LED芯片支架故障自动检测方法和装置制造方法及图纸

本申请公开了一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置。其中，该方法包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的分值用于表征待检测LED芯片支架的故障级别。本申请解决了现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
LED芯片支架故障自动检测方法和装置
本申请涉及产品检测领域，具体而言，涉及一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置。
技术介绍
为了提高产品质量，在将LED芯片封装成灯珠之前，制造商通常都需要对LED芯片支架进行严格筛选，剔除有严重缺陷，如表面沾污、断线和有多余连接的LED芯片支架。传统对LED芯片支架的筛选过程是将其放在显微镜下通过人眼进行识别并剔除肉眼可见的明显不合格产品，需要耗费大量的人力成本并且无法保证筛选质量的稳定，严重影响企业的工作效率和经济利益。针对上述现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种LED芯片支架故障自动检测方法和装置，以至少解决现有技术采用显微镜依赖人眼识别LED芯片支架的质量好坏的方式导致成本高、效率低的技术问题。根据本申请实施例的一个方面，提供了一种LED芯片支架故障自动检测方法，包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到待检测LED芯片支架对应的分值，其中，待检测LED芯片支架对应的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED芯片支架故障自动检测方法，其特征在于，包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对所述待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到所述待检测LED芯片支架对应的分值，其中，所述待检测LED芯片支架对应的分值用于表征所述待检测LED芯片支架的故障级别。

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片支架故障自动检测方法，其特征在于，包括：获取待检测LED芯片支架的图片；基于预先构建的打分器，对所述待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到所述待检测LED芯片支架对应的分值，其中，所述待检测LED芯片支架对应的分值用于表征所述待检测LED芯片支架的故障级别。2.根据权利要求1所述的LED芯片支架故障自动检测方法，其特征在于，所述打分器包括如下至少之一：自编码器、黄金模型和故障级别集合，其中，基于预先构建的打分器，对所述待检测LED芯片支架的图片的进行打分，得到所述待检测LED芯片支架对应的分值，包括：基于预先训练得到的自编码器，对所述待检测LED芯片支架的图片进行编码，得到所述待检测LED芯片支架对应的编码值，其中，所述自编码器的输入数据为LED芯片支架的图片，所述自编码器的输出数据为LED芯片支架对应的编码值；计算所述待检测LED芯片支架对应的编码值与黄金模型的差值，得到所述待检测LED芯片支架对应的故障特征向量；其中，所述黄金模型为所述自编码器对无故障LED芯片支架的图片进行编码后得到的基准值；基于预先构建的故障级别集合，根据所述待检测LED芯片支架对应的故障特征向量，查找所述待检测LED芯片支架所属的故障级别对应的分值。3.根据权利要求2所述的LED芯片支架故障自动检测方法，其特征在于，所述自编码器为基于神经网络的自编码器，其中，所述基于神经网络的自编码器采用梯度下降算法进行训练。4.根据权利要求2所述的LED芯片支架故障自动检测方法，其特征在于，所述自编码器为基于受限制玻尔兹曼机的自编码器，其中，所述基于受限制玻尔兹曼机的自编码器采用对比散度的方式训练。5.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：单书畅，别晓辉，别伟成，
申请(专利权)人：视睿杭州信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33