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本发明公开了一种自动光学检验设备问题点二次校验方法。步骤S1：输入问题点，并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点。步骤S2：针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理。步骤S3：针对步骤S2中...
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