用于校正设备中的漂移的方法和该设备技术

描述了用于校正电子设备中的漂移的方法。该方法包括：确定所述电子设备的第一中心姿态；当所述第一中心姿态相对于报告的中心姿态在容限内时，使用传感器结合在处理器上操作的计算机视觉来跟踪场景内的至少一个关键点；确定基于所述第一中心姿态和所述至少一个关键点所导出的中心姿态；将所述传感器禁用预定时间；在所述预定时间之后，确定第二中心姿态相对于所述导出的中心姿态是否在所述容限内；当所述第二中心姿态相对于所述导出的中心姿态在所述容限内时，使用所述传感器来跟踪所述至少一个关键点；以及当所述第二中心姿态与所述导出的中心姿态之间存在差异时，调整所述第二中心姿态。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于校正设备中的漂移的方法和该设备
本专利技术的实施例一般地涉及便携式电子设备，具体地涉及一种电子设备和校正该电子设备中的漂移的方法。
技术介绍
未采用外部系统进行跟踪的虚拟现实设备和其他头戴式显示器(HMD)设备依赖HMD中的传感器或HMD中使用的器件来进行头部取向跟踪。目前的HMD设备技术存在的一个问题是一些传感器可能会随着时间而漂移。例如，当HMD设备改变温度时，当前的HMD设备遭受惯性测量单元(IMU)漂移，其中现实世界中的HMD的旋转可能未被登记在虚拟世界中。
技术实现思路
技术问题解决漂移的传统技术需要太多的计算机能力和能量，导致用户体验受损。用户体验受损的示例可包括用于绘制的资源减少、电池寿命缩短以及热量增加，热量增加往往会加剧IMU的错误。因此，校正电子设备中的漂移的设备和方法是有益的。问题的解决方案在第一实施例中，一种方法包括确定电子设备的第一中心姿态(centerpose)。该方法还包括：当所述第一中心姿态相对于报告的中心姿态在容限内时，使用传感器结合处理器上的计算机视觉来跟踪场景内的至少一个关键点。该方法包括：确定基于所述第一中心姿态和所述至少一个关键点所导出的中心本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于校正电子设备中的漂移的方法，所述方法包括：确定所述电子设备的第一中心姿态；当所述第一中心姿态相对于报告的中心姿态在容限内时，使用传感器结合在处理器上操作的计算机视觉来跟踪场景内的至少一个关键点；确定基于所述第一中心姿态和所述至少一个关键点所导出的中心姿态；将所述传感器禁用预定时间；在所述预定时间之后，确定第二中心姿态相对于所述导出的中心姿态是否在容限内；当所述第二中心姿态相对于所述导出的中心姿态在所述容限内时，使用所述传感器来跟踪所述至少一个关键点；以及当所述第二中心姿态与所述导出的中心姿态之间存在差异时，调整所述第二中心姿态。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.02 US 62/290,253;2017.02.01 US 15/421,8241.一种用于校正电子设备中的漂移的方法，所述方法包括：确定所述电子设备的第一中心姿态；当所述第一中心姿态相对于报告的中心姿态在容限内时，使用传感器结合在处理器上操作的计算机视觉来跟踪场景内的至少一个关键点；确定基于所述第一中心姿态和所述至少一个关键点所导出的中心姿态；将所述传感器禁用预定时间；在所述预定时间之后，确定第二中心姿态相对于所述导出的中心姿态是否在容限内；当所述第二中心姿态相对于所述导出的中心姿态在所述容限内时，使用所述传感器来跟踪所述至少一个关键点；以及当所述第二中心姿态与所述导出的中心姿态之间存在差异时，调整所述第二中心姿态。2.根据权利要求1所述的方法，其中，确定第一中心姿态包括基于所述电子设备的IMU传感器读数来确定所述电子设备的姿态是否在偏移容限内。3.根据权利要求1所述的方法，其中，跟踪所述场景内的所述至少一个关键点包括查找所述场景中的至少一个关键点并计算每个关键点的置信度。4.根据权利要求3所述的方法，其中，计算所述置信度包括确定所述置信度是否大于预定值。5.根据权利要求1所述的方法，还包括：当所述至少一个关键点被多次检查并且在所述多次检查中所述至少一个关键点出现在第一场景内的基本相同的位置时，存储所述至少一个关键点。6.根据权利要求1所述的方法，其中，确定导出的中心姿态包括确定所述第一中心姿态与所述至少一个关键点之间的位置偏差。7.根据权利要求1所述的方法，还包括：确定所述至少一个关键点的关键点分布。8.根据权利要求3所述的方法，其中，跟踪所述至少一个关键点包括识别所述场景内的对象的边...

【专利技术属性】
技术研发人员：克里斯托弗·A·帕瑞，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR