谷粒品质测定装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了提供一种谷粒品质测定装置，根据待测量的谷粒形状改变叶轮的转速而可容易地获得稳定的测定结果，且不受到谷粒形态的影响。本发明专利技术的装置的特征在于包含配置于框体的上部且可接收谷粒的料斗、可通过叶轮的转动将料斗所接收的谷粒进行输送的叶轮、配置于叶轮的下方且可填充预定量的谷粒的样品测定部、用于光学测定填充至样品测定部的谷粒品质的测定装置、以及根据投入至料斗的谷粒的形态改变叶轮转速的控制装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】谷粒品质测定装置
本专利技术涉及一种用于光学上测定例如谷粒的味道及内部品质等的谷粒品质测定装置。
技术介绍
过去，在例如分析谷粒味道的味道分析计及测定谷粒的内部品质的内部品质测定仪等的品质测定装置中，样品(例如，谷粒)品质的测定是通过将投入至配置在装置框体的上部的料斗的样品经与料斗底部连接的叶轮旋转并供给(填充)至测定部，再使用近红外线分析等的光学分析来测定所述样品。此外，使用近外线分析计的带壳米品质评价装置已公开在例如下述的专利文献1。〔先前技术文献〕〔专利文献〕〔专利文献1〕：JPH06-288907A然而，在这种品质测定装置中，由于叶轮的旋转速度设为恒定，在样品(谷粒)为干燥的情况下，谷粒可由叶轮顺利地旋转输送，因而样品测定部的填充密度能够维持恒定。相反地，在样品的含水量高的情况下，由于其黏度也变高，因而使用恒定旋转的叶轮会造成样品不规则的旋转输送，且将使样品测定部的填充密度无法维持恒定，而容易发生测定结果的变异。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的在于提供一种用于测定谷粒品质的装置，其可通过对应于待测定的谷粒形态来改变叶轮的旋转速度而能容易地获得稳定的品质测定结果，且不受到谷粒本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种谷粒品质测定装置(1)，其特征在于，包括：料斗(3)，其中投入谷粒，且配置于所述装置(1)的框体(2)上部；叶轮(4)，用于将投入至所述料斗(3)的谷粒通过所述叶轮(4)的旋转进行输送；样品测定部(7)，配置于所述叶轮(4)的下方且能填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至所述样品测定部(7)的谷粒的品质；以及控制装置(15)，用于根据投入至所述料斗(3)的谷粒的形态改变所述叶轮(4)的转速。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.08.30 JP 2016-1686221.一种谷粒品质测定装置(1)，其特征在于，包括：料斗(3)，其中投入谷粒，且配置于所述装置(1)的框体(2)上部；叶轮(4)，用于将投入至所述料斗(3)的谷粒通过所述叶轮(4)的旋转进行输送；样品测定部(7)，配置于所述叶轮(4)的下方且能填充预定量的谷粒；测定元件，用于光学测定填充至所述样品测定部(7)的谷粒的...

【专利技术属性】
技术研发人员：石津裕之，青岛由武，福元义高，殿柿章子，
申请(专利权)人：静冈制机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP