谷粒质量测定装置制造方法及图纸

提供一种谷粒质量测定装置，其可根据待测定得谷粒形状通过自动改变装置的光路长度而精准且有效地对各种谷粒执行质量测定。本发明专利技术的装置的特征在于包含：料斗，配置于装置的框体的上部且其中投入谷粒；叶轮，通过叶轮的转动将投入至料斗的谷粒进行输送；样品测定部，配置于叶轮的下方且可填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至样品测定部的谷粒质量，以及控制装置，可根据投入至料斗的谷粒的形态调整自测定元件的透射光的光路长度。光路长度的控制是通过电性调整光路长度调整组件的位置来执行。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】谷粒质量测定装置
本专利技术涉及一种用于光学上测定例如谷粒的味道及内部质量等的谷粒质量测定装置。
技术介绍
在例如用于分析谷粒味道的味道分析仪和用于测定谷粒内部质量的内部质量测定仪等的质量测定装置中，将投入至配置在装置的框体上部的料斗中的样品利用连接至料斗底部的叶轮容纳(填充)至样品测定部，且谷粒的质量通过从光学测定元件照射样品测量部中所容纳的谷粒上的光来测定。例如，下述的专利文献1中公开了使用近红外分析仪的带壳米粒的质量评价装置。〔先前技术文献〕〔专利文献〕〔专利文献1〕：JPH06-288907A。
技术实现思路
〔本专利技术的技术课题〕在这种质量测定装置中，于连接至叶轮下底部的样品测定部中的谷粒质量通过光学测定元件进行测定，且由于透射光量根据谷粒种类而不同，因此构成为通过提供多个光路长度改变部并根据谷粒种类改变光路长度改变部而可在谷粒上照射最适的恒定光量。除了透射光量根据谷粒种类而不同之外，即使在相同谷粒中也会根据收获年份、植物品种或品名及产地而不同。因而，使用多个光路长度改变部的质量测定装置可能无法准确地对应这些情况，因此容易造成测定误差。此外，在实际情况上往往容易发生忘记交换或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种谷粒质量测定装置(1)，其特征在于，包含：料斗(3)，其中投入谷粒，且配置于装置(1)的框体(2)的上部；叶轮(4)，用于将投入至所述料斗(3)的谷粒通过所述叶轮(4)的旋转进行输送；样品测定部(7)，配置于所述叶轮(4)的下方且能填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至所述样品测定部(7)的谷粒的质量；以及控制装置(15)，能根据投入至所述料斗(3)的谷粒的形态调整自所述测定元件的透射光的光路长度(L)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.08.30 JP 2016-1686231.一种谷粒质量测定装置(1)，其特征在于，包含：料斗(3)，其中投入谷粒，且配置于装置(1)的框体(2)的上部；叶轮(4)，用于将投入至所述料斗(3)的谷粒通过所述叶轮(4)的旋转进行输送；样品测定部(7)，配置于所述叶轮(4)的下方且能填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至所述样品测定部(7...

【专利技术属性】
技术研发人员：石津裕之，青岛由武，福元义高，殿柿章子，
申请(专利权)人：静冈制机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP