【技术实现步骤摘要】
一种用于激光击穿光谱的自吸收效应修正方法
本专利技术涉及一种用于激光击穿光谱的自吸收效应修正方法，属于等离子体发射光谱及光谱技术测量
技术介绍
等离子体的发射光谱是一种用于元素分析的重要方法。等离子体发出的光带有样品中元素的信息，对其光谱进行分析可以对样品成分进行定量分析，基于这个原理，许多发射光谱技术应运而生，例如激光击穿光谱(LIBS)等。近年来，LIBS技术由于具有高灵敏度、无需样品预处理和实现多元素测量等优点，在许多领域都获得了广泛的应用，然而其测量精度仍有待进一步提高。对等离子体光谱进行分析可以发现，在许多情况下，等离子体发射的光谱被其本身所吸收，导致等离子体光谱谱线强度变弱，谱线形状失真等，这被称为自吸收效应。自吸收效应来源于等离子中原子和光的相互作用，是不可避免必然存在的，然而其程度难以界定；自吸收效应会影响激光击穿光谱技术的测量精度，应予以修正。目前，在一些国际期刊上已有一些自吸收修正的方法的文献报道，然而这些方法都难以进行应用：有的方法只能对个别谱线进行修正，有的方法仅仅适用于个别样品。目前尚未有普遍适用的自吸收修正方法。
技术实现思路
本...
【技术保护点】
1.一种用于修正激光诱导击穿光谱中自吸收效应的方法，其特征在于包含以下步骤：1)对待测样品进行激光击穿光谱实验，记录激光击穿光谱实验得到的原始光谱数据P(λ)，设定变量F和T分别表示收光系统的收集效率参数和等离子体温度；2)根据F和T计算黑体辐射强度L(λ,F,T)，公式为：
【技术特征摘要】
1.一种用于修正激光诱导击穿光谱中自吸收效应的方法，其特征在于包含以下步骤：1)对待测样品进行激光击穿光谱实验，记录激光击穿光谱实验得到的原始光谱数据P(λ)，设定变量F和T分别表示收光系统的收集效率参数和等离子体温度；2)根据F和T计算黑体辐射强度L(λ,F,T)，公式为：其中，c为光速，h为普朗克常数，k为玻尔兹曼常数，λ为波长；3)根据黑体辐射强度L(λ,F,T)，计算初步修正后的光谱Q(λ,F,T)，公式为：4)选取待测样品中任一元素，根据Q(λ,F,T)使用谱线积分法...
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