一种利用反射原理的三次元测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种利用反射原理的三次元测量装置，包括工作台，所述工作台上方通过两个支撑座活动连接有一具有前后移动功能的悬臂，所述悬臂上活动连接有一具有左右移动功能的外罩，所述外罩下端活动连接有一具有上下移动功能的升降框架，所述升降框架下端固定连接有一用来接触待测物的探测头组件，所述外罩和探测头组件内设有用于发射光线后使光线聚焦反射再接收光线的光线处理组件。通过光线聚焦反射配合接触式浮动探针，准确测量待测物各轴尺寸及相对位置，提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种利用反射原理的三次元测量装置
本技术属于测量设备
，尤其涉及一种利用反射原理的三次元测量装置。
技术介绍
三次元测量仪又称为三坐标测量仪，是指在空间范围内，能够测量物理的几何形状、长度、平面度等的高精度测量仪器，三次元测量仪广泛用于机械制造行业。传统的三次元主要是通过光学尺配合接触式探针测量三轴尺寸，对于形状复杂非直线状的产品比较难测量，精度也不高。因此，专利技术人致力于设计一种新的三次元测量装置以解决上述问题。
技术实现思路
本技术的目的在于：提供一种利用反射原理的三次元测量装置，可准确测量相对位置，测量精度较高。为了达到上述目的，本技术所采取的技术方案为：一种利用反射原理的三次元测量装置，包括工作台，所述工作台上方通过两个支撑座活动连接有一具有前后移动功能的悬臂，所述悬臂上活动连接有一具有左右移动功能的外罩，所述外罩下端活动连接有一具有上下移动功能的升降框架，所述升降框架下端固定连接有一用来接触待测物的探测头组件，所述外罩和探测头组件内设有用于发射光线后使光线聚焦反射再接收光线的光线处理组件。进一步的，所述光线处理组件具有一设置于所述外罩内的第一镭射对焦检测器，所述探测头组件具本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用反射原理的三次元测量装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)上方通过两个支撑座(2)活动连接有一具有前后移动功能的悬臂(3)，所述悬臂(3)上活动连接有一具有左右移动功能的外罩(4)，所述外罩(4)下端活动连接有一具有上下移动功能的升降框架(5)，所述升降框架(5)下端固定连接有一用来接触待测物的探测头组件(6)，所述外罩(4)和探测头组件(6)内设有用于发射光线后使光线聚焦反射再接收光线的光线处理组件(7)。

【技术特征摘要】
1.一种利用反射原理的三次元测量装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)上方通过两个支撑座(2)活动连接有一具有前后移动功能的悬臂(3)，所述悬臂(3)上活动连接有一具有左右移动功能的外罩(4)，所述外罩(4)下端活动连接有一具有上下移动功能的升降框架(5)，所述升降框架(5)下端固定连接有一用来接触待测物的探测头组件(6)，所述外罩(4)和探测头组件(6)内设有用于发射光线后使光线聚焦反射再接收光线的光线处理组件(7)。2.如权利要求1所述的利用反射原理的三次元测量装置，其特征在于，所述光线处理组件(7)具有一设置于所述外罩(4)内的第一镭射对焦检测器(71)，所述探测头组件(6)具有一探针座(61)，所述探针座(61)的空腔内自上而下安装有第一透镜(72)和与所述第一透镜(72)同轴的反射镜(73)，所述第一镭射对焦检测器(71)用来检测光线照射于所述反射镜(73)并反射的光线在竖直方向上的移动量。3.如权利要求2所述的利用反射原理的三次元测量装置，其特征在于，所述外罩(4)一端内部设有第二镭射对焦检测器(74)，所述第二镭射对焦检测器(74)前方设有第二透镜(75)，所述第二透镜(75)前方倾斜设有一分光镜(76)，所述分光镜(76)位于所述第一透镜(72)正上方，所述第二镭射对焦检测器(74)用于检测光线照射于所述反射镜(73)并反射的光线相对位置移动量。4.如权利要求2所述的利用反射原理的三次元测量装置，其特征在于，所述探针座(61)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭浩泉，施耀杰，
申请(专利权)人：东莞市星泽模具激光科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44