时间的变化趋势，结合性能参数的技术要求值，判断性能参数是否为寿命特征参数。本发明专利技术能够实现电子元器件的贮存寿命特征参数的评估，可为产品的定延寿、维修提供依据。

【技术实现步骤摘要】
电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法
本专利技术涉及元器件寿命预测技术，尤其涉及一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法。
技术介绍
现代的军工产品具有长期贮存的特点，贮存特性是其重要的质量特性。要研究武器装备的寿命特性就必须从研究贮存寿命特征参数着手。而电子元器件是武器装备等的基本组成单元，其贮存寿命特征参数是表征其贮存寿命特性的重要参数。电子元器件是指在电子线路或电子设备中执行电气、电子、电磁、机电和光电功能的基本单元，该基本单元可由多个零件组成，通常部破坏是不能将其分解的。贮存寿命特征参数是元器件在自然贮存环境下易受到环境因素影响的性能参数，该参数表征了元器件的贮存寿命特征。自然库房贮存是指元器件在自然环境下库房的贮存，自然贮存试验能够获得真实的电子元器件的性能退化数据。对贮存退化数据进行研究能获得相对较高准确性的各类元器件的寿命特征参数，能为产品的设计、定延寿和修理等提供有力技术支持。目前，国内外对元器件的贮存状态开展的研究工作很少，没有针对电子元器件自然贮存寿命特征参数的评估方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，解决了电子元器件的贮存寿命特征参数的评估问题，可为产品的定延寿、维修提供依据。为了实现上述目的，本专利技术的一个方面提供一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，包括以下步骤：对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定；对于随贮存时间有显著变化的性能参数，根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势；根据性能参数随时间的变化趋势，结合性能参数的技术要求值，判断性能参数是否为寿命特征参数。根据本专利技术的上述一个方面的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，能够实现电子元器件的贮存寿命特征参数的评估，可为产品的定延寿、维修提供依据。附图说明图1是本专利技术一种实施方式的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法中的性能参数随贮存时间变化趋势图；图2是本专利技术一种实施方式的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法中的性能参数退化情况示意图。具体实施方式为了使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面将结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步的详细说明。本专利技术的专利技术人针对军工产品长期贮存的特点，在开展了22年自然环境试验的基础上，利用自然贮存试验性能参数监测数据，研究了性能参数的变化显著性和变化趋势的特征，成功建立了电子元器件的自然库房贮存寿命特征参数的评估方法，能实现其寿命特征参数的评估。本专利技术实施方式的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法详细步骤如下：步骤一：性能参数变化的显著性判定。对性能参数监测数据进行变化显著性的判定，其方法如下：首先，将某一性能参数监测数据整理成一个按照测试时间先后顺序排列的序列。该序列记为：X＝(x1，x2，…，xn)，其中n为贮存试验测试次数。为满足样品量的需求，可将平行试验样品的监测数据一并考虑。其次，将序列X分成t1和t2两个时间段的两个序列，分别为X1＝(x1，x2，…，xm)和X2＝(xm+1，xm+2，…，xn)，其中m＜n。第三，对序列X1和X2进行检验。包括两个方面的检验，即均值是否相等的检验和变化显著性检验。均值是否相等的检验是变化显著性检验的前提，只有通过了均值相等的检验，才能开展变化显著性检验。检验方法如下。检验序列X1和X2的均值是否相等。根据误差平方和Se和条件偏差平方和SA可构造序列X1和X2的均值是否相等的统计量F。式中：εij是第j次检验中由随机干扰所产生的误差。αi是概率。n1是水平数。当F＜F1-α/2(m-1，n-m)(α表示显著性水平)时，序列X1和X2均值相等。F1-α/2(m-1，n-m)可查表获得。在序列X1和X2均值相等的情况下，进一步检验序列X的变化的显著性。设θ1，θ2，…，θn1是取自序列X1的子样，η1，η2，…，ηn2是取自序列X2的子样。并且这两个子样相互独立。σ2是未知常数。现在要检验假设H0：u1＝u2成立与否。令θ1，θ2，…，θn1和η1，η2，…，ηn2的均值与方差的无偏估计分别为：式中：表示序列θ1，θ2，…，θn1的均值。表示序列η1，η2，…，ηn2的均值。表示序列θ1，θ2，…，θn1的方差无偏估计。表示序列η1，η2，…，ηn2的方差无偏估计。如果假设H0：u1＝u2成立，应该在0的附近随机摆动，于是序列X变化显著性检验的统计量为：式中：统计量t服从自由度为n1+n2-2的t-分布。给定显著性水平α，于是当：成立时，即认为该性能参数随贮存时间有显著的变化。(式中的可查自由度n1+n2-2的t分布表得到)。步骤二：性能参数变化趋势判定。性能参数序列变化趋势的判定，就是该序列是否具有单调性。将性能参数的监测值作为纵坐标，检测时间作为横坐标，作性能参数随时间的变化图，最后观察性能参数随时间的变化趋势，从数据整体的变化情况来判定变化趋势。图1是本专利技术一种实施方式的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法中的性能参数随贮存时间变化趋势图。如图1中的性能参数1和性能参数2都出现了单调性变化。步骤三：性能参数退化趋势判定对步骤一中确定有显著性变化和步骤二中确定变化趋势后的性能参数，结合性能参数的技术要求值，判断性能参数是否出现退化。如果性能参数的变化趋势与技术要求值越来越近，说明该性能参数出现退化，是寿命特征参数。图2是本专利技术一种实施方式的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法中的性能参数退化情况示意图。如图2中，性能参数1越来越接近性能参数1的技术要求值，因此性能参数1有退化，性能参数1是寿命特征参数。同样有性能参数2也是寿命特征参数。如上所述，本专利技术实施方式的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法可以直接用于电子元器件贮存寿命特征参数的评估，从而能够对电子元器件的筛选、二次使用、贮存管理，产品的设计、维修等提供技术指导。以上所述仅为本专利技术的较好的实施方式而已，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改，等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，其特征在于，包括以下步骤：对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定；对于随贮存时间有显著变化的性能参数，根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势；根据性能参数随时间的变化趋势，结合性能参数的技术要求值，判断性能参数是否为寿命特征参数。

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，其特征在于，包括以下步骤：对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定；对于随贮存时间有显著变化的性能参数，根据性能参数监测数据判定性能参数随时间的变化趋势；根据性能参数随时间的变化趋势，结合性能参数的技术要求值，判断性能参数是否为寿命特征参数。2.根据权利要求1所述的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，其特征在于，还包括：将性能参数监测数据整理成按照测试时间先后顺序排列的序列X：X＝(x1，x2，…，xn)，其中n为贮存试验测试次数。3.根据权利要求2所述的电子元器件自然库房贮存寿命特征参数评估方法，其特征在于，对电子元器件的性能参数监测数据进行变化显著性判定的步骤包括：将所述序列X分成t1和t2两个时间段的两个序列，分别为X1＝(x1，x2，…，xm)和X2＝(xm+1，xm+2，…，xn)，其中m＜n；对序列...

【专利技术属性】
技术研发人员：李坤兰，胡湘洪，张博，王春辉，黄创绵，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东,44