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提供一种谷粒质量测定装置，其可根据待测定得谷粒形状通过自动改变装置的光路长度而精准且有效地对各种谷粒执行质量测定。本发明的装置的特征在于包含：料斗，配置于装置的框体的上部且其中投入谷粒；叶轮，通过叶轮的转动将投入至料斗的谷粒进行输送；样品测...
该专利属于静冈制机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过静冈制机株式会社授权不得商用。

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