一种适用于多种规格晶振的测试基板制造技术

本发明专利技术公开了一种适用于多种规格晶振的测试基板，包括供电插座，输出待测晶振的源信号的输出插座，与测试插板的测试插针对应电连接的测试插座，以及设置在所述测试基板背面的测试电路。其中测试插座分别与测试基板的三个测试插针组相对应，这些测试插座中的多个接线端与测试电路的中多个模块的输入输出端及控制端电连接，通过与测试插板上的测试插针组对应连接能够改变测试电路中这些接线端的连接控制关系，从而能够适应不同供电类型的测试插板。该测试基板为多种供电类型的测试插板提供一个统一的供电平台，便于多种规格晶振加电测试。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于多种规格晶振的测试基板
本专利技术属于晶振检测
，特别是涉及一种适用于多种规格晶振的测试基板。
技术介绍
晶振是晶体振荡器的简称，是指从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片(简称为晶片)，在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件，该产品一般用金属外壳封装，也有用玻璃壳、陶瓷或塑料封装的。因此，不同的晶振通常具有不同的规格，包括体积尺寸规格、供电电压规格等。当对不同供电类型的晶振加电测试时，需要将该晶振插接在一个对应的测试插板上，每一种供电类型的测试插板可以插接多种不同规格尺寸的晶振，但是当有多种供电类型的测试插板时，则需要一个公共的测试基板，以此提供一个统一的供电平台。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种对多种供电类型的测试插板进行适用的测试基板，解决这些测试插板共用同一个供电平台的问题。为解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案是提供一种适用于多种规格晶振的测试基板，包括设置在所述测试基板正面的用于接入外部直流电压的供电插座，输出待测晶振的源信号的输出插座，与测试插板的测试插针对应电连接的测试插座，以及设置在所述测试基板背面的测试电路；所述测试电路包括电源滤波模块，外部直流电压经过所述电源滤波模块后输出两路，其中第一路直通作为高电压通道，第二路经过串接的开关电源模块和LC储能电路作为低电压通道；所述测试插座包括具有双排12插孔的第一测试插座、双排10插孔的第二测试插座和双排4插孔的第三测试插座，所述测试插板对应包括双排12插针的第一测试插针组、双排10插孔的第二测试插针组和双排4插针的第三测试插针组；所述第一测试插座包括高电压输入端，与所述高电压通道的输出端电连接；低电压输入端，与所述低电压通道的输出端电连接；电压公共端，与连接线性电源模块的输入端电连接；通过所述测试插板上对应的第一测试插针组将所述高电压输入端与所述电压公共端电连接，或者将所述低电压输入端与所述电压公共端电连接；所述线性电源模块对输入的电压进行线性分压得到插接在所述测试插板上的待测晶振的供电电压。在本专利技术适用于多种规格晶振的测试基板的另一实施例中，所述外部直流电压为15V，所述电源滤波模块包括电源滤波芯片BNX025H01L，所述电源滤波芯片的输出端为经过稳压滤波的直流电压15V，所述电源滤波芯片的电源输入端通过电源开关与所述外部直流电压的正极相连，在所述外部直流电压两端还设置有防反接二极管，在所述电源输入端和输入接地端之间还串接有发光二极管和限流电阻，当所述电源开关闭合后，所述发光二极管点亮，表示所述外部直流电压已经接入，所述电源滤波芯片的输出端向后一级输出经过稳压滤波的直流电压，三个输出接地端共地。在本专利技术适用于多种规格晶振的测试基板的另一实施例中，所述第三测试插座的4个插孔包括开关电源控制端和对应的接地端，低压选择端和对应的接地端，通过所述测试插板上对应的第三测试插针组将所述开关电源控制端悬空或接地，将所述低压选择端悬空或接地；所述开关电源模块包括开关电源芯片TPS54327，所述开关电源芯片的VIN端与所述电源滤波芯片BNX025H01L的输出端电连接，EN端一方面连接所述开关电源控制端，另一方面还通过第一使能电阻与所述VIN端电连接，当开关电源控制端悬空时，所述EN端通过所述第一使能电阻得到使能信号而使得所述开关电源芯片TPS54327工作，当开关电源控制端与对应的接地端电连接时，则所述开关电源芯片TPS54327不工作；所述开关电源芯片TPS54327的VBST端通过电容与SW端电连接，所述SW端串接第一输出电感，所述第一输出电感的另一端输出开关电源输出电压；所述开关电源输出电压再进一步受到分压RC网络调控，所述分压RC网络包括连接所述开关电源输出电压的第一分压电阻，所述第一分压电阻的另一端连接所述开关电源芯片TPS54327的VFB端，在所述第一分压电阻的两端还并联有第一分压电容，所述VFB端还通过依次串接的第二分压电阻、第三分压电阻和第四分压电阻而接地，在所述第三分压电阻和第四分压电阻之间还与所述低压选择端电连接，并且在所述电源滤波芯片BNX025H01L输出电压为15V时，当所述低压选择端接地时，所述开关电源输出电压为6.6V，当所述低压选择端悬空时，所述开关电源输出电压为4.8V。在本专利技术适用于多种规格晶振的测试基板的另一实施例中，所述第一输出电感输出的所述开关电源输出电压输入到所述LC储能电路，所述LC储能电路包括4个并联的无极性电容以及与所述第一输出电感电连接的储能电感，所述无极性电容的一端均与所述第一输出电感和储能电感电连接，所述无极性电容的另一端均接地，所述储能电感的两端分别与2个极性电容的正极电连接，所述极性电容的负极均接地。在本专利技术适用于多种规格晶振的测试基板的另一实施例中，所述第二测试插座包括线性电源使能端和对应的接地端，第一分压控制端和对应的接地端，第二分压控制端和对应的接地端，通过所述测试插板对应的第二测试插针组将所述线性电源使能端悬空或接地，将所述第一分压控制端悬空或接地，将所述第二分压控制端悬空或接地；所述线性电源模块包括线性电源芯片LM1085，所述线性电源芯片的IN端与所述第一测试插座的所述电压公共端电连接，ADJ端连接一个三极管的集电极，所述三极管的发射极接地，基极连接第一使能电阻，第一使能电阻的另一端连接第二使能电阻，第二使能电阻的另一端也与所述第一测试插座的所述电压公共端电连接，在所述第一使能电阻和第二使能电阻之间与所述线性电源使能端电连接；当所述线性电源使能端悬空时，所述三极管导通，所述芯片LM1085的ADJ端接地，对应的OUT端为参考电压输出；当所述线性电源使能端接地时，所述三极管截止，所述芯片LM1085的ADJ端不接地，对应的OUT端输出可控电阻网络的分压值；所述可控电阻网络包括所述ADJ端与所述OUT端之间第一线性分压电阻，以及所述ADJ端与所述接地端之间串联有第二线性分压电阻、第三线性分压电阻、第四线性分压电阻、第五线性分压电阻、第六线性分压电阻，并且在所述第三线性分压电阻和第四线性分压电阻之间与所述第一分压控制端电连接，在所述第五线性分压电阻和第六线性分压电阻之间与所述第二分压控制端电连接；当所述线性电源芯片的IN端接入15V时，所述第一分压控制端和第二分压控制端均悬空，所述OUT端输出12V电压；当所述线性电源芯片的IN端接入6.6V时，所述第一分压控制端悬空，第二分压控制端接地，所述OUT端输出5V电压；当所述线性电源芯片的IN端接入4.8V时，所述第一分压控制端接地，第二分压控制端悬空，所述OUT端输出3.3V电压。在本专利技术适用于多种规格晶振的测试基板的另一实施例中，所述第二测试插座包括源信号接入端和对应的接地端，通过所述测试插板对应的第二测试插针组将所述源信号接入端与插接在所述测试插板上的待测晶振的信号输出引脚电连接或者接地；所述供电测试电路还包括对待测晶振输出的源信号进行缓冲的缓冲输出模块，所述缓冲输出模块包括芯片BUF602ID和稳压芯片78L10，所述稳压78L10的输入端与所述电源滤波芯片BNX025H01L的输出端电连接，所述稳压78L10的输出端向所述芯片BUF602ID的电源端输入10V直流电压，所述芯片BUF6本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于多种规格晶振的测试基板，其特征在于，所述测试基板包括设置在所述测试基板正面的用于接入外部直流电压的供电插座，输出待测晶振的源信号的输出插座，与测试插板的测试插针对应电连接的测试插座，以及设置在所述测试基板背面的测试电路；所述测试电路包括电源滤波模块，外部直流电压经过所述电源滤波模块后输出两路，其中第一路直通作为高电压通道，第二路经过串接的开关电源模块和LC储能电路作为低电压通道；所述测试插座包括具有双排12插孔的第一测试插座、双排10插孔的第二测试插座和双排4插孔的第三测试插座，所述测试插板对应包括双排12插针的第一测试插针组、双排10插针的第二测试插针组和双排4插针的第三测试插针组；所述第一测试插座包括高电压输入端，与所述高电压通道的输出端电连接；低电压输入端，与所述低电压通道的输出端电连接；电压公共端，与连接线性电源模块的输入端电连接；通过所述测试插板上对应的第一测试插针组将所述高电压输入端与所述电压公共端电连接，或者将所述低电压输入端与所述电压公共端电连接；所述线性电源模块对输入的电压进行线性分压得到插接在所述测试插板上的待测晶振的供电电压。

【技术特征摘要】
1.一种适用于多种规格晶振的测试基板，其特征在于，所述测试基板包括设置在所述测试基板正面的用于接入外部直流电压的供电插座，输出待测晶振的源信号的输出插座，与测试插板的测试插针对应电连接的测试插座，以及设置在所述测试基板背面的测试电路；所述测试电路包括电源滤波模块，外部直流电压经过所述电源滤波模块后输出两路，其中第一路直通作为高电压通道，第二路经过串接的开关电源模块和LC储能电路作为低电压通道；所述测试插座包括具有双排12插孔的第一测试插座、双排10插孔的第二测试插座和双排4插孔的第三测试插座，所述测试插板对应包括双排12插针的第一测试插针组、双排10插针的第二测试插针组和双排4插针的第三测试插针组；所述第一测试插座包括高电压输入端，与所述高电压通道的输出端电连接；低电压输入端，与所述低电压通道的输出端电连接；电压公共端，与连接线性电源模块的输入端电连接；通过所述测试插板上对应的第一测试插针组将所述高电压输入端与所述电压公共端电连接，或者将所述低电压输入端与所述电压公共端电连接；所述线性电源模块对输入的电压进行线性分压得到插接在所述测试插板上的待测晶振的供电电压。2.根据权利要求1所述的适用于多种规格晶振的测试基板，其特征在于，所述外部直流电压为15V，所述电源滤波模块包括电源滤波芯片BNX025H01L，所述电源滤波芯片的输出端为经过稳压滤波的直流电压15V，所述电源滤波芯片的电源输入端通过电源开关与所述外部直流电压的正极相连，在所述外部直流电压两端还设置有防反接二极管，在所述电源输入端和输入接地端之间还串接有发光二极管和限流电阻，当所述电源开关闭合后，所述发光二极管点亮，表示所述外部直流电压已经接入，所述电源滤波芯片的输出端向后一级输出经过滤波的直流电压，三个输出接地端共地。3.根据权利要求2所述的适用于多种规格晶振的测试基板，其特征在于，所述第三测试插座的4个插孔包括开关电源控制端和对应的接地端，低压选择端和对应的接地端，通过所述测试插板上对应的第三测试插针组将所述开关电源控制端悬空或接地，将所述低压选择端悬空或接地；所述开关电源模块包括开关电源芯片TPS54327，所述开关电源芯片的VIN端与所述电源滤波芯片BNX025H01L的输出端电连接，EN端一方面连接所述开关电源控制端，另一方面还通过第一使能电阻与所述VIN端电连接，当开关电源控制端悬空时，所述EN端通过所述第一使能电阻得到使能信号而使得所述开关电源芯片TPS54327工作，当开关电源控制端与对应的接地端电连接时，则所述开关电源芯片TPS54327不工作；所述开关电源芯片TPS54327的VBST端通过电容与SW端电连接，所述SW端串接第一输出电感，所述第一输出电感的另一端输出开关电源输出电压；所述开关电源输出电压再进一步受到分压RC网络调控，所述分压RC网络包括连接所述开关电源输出电压的第一分压电阻，所述第一分压电阻的另一端连接所述开关电源芯片TPS54327的VFB端，在所述第一分压电阻的两端还并联有第一分压电容，所述VFB端还通过依次串接的第二分压电阻、第三分压电阻和第四分压电阻而接地，在所述第三分压电阻和第四分压电阻之间还与所述低压选择端电连接，并且在所述电源滤波芯片BNX025H01L输出电压为15V时，当所述低压选择端接地时，所述开关电源输出电压为6.6V，当所述低压选择端悬空时，所述开关电源输出电压为4.8V。4.根据权利要求3所述的适用于多种规格晶振的测试基板，其特征在于，所述第一输出电感输出的所述开关电源输出电压输入到所述LC储能电路，所述LC储能电路包括4个...

【专利技术属性】
技术研发人员：张北江，赵陆文，徐萍，
申请(专利权)人：南京尤尼泰信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32