一种避免台阶孔干涉的检验芯轴制造技术

技术编号:19319581 阅读:40 留言:0更新日期:2018-11-03 10:32
本实用新型专利技术提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体,所述芯轴本体的两端端部分别套装有第一涨套和第二涨套;其中,第一涨套和第二涨套分别与零件台阶孔两端的基准孔相配合;该结构避免了在检测时,中间台阶孔对检验芯轴的干涉;本实用新型专利技术结构简单、操作方便;测量结果稳定、消除了产品的质量风险。

A test mandrel avoiding interference from step holes

The utility model provides an inspection mandrel to avoid step hole interference, which includes a mandrel body matched with the step hole of the part, and the two ends of the mandrel body are respectively provided with the first and second expansion sleeves, in which the first expansion sleeve and the second expansion sleeve are respectively matched with the reference holes at both ends of the step hole of the part. The utility model has the advantages of simple structure and convenient operation, stable measurement results and eliminating the quality risk of products.

【技术实现步骤摘要】
一种避免台阶孔干涉的检验芯轴
本技术属于汽车零部件生产领域,具体涉及一种避免台阶孔干涉的检验心轴。
技术介绍
零件8G-4565行星齿轮内孔结构如图1,因内孔为两端大、中间小的台阶孔,测量要求使用两端孔A和B的公共基准,现有普通心轴涨套为单一外圆面,由于零件台阶孔干涉,在一端装入时,无法装入另一端孔内,因而无法使用普通检验心轴,在无法同时涨紧两侧内孔的情况下,两侧内孔的A、B基准无法同时使用,因而不能满足图纸要求的使用“A-B”公共基准。
技术实现思路
本技术提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,解决了现有零件台阶孔无法使用普通检验芯轴进行检测的缺陷。为了达到上述目的,本技术采用的技术方案是:本技术提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体,所述芯轴本体的两端端部分别套装有第一涨套和第二涨套;其中,第一涨套和第二涨套分别与零件台阶孔两端的基准孔相配合。优选地,第一涨套和第二涨套上分别开设有第一内锥孔和第二内锥孔,所述第一内锥孔和第二内锥孔同轴布置。优选地,第一内锥孔和第二内锥孔均与芯轴本体的外锥面相贴合。优选地,第一涨套和第二涨套的外圆同轴布置。优选地,第一涨套和本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,其特征在于:包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体(1),所述芯轴本体(1)的两端端部分别套装有第一涨套(2)和第二涨套(4);其中,第一涨套(2)和第二涨套(4)分别与零件台阶孔两端的基准孔相配合。

【技术特征摘要】
1.一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,其特征在于:包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体(1),所述芯轴本体(1)的两端端部分别套装有第一涨套(2)和第二涨套(4);其中,第一涨套(2)和第二涨套(4)分别与零件台阶孔两端的基准孔相配合。2.根据权利要求1所述的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,其特征在于:第一涨套(2)和第二涨套(4)上分别开设有第一内锥孔和第二内锥孔,所述第一内锥孔和第二内锥孔同轴布置。3.根据权利要求2所述的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴,其特征在于:第一内锥孔和第二内锥孔均与芯轴本体(1)的外锥面相贴合。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:张超李天琦
申请(专利权)人:西安法士特汽车传动有限公司
类型:新型
国别省市:陕西,61

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