连续球面像差校正镜筒透镜制造技术

本申请公开了连续球面像差校正镜筒透镜。本文描述了用于成像仪器的镜筒透镜。镜筒透镜可以用包括并不被完全无限校正的物镜的成像仪器来实现。镜筒透镜可以包括：第一光学元件和第二光学元件，第一光学元件被配置为沿物镜和镜筒透镜之间的光路从物镜接收发散光。第一光学元件将从物镜接收的发散光汇聚到第二光学元件上，并且第一元件相对于第二光学元件沿其纵向轴线是可移动的。

【技术实现步骤摘要】
连续球面像差校正镜筒透镜相关申请的交叉引用本申请还要求于2017年3月8日提交的题为“ContinuousSphericalAberrationCorrectionTubeLens”的美国临时专利申请第62/468,792号的权益，该美国临时专利申请通过引用以其整体并入本文。本申请还要求于2017年5月5日提交的且题为“ContinuousSphericalAberrationCorrectionTubeLens”的荷兰专利申请第N2018859号的权益。背景成像系统中的球面像差是由于无法将离轴和轴向光从点光源聚焦到单个焦点引起的。影响具有可变厚度的图像样本(即，多平面样本)的高数值孔径透镜的成像性能是初级像差。对于具有可变厚度的样本，球面像差可以随着样本厚度而变化。在一些情况下，变化的热环境(例如，样本的热膨胀)也可能引入球面像差。传统上，显微镜供应商提供了调节物镜中的校正环以补偿球面像差的能力。由于设计考虑，一些成像仪器可能在物镜上不包括用于校正球面像差的元件。在多平面样本的成像系统的一个当前实施方式中，根据焦点是在第一成像平面(例如，样本的顶部表面)上还是在第二成像平面(例如，样本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种成像系统，包括：物镜，所述物镜光学耦合到光生成模块，所述物镜将光聚焦到样本上；镜筒透镜，所述镜筒透镜光学耦合到所述物镜，所述镜筒透镜包括第一光学元件和第二光学元件，其中，所述第一光学元件将从所述物镜接收的发散光汇聚到所述第二光学元件上，并且其中，所述第一光学元件相对于所述第二光学元件沿所述第一光学元件的纵向轴线是可移动的。

【技术特征摘要】
2017.05.05 NL N2018859;2017.03.08 US 62/468,7921.一种成像系统，包括：物镜，所述物镜光学耦合到光生成模块，所述物镜将光聚焦到样本上；镜筒透镜，所述镜筒透镜光学耦合到所述物镜，所述镜筒透镜包括第一光学元件和第二光学元件，其中，所述第一光学元件将从所述物镜接收的发散光汇聚到所述第二光学元件上，并且其中，所述第一光学元件相对于所述第二光学元件沿所述第一光学元件的纵向轴线是可移动的。2.根据权利要求1所述的成像系统，还包括：第三光学元件，所述第三光学元件光学耦合到所述第二光学元件，其中，所述第三光学元件将光汇聚到所述成像系统的图像传感器上。3.根据权利要求2所述的成像系统，其中，所述第一光学元件是正元件，其中，所述第二光学元件是负元件，并且其中，所述第三光学元件是正元件。4.根据权利要求3所述的成像系统，其中，所述第一光学元件是双合透镜，并且其中，所述第二光学元件是双合透镜。5.根据权利要求3所述的成像系统，其中，所述第三光学元件用于使所述成像系统在所述图像传感器上是远心的。6.根据权利要求3所述的成像系统，其中，从所述物镜接收的所述发散光在通过从由所述物镜的后孔离开的视场边缘光线的中心进行测量时发散约0.25度至约1度。7.根据权利要求3所述的成像系统，还包括：用于使所述第一光学元件沿其纵向轴线平移的平台。8.根据权利要求3所述的成像系统，其中，所述第一光学元件可沿所述第一光学元件的纵向轴线平移至少约5mm的距离。9.根据权利要求2所述的成像系统，其中，所述成像系统不包括用于调节所述物镜以校正球面像差的机构。10.根据权利要求1所述的成像系统，其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：达科塔·沃森，西蒙·普林斯，格奥尔格·纳多夫，安东尼·维斯康提，
申请(专利权)人：伊鲁米那股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US