自动光学检验设备问题点二次校验方法技术

技术编号:20004824 阅读:36 留言:0更新日期:2019-01-05 17:36
本发明专利技术公开了一种自动光学检验设备问题点二次校验方法。步骤S1:输入问题点,并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点。步骤S2:针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理。步骤S3:针对步骤S2中的屏幕打印的图像,根据预置的比对原则判断上述图像是否已经完成修理。本发明专利技术公开的自动光学检验设备问题点二次校验方法,如果问题点判断为真点则在完成修理后增加二次校验过程,如果问题点判断为不是真点则进行屏幕打印以备查,最大限度地降低漏检率、错检率和误检率,杜绝故意对问题点不做处理和/或问题点修理不达标即放行的可能性。

Quadratic Verification Method for Problem Points of Automatic Optical Inspection Equipment

The invention discloses a secondary checking method for problem points of automatic optical inspection equipment. (1) Input the problem points, and judge whether the problem points of this input are true according to the preset principle of comparison. (2) Repair the problem points which are judged to be true in (2) or the problem points which are judged to be uncompleted in (2). (1) For the screen printed image in (2), according to the pre-set principle of comparison, whether the above image has been repaired or not is judged. The second checking method for the problem points of the automatic optical inspection equipment disclosed in the present invention adds a second checking process after completion of repair if the problem points are judged to be true. If the problem points are judged not to be true, screen printing is carried out for reference to minimize the rate of missed checking, false checking and false checking, thus eliminating deliberate failure to deal with the problem points and/or failure to repair the problem points. Possibility of doing so.

【技术实现步骤摘要】
自动光学检验设备问题点二次校验方法
本专利技术属于线路板生产
,具体涉及一种自动光学检验设备问题点二次校验方法。
技术介绍
在线路板生产
,为了保证出厂质量和产品品质,需要对线路板进行检查。目前,检查流程通常采取工作人员首先通过自动光学检验设备(AOI机器)辨识问题点,然后在检修站(VRS机器)上逐一确认、最后排除问题点。然而,上述人机结合的检查流程,问题点的初次辨识过程和修理后排除确认过程仍然需要人工判断。需要说明的是,人工操作必然存在一定的漏检率、错检率和误检率,甚至可能存在故意对问题点不做处理和/或问题点修理不达标即放行的可能性。目前的检查流程难以杜绝上述隐患。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的状况,克服上述缺陷,提供一种自动光学检验设备问题点二次校验方法。本专利技术采用以下技术方案,所述自动光学检验设备问题点二次校验方法包括以下步骤:步骤S1:输入问题点,并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点,如果判断为真则执行步骤S2,否则进行屏幕打印并且重复执行步骤S1;步骤S2:针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理,并本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动光学检验设备问题点二次校验方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:输入问题点,并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点,如果判断为真则执行步骤S2,否则进行屏幕打印并且重复执行步骤S1;步骤S2:针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理,并且对于完成修理的问题点进行屏幕打印;步骤S3:针对步骤S2中的屏幕打印的图像,根据预置的比对原则判断上述图像是否已经完成修理,如果判断为真则执行步骤S1,否则执行步骤S2。

【技术特征摘要】
1.一种自动光学检验设备问题点二次校验方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:输入问题点,并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点,如果判断为真则执行步骤S2,否则进行屏幕打印并且重复执行步骤S1;步骤S2:针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理,并且对于完成修理的问题点进行屏幕打印;步骤S3:针对步骤S2中的屏幕打印的图像,根据预置的比对原则判断上述图像是否已经完成修理,如果判断为真则执行步骤S1,否则执行步骤S2。2.根据权利要求1所述的自动光学检验设备问题点二次校验方法,其特征在于,所述步骤S1中,输入问题点由自动光学检查设备执行。3.根据权利要求2所述的自动光学检验设备问题点二次校验方法,其特征在于,所述步骤S2中,修理问题点由检修站执行。4.根据权利要求3所述的自动光学检验设备问题点二次校验方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:邱锡曼刘宝勇芦保民李志雄陈晓宁李兵李升强张志平白克容
申请(专利权)人:诚亿电子嘉兴有限公司
类型:发明
国别省市:浙江,33

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