一种振镜和基于恒定分辨率的振镜控制方法技术

本发明专利技术提出一种振镜和基于恒定分辨率的振镜控制方法,所述振镜包括：反射镜，用于反射由发光体发射出的光束；第一轴，其工作频率为第一频率；第二轴，其工作频率为第二频率，第二频率大于第一频率，第一轴、第二轴带动振镜的反射镜偏转，第二轴的转动轴线与第一轴的转动轴线垂直；设置第一频率的的取值整数倍为参考值，当第二轴的固有频率的取值与参考值之间的差值小于第一频率的取值，第二频率的取值为参考值，用于第二轴转动的驱动电压提高；或者，第二频率的取值为第二轴的固有频率的取值，用于向所述反射镜发射光束的发光体改变工作状态。

【技术实现步骤摘要】
一种振镜和基于恒定分辨率的振镜控制方法
本专利技术属于光学检测领域，具体涉及一种振镜和基于恒定分辨率的振镜控制方法。
技术介绍
为了实现快速、准确检测的目的，将振镜置于光路中使用，利用振镜对发光体发出的光束进行反射，主动去投射结构光到被测物体上，通过结构光的变形(或者飞行时间等)来确定被测物的尺寸参数，实现扫描检测的准确性和高效性。然而，现有的振镜受环境影响频率会发生相应的变化，频率的变化会影响得到的图像显示、会降低检测的准确度、会影响对检测对象的有效判断。
技术实现思路
为了解决现有技术中存在的技术问题，本专利技术提出一种振镜，包括：反射镜，用于反射由发光体发射出的光束；第一轴，所述第一轴的工作频率为第一频率，所述第一轴带动所述振镜的反射镜偏转；第二轴，所述第二轴的工作频率为第二频率，所述第二频率大于所述第一频率，所述第二轴带动所述振镜的反射镜偏转，所述第二轴的转动轴线与所述第一轴的转动轴线垂直；设置所述第一频率的取值的整数倍为参考值，当第二轴的固有频率的取值与所述参考值之间的差值小于所述第一频率的取值，所述第二频率的取值为所述参考值，用于所述第二轴转动的驱动电压提高；或者，所述第二频本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种振镜，其特征在于，包括：反射镜，用于反射由发光体发射出的光束；第一轴，所述第一轴的工作频率为第一频率，所述第一轴带动所述振镜的反射镜偏转；第二轴，所述第二轴的工作频率为第二频率，所述第二频率大于所述第一频率，所述第二轴带动所述振镜的反射镜偏转，所述第二轴的转动轴线与所述第一轴的转动轴线垂直；设置所述第一频率的取值的整数倍为参考值，当第二轴的固有频率的取值与所述参考值之间的差值小于所述第一频率的取值，所述第二频率的取值为所述参考值，用于所述第二轴转动的驱动电压提高；或者，所述第二频率的取值为第二轴的固有频率的取值，用于向所述反射镜发射光束的所述发光体改变工作状态。

【技术特征摘要】
1.一种振镜，其特征在于，包括：反射镜，用于反射由发光体发射出的光束；第一轴，所述第一轴的工作频率为第一频率，所述第一轴带动所述振镜的反射镜偏转；第二轴，所述第二轴的工作频率为第二频率，所述第二频率大于所述第一频率，所述第二轴带动所述振镜的反射镜偏转，所述第二轴的转动轴线与所述第一轴的转动轴线垂直；设置所述第一频率的取值的整数倍为参考值，当第二轴的固有频率的取值与所述参考值之间的差值小于所述第一频率的取值，所述第二频率的取值为所述参考值，用于所述第二轴转动的驱动电压提高；或者，所述第二频率的取值为第二轴的固有频率的取值，用于向所述反射镜发射光束的所述发光体改变工作状态。2.根据权利要求1所述的振镜，其特征在于，第一频率为f1、第二轴的工作频率的理想值为f0，所述参考值为f0+Nf1；当第二轴的固有频率为f0+Nf1+X1时，所述第二频率为f0+Nf1，用于所述第二轴转动的驱动电压提高；其中，f0为f1的整数倍，N大于等于0、N为整数，X1的绝对值小于f1。3.根据权利要求1所述的振镜，其特征在于，第一频率为f1、第二轴的工作频率的理想值为f0，当第二轴的固有频率为f0+Nf1+X2时，所述第二频率为f0+Nf1+X2，当f0为f1的L倍，用于向所述反射镜发射N线光束的发光体停止工作，所述反射镜反射的光束的线数为L；其中，f0为f1的整数倍，N大于等于0、N为整数，X2大于0，X2小于f1。4.根据权利要求2-3任一所述的振镜，其特征在于，所述振镜随着所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶良琛，向少卿，
申请(专利权)人：上海禾赛光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31