隧穿场效应晶体管及其制备方法技术

技术编号:19398007 阅读:35 留言:0更新日期:2018-11-10 05:20
一种隧穿场效应晶体管及其制备方法,包括:衬底层(1);形成于衬底层上表面的矩形半导体条(2),矩形半导体条沿第一方向依次设置有第一源区(201)、第一沟道区(204)、漏区(203)、第二沟道区(205)及第二源区(202);覆盖于第一源区的第一部分(2011)和第二源区的第三部分(2021)外表面的第一栅电介质层(301)和第二栅电介质层(302);覆盖于第一栅电介质层外表面的第一栅区(401),第一栅区所加电场方向指向第一源区;覆盖于第二栅电介质层外表面的第二栅区(402),第二栅区所加电场方向指向第二源区。采用双源区的设计,增加了源区载流子的隧穿面积,且栅区所加电场方向与源区载流子的隧穿方向一致,增加了隧穿几率,而隧穿电流与隧穿面积和隧穿几率成正比,因此,隧穿电流较大。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请,说明书已公开。

【技术保护点】
PCT国内申请,权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请,...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵静张臣雄
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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