用于检查照明装置的包含至少两个LED的模块的方法和ICT装置制造方法及图纸

一种用于检查照明装置的包含至少两个LED（2‑1...2‑4）的LED模块（1）的方法，其中选择模块（1）的LED中的至少一对LED（2‑1、2‑2；2‑3、2‑4），所述对的两个LED相互光学连接、优选地通过光导体（7‑1、7‑2）相互光学连接，所述对的两个LED中的一个LED（2‑2；2‑4）与至少一个电流源（11‑1；11‑2）连接而所述两个LED中的另一个LED（2‑1；2‑3）与至少一个电测量装置（12‑1；12‑2）连接，以预先给定的电流强度给所述两个LED中的所述一个LED通电，而且在所述两个LED中的所述另一个LED中产生的物理变化被测量，然后交换在所述对的两个LED上的通电和测量，并且如果在至少一次测量的情况下借助于所述测量装置所确定的值在可规定的范围之外，则将所述模块标识为损坏。在用于执行该方法的ICT装置中，ICT适配装置（5）具有至少一个光波导（7），用于每两个LED（2‑1、2‑2；2‑3、2‑4）的光学连接。

Method and ICT device for inspecting lighting device including at least two LED modules

A method for inspecting an LED module (1) comprising at least two LEDs (2 1 2 4) of a lighting device, in which at least one pair of LEDs (2 1, 2 2; 2 3, 2 4) of the selected LED module (1) are optically connected to each other, preferably through optical conductors (7 1, 7 2). An LED (2_2;2_4) of the two pairs of LEDs is connected with at least one current source (11_1;11_2) and another LED (2_1;2_3) of the two LEDs is connected with at least one electrical measuring device (12_1;12_2) to electrify one of the two LEDs at a predetermined current intensity. Moreover, the physical changes generated in the other LED in the two LEDs are measured, then the electrification and measurement on the two LEDs are exchanged, and the module is identified as damaged if the values determined by the measuring device are beyond the prescribed range with the aid of the measuring device at least once. . In the ICT device for executing the method, the ICT adapter (5) has at least one optical waveguide (7) for optical connection of each two LEDs (2 1, 2 2; 2 3, 2 4).

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于检查照明装置的包含至少两个LED的模块的方法和ICT装置
本专利技术涉及一种用于检查照明装置的包含至少两个LED的LED模块的方法。本专利技术同样涉及一种用于借助于按照本专利技术的方法检查照明装置的包含至少两个LED的模块的ICT装置，所述ICT装置具有ICT适配装置，所述ICT适配装置具有至少一个电流源并且具有至少一个电测量装置，其中所述ICT适配装置具有接触装置，用于与LED的测量点和/或焊点接触。
技术介绍
LED光模块、特别是在汽车领域的LED光模块在它们投入使用之前必须受到对功能性的诊断。这意味着：在给印刷电路板配备LED以及必要时其它构件之后进行功能检查时必须进行询问，根据所述询问得知在光模块中的各个LED的状态。在很多情况下，各个光模块都由多个布置成支路的LED组成。根据现有技术，对这种LED支路的诊断通过电流-电压测量来实现。如果所测量的电压升高得超过确定的极限值或下降得低于确定的极限值，那么对误操作进行诊断并且执行必要的措施；例如将相对应的模块表征为次品。然而，这样的仅仅基于对LED的电参数的测量的诊断测量只是反映出电功能能力。如果在光模块的光学范围内应该会出现故障，那么该故障不能别诊断，而且与此相应地，损坏的模块也不能被挑出或被标记为损坏。根据现有技术的诊断可能性是在制造之后在ICT（in-Circuit-Test（在线测试））中或在EOL（End-of-Line（下线））测试中对LED的光学检查，所述现有技术对光模块的实际的光学功能进行评价。在此，或者用连接到外部光电探测器上的玻璃纤维模块或者用基于摄像机的系统来进行工作。这些系统的缺点在于高的购置成本和只是有限的诊断可能性，因为通常在这些系统中只执行通过/不通过检查。
技术实现思路
本专利技术的任务在于建立一种方法，该方法成本有利地允许对LED光模块的LED的可靠的检查。本专利技术的任务同样在于：提供一种适合于执行相对应的方法的ICT装置，所述ICT装置可以在花费不高的情况下被制造。为了解决所提到的任务，本专利技术规定一种开头提到的类型的方法，其中按照本专利技术选择模块的LED中的至少一对LED，该对的两个LED通过光波导相互光学连接，该对的两个LED中的一个LED与至少一个电流源连接而这两个LED中的另一个LED与至少一个电测量装置连接，以预先给定的电流强度给这两个LED中的所述一个LED通电而在这两个LED中的所述另一个LED中产生的物理变化被测量，然后交换在该对的两个LED上的通电和测量，并且如果在至少一次测量的情况下借助于该测量装置所确定的值在可规定的范围之外，则将该模块标识为损坏。本专利技术的一个适宜的构造方案的特点在于：在具有超过两个LED的LED模块中，将这些方法步骤应用到LED的全部可能的对上。也可以有利地规定：在具有超过一对LED的LED模块中，两个或更多个光波导被用于使每两个LED光学连接。此外，特别适宜的是：为了使布置在印刷电路板上的LED与所述至少一个电流源并且与所述至少一个测量装置连接，使用ICT适配器，以便与LED的测量点和/或焊点接触并且以便通过光波导建立光学连接。本专利技术的另一值得推荐的构造方案规定：使光波导的两个端部对中地到达LED的至少一对的两个LED的光电有源区域的附近。特别有利的是，借助于测量装置来测量电流和/或电压。该任务也利用上面提到的类型的ICT装置来解决，在所述ICT装置中，ICT适配装置具有至少一个光波导，用于每两个LED的光学连接。在此有利的是，所述至少一个光波导被构造为光纤电缆。另一值得推荐的变型方案规定：所述至少一个光波导被构造为传导光的Ｕ形棒。也可以是适宜的是：针对位于印刷电路板上的LED设置两个或者更多个光波导。一个特别值得推荐的构造方案规定：该测量装置是电流/电压测量装置。附图说明在下文，本专利技术连同其它优点例如依据实施方案进一步予以阐述，所述实施方式在附图中阐明。在所述附图中：图1以透视图示出了LED模块连同印刷电路板和根据本专利技术的ICT测量装置的处在该印刷电路板上方的ICT适配器；图2示出了如图1那样然而具有下降到印刷电路板上并且接触到印刷电路板上的ICT适配器的图示；图3以示意性电路图示出了对四个串联的LED的检查；图4至6或图4a至6a各以侧视图或以俯视图示出了对具有四个LED的模块进行检查的三个步骤。具体实施方式图1示出了LED模块1，所述LED模块1在该示例中具有四个LED2-1、2-2、2-3和2-4，所述四个LED2-1、2-2、2-3和2-4布置在印刷电路板3上并且通过印制导线4相互连接，其中这些LED通常并且如这里示出的那样串联。这种LED模块尤其可以在车辆头灯中投入使用。如在更上面已经阐述的那样，LED模块必须在使用之前有关功能正确被检查。所谓的ICT（InCircuitTest（在线测试））或相对应的具有适当的适配装置的LCT装置用于此，在图1中示出了所述适配装置中的适合于执行根据本专利技术的方法的ICT适配器5。作为示例来示出的ICT适配器5这里具有五根测针6-1至6-5以及两个U形光导体7-1、7-2，所述两个U形光导体7-1、7-2具有在图中指向下的、用于光射入或光射出的大多平的端面。测针6-1至6-5和光导体7-1、7-2固定在示意性示出的载体8上并且被布置为使得：如果ICT适配器5与LED模块1发生接触，则借助于光导体7-1、7-2可以使每两个LED2-1、2-2或2-3、2-4相互光学连接，对此参阅图2的图示。在所述接触位置，测针6-1至6-5作用于印制导线4的测量点9-1至9-5上。为了保证所希望的电接触，测量点必须没有在任何情况下都存在的阻焊漆。测针6-1至6-5当然由导电材料组成并且以在更下面描述的方式与至少一个电流源连接并且与至少一个电测量装置连接。为了检查LED模块1，ICT适配器5以确定的力被压向模块1，所述力足以确保可靠的电接触。在此，U形光导体7-1、7-2的端面虽然不一定必须与LED发生物理接触，但是所述U形光导体7-1、7-2的端面应该对中地到达这些LED的光电有源区域的附近。现在参考图3进一步被阐述的是：为了实施按照本专利技术的方法，从LED模块1与ICT适配器的接触位置出发，分别将两个通过光导体光学连接的LED中的一个用作光源而将第二个用作光电探测器。通过测针6-1至6-5来进行供电以及测量。本专利技术基于如下思路：光通路、在所示出的示例下是U形光导体，布置在各个LED之间，用于在功能测试期间将光从一个LED引入到另一LED。在此，一个LED用作光源，而在另一LED上，如在光电二极管中那样出现与光电流成比例的电压。因此，LED沿正向运行并且在半导体的PN结中产生光子。另一方面，在没有主动被通电的另一LED中，将射到PN结上的光子转化成电能。在图3中示出了一个模块、例如图1和2的模块1的四个LED2-1、2-2、2-3和2-4的串联电路，其中示意性地示出了一方面在LED2-1与2-2之间而另一方面在LED2-3与2-4之间放置的光导体7-1和7-2。通过测针、测量点和印制导线，LED的接线端子可以与示意性地绘制的检查装置10暂时连接，其中该检查装置10也具有未示出的开关装置，以便使相对应地选择的LED也与至少一个电测量装置连接。检查装置10通常本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于检查照明装置的包含至少两个LED（2‑1...2‑4）的LED模块（1）的方法，其特征在于，选择模块（1）的LED中的至少一对LED（2‑1、2‑2；2‑3、2‑4），所述对的两个LED相互光学连接，所述对的两个LED中的一个LED（2‑2；2‑4）与至少一个电流源（11‑1；11‑2）连接而所述两个LED中的另一个LED（2‑1；2‑3）与至少一个电测量装置（12‑1；12‑2）连接，以预先给定的电流强度给所述两个LED 中的所述一个LED通电，而且在所述两个LED 中的所述另一个LED中产生的物理变化被测量，然后交换在所述对的两个LED上的通电和测量，并且如果在至少一次测量的情况下借助于所述测量装置所确定的值在可规定的范围之外，则将所述模块标识为损坏。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.11 AT A50087/20161.用于检查照明装置的包含至少两个LED（2-1...2-4）的LED模块（1）的方法，其特征在于，选择模块（1）的LED中的至少一对LED（2-1、2-2；2-3、2-4），所述对的两个LED相互光学连接，所述对的两个LED中的一个LED（2-2；2-4）与至少一个电流源（11-1；11-2）连接而所述两个LED中的另一个LED（2-1；2-3）与至少一个电测量装置（12-1；12-2）连接，以预先给定的电流强度给所述两个LED中的所述一个LED通电，而且在所述两个LED中的所述另一个LED中产生的物理变化被测量，然后交换在所述对的两个LED上的通电和测量，并且如果在至少一次测量的情况下借助于所述测量装置所确定的值在可规定的范围之外，则将所述模块标识为损坏。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，一对LED的两个LED（2-1；2-2）通过光波导（7-1；7-2）相互连接。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在具有超过两个LED（2-1...2-4）的LED模块（1）中，将方法步骤应用到LED的全部可能的对上。4.根据权利要求1至3之一所述的方法，其特征在于，在具有超过一对LED（2-1...2-4）的LED模块（1）中，将两个或者更多个光波导（7-1；7-2）用于使每两个LED光学连接。5.根据权利要求1至4之一所述的方法，其特征在于，为了使布置在印刷电路板（3）上的LED（2-1...2-4）与所述至少一个电流源（11-1；11-2）并且与所述至少一个测量装置（12-1；12-2）连接，使...

【专利技术属性】
技术研发人员：E韦伯，S艾斯特勒，
申请(专利权)人：ZKW集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：奥地利,AT