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本发明公开了提供一种谷粒品质测定装置，根据待测量的谷粒形状改变叶轮的转速而可容易地获得稳定的测定结果，且不受到谷粒形态的影响。本发明的装置的特征在于包含配置于框体的上部且可接收谷粒的料斗、可通过叶轮的转动将料斗所接收的谷粒进行输送的叶轮、配...
该专利属于静冈制机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过静冈制机株式会社授权不得商用。

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