一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板技术

本申请公开了一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板，该方法包括将从阵列基板的测试端子中引出的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接；将另一条测试信号线连接另一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；返回断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接的步骤，直至测试完成。通过上述方式，本申请能够利用少于驱动信号线数量的测试端子完成驱动电路的测试，节省了测试端子和生产成本。

A Test Method and Display Panel for Driving Circuit of Array Substrate

This application discloses a test method and a display panel for an array substrate driver circuit, which includes connecting one of the test signal lines from the test terminal of the array substrate to a drive signal line to test the input signal of the test terminal, disconnecting the recently tested test signal line and drive. Connection of signal line; Connecting another test signal line to another drive signal line to test the input signal of the test terminal; Returning to the step of disconnecting the recently tested test signal line from the drive signal line until the test is completed. In the above way, the application can complete the test of the driving circuit by using test terminals less than the number of driving signal lines, thus saving the test terminals and production costs.

【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板
本申请涉及显示
，具体涉及一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板。
技术介绍
目前阵列栅极驱动(Gate-driverOnArray，GOA)技术已经被广泛用于显示面板中，GOA技术可以节省栅极集成电路的成本，也能够缩减显示面板边框的宽度，对现在流行的窄边框设计非常有利，GOA是未来显示面板设计的一个重要技术。本申请的专利技术人在长期研发中发现，现有GOA产品实现扫描信号的输出需要多组信号和电路共同完成；由于扫描信号的输出需要多组GOA信号，从而使得阵列基板制程中的检测制程需要增加多个测试端子来给显示面板提供输入信号以便进行检测；但是随着对产品的要求越来越高，GOA信号逐渐增多，使得阵列基板测试需要设计多组测试端子，机台测试治具的引脚增加，从而大大增加阵列基板测试治具的成本。
技术实现思路
本申请主要解决的问题是提供一种阵列基板驱动电路的测试方法及显示面板，能够利用少于驱动信号线数量的测试端子完成驱动电路的测试，节省了测试端子和生产成本。为解决上述技术问题，本申请采用的技术方案是提供一种阵列基板驱动电路的测试方法，该方法包括：将从阵列基板的测试端子中引出的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接；将另一条测试信号线连接另一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试；返回断开最近测试完的测试信号线与驱动信号线的连接的步骤，直至测试完成。为解决上述技术问题，本申请采用的另一技术方案是提供一种显示面板，该显示面板包括：基板、像素电路、若干驱动信号线和若干测试信号线；像素电路位于基板一侧显示区域；驱动信号线位于与像素电路同侧的基板上，且自基板外围的非显示区域延伸至显示区域，驱动信号线与像素电路连接；测试信号线位于与像素电路同侧的基板上，每条测试信号线被设计为与一条驱动信号线连接以对像素电路进行测试；其中，至少有一条测试信号线与驱动信号线之间的连接结构为焊接结构，和/或至少有一条测试信号线与驱动信号线之间存在烧断或割断结构。通过上述方案，本申请的有益效果是：本申请中阵列基板的测试端子与多条测试信号线连接，首先将与测试端子连接的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，利用外部测试探针对测试端子输入信号以进行测试；然后重复执行：将最近测试完的测试信号线与驱动信号线之间的连接断开，并将另一条测试信号线连接另一条驱动信号线，对测试端子输入信号以进行测试的操作，直至测试完成；通过利用少于驱动信号线数量的测试端子完成了驱动电路的测试，节省了测试端子和生产成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：图1是现有技术中信号线和测试端子的连接示意图；图2是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第一实施例的流程示意图；图3是图2中步骤21对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；图4是图2中步骤22和步骤23对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；图5是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第二实施例的流程示意图；图6是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第二实施例中进行高垂直排列固化制程时驱动信号线和测试端子的连接示意图；图7是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第二实施例中高垂直排列固化制程完成后驱动信号线和测试端子的连接示意图；图8是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第三实施例的流程示意图；图9是图8中步骤81对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；图10是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第三实施例中驱动信号时序图；图11是图8中步骤82和步骤83对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；图12是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第四实施例的流程示意图；图13是图12中步骤121对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；图14是图12中步骤122和步骤123对应的驱动信号线和测试端子的连接示意图；图15是本申请提供的显示面板的一实施例的结构示意图；图16是本申请提供的显示面板的一实施例中显示面板的另一结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。如图1所示，现有产品阵列基板测试的信号主要包括数据信号(Blue、Green和Red)、GOA信号和公共信号(ACOM和CFCOM)；GOA信号主要包括多组高频的时钟信号；VSS为低电位的直流信号，LC1和LC2是一组低频交流信号，它们为输入源信号，在GOA电路的作用下实现扫描信号的输出；为了提高栅极的充电能力，增大栅极的续传能力，时钟信号逐渐增加，由2CK变成4CK(Clock，时钟)、6CK、8CK或12CK等，导致阵列基板测试端子的数目逐渐增加；以6CK为例，测试端子至少为16个，这就要求阵列基板的测试治具数目增加，大大增加了成本。参阅图2和图3，图2是本申请提供的阵列基板驱动电路的测试方法第一实施例的流程示意图，该方法包括：步骤21：将从阵列基板的测试端子31中引出的多条测试信号线32中的一条连接一条驱动信号线33，对测试端子31输入信号以进行测试。驱动信号线33可以为时钟信号线，驱动电路可以为GOA电路34；如图3所示，时钟信号线有四条(CK1、CK2、CK3和CK4)，为了节省测试端子31，将多条测试信号线32连接在同一测试端子31上，在进行测试时，将测试信号线32中的其中一条与驱动信号线33(CK1)连接。驱动信号线33连接GOA电路34，外部治具探针35与测试端子31连接以向GOA电路34输入所需信号，使得GOA电路34中的输出扫描信号，以将显示面板点亮，并通过分析显示面板的画面检测出不良位置。步骤22：断开最近测试完的测试信号线32与驱动信号线33的连接。由于多条测试信号线32连接在同一测试端子31上，在测试另一条驱动信号线33连接的GOA电路34是否正常工作时，需要先将最近测试完的测试信号线32与驱动信号线33的连接断开，以避免重复测试。步骤23：将另一条测试信号线32连接另一条驱动信号线33，对测试端子31输入信号以进行测试。在将最近测试完的测试信号线32与驱动信号线33之间的连接断开之后，如图4所示，将另一条测试信号线32连接另一条驱动信号线33(CK2)，然后利用外部治具探针35对测试端子31输入信号以进行测试。步骤24：返回断开最近测试完的测试信号线32与驱动信号线33的连接的步骤，直至测试完成。为了完成对所有GOA电路34的测试，重复执行步骤22和步骤23，直至测试完成。区别于现有技术，本实施例提供了一种阵列基板驱动电路的测试方法，阵列基板的测试端子31与多条测试信号线32连接，首先将与测试端子31连接的多条测试信号线32中的一条连接一条驱动信号线33，利用外部测试探针3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，包括：将从阵列基板的测试端子中引出的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，对所述测试端子输入信号以进行测试；断开最近测试完的所述测试信号线与所述驱动信号线的连接；将另一条所述测试信号线连接另一条驱动信号线，对所述测试端子输入信号以进行测试；返回所述断开最近测试完的所述测试信号线与所述驱动信号线的连接的步骤，直至测试完成。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，包括：将从阵列基板的测试端子中引出的多条测试信号线中的一条连接一条驱动信号线，对所述测试端子输入信号以进行测试；断开最近测试完的所述测试信号线与所述驱动信号线的连接；将另一条所述测试信号线连接另一条驱动信号线，对所述测试端子输入信号以进行测试；返回所述断开最近测试完的所述测试信号线与所述驱动信号线的连接的步骤，直至测试完成。2.根据权利要求1所述的阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，所述测试端子的数量为至少为2，所述测试信号线的数量等于所述驱动信号线的数量。3.根据权利要求2所述的阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，所述方法包括：将所述第一测试端子中引出的第一测试信号线连接第一驱动信号线，并将所述第二测试端子中引出的第四测试信号线连接第四驱动信号线，分别对所述第一测试端子和所述第二测试端子输入信号以进行测试；断开测试完的所述第一测试信号线与所述第一驱动信号线的连接，并断开测试完的所述第四测试信号线与所述第四驱动信号线的连接；将所述第一测试端子中引出的第二测试信号线连接第二驱动信号线，并将所述第二测试端子中引出的第五测试信号线连接第五驱动信号线，分别对所述第一测试端子和所述第二测试端子输入信号以进行测试；断开测试完的所述第二测试信号线与所述第二驱动信号线的连接，并断开测试完的所述第五测试信号线与所述第五驱动信号线的连接；重复上述步骤，直至测试完所有驱动信号线。4.根据权利要求3所述的阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，输入所述第一测试端子的信号与输入所述第二测试端子的信号电位相反。5.根据权利要求1所述的阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，所述测试信号线上设置有电路断点，所述电路断点上预设有焊接点位，通过焊接所述电路断点上的所述焊接点位将所述测试信号线和所述驱动信号线连接。6.根据权利要求5所述的阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，利用激光焊接所述焊接点位，以使得所述驱动信号线和所述测试信号线连接。7.根据权利要求1所述的阵列基板驱动电路的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在测试完成后，将从所...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋乔乔，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44