一种激光位移传感器在机测量系统技术方案

本发明专利技术属于在机测量领域，并公开了一种激光位移传感器在机测量的系统。该测量系统包括工作台、机床夹具、刀柄夹具、测量传感器，工作台表面沿其轴向方向上设置有多条槽，用于放置机床夹具，机床夹具通过被放置在不同的槽中实现位置的变换；机床夹具用于夹持待加工零件；刀柄夹具设置在工作台的上方，用于夹持测量传感器，机床主轴具有多个方向的自由度，用于调整测量传感器的位置；测量传感器发出测量激光至待测零件的表面，然后接受该激光经待测零件表面反射后的反射光，以此检测该测量光感器与待测零件之间的距离。通过本发明专利技术，实现非接触式在机测量，工作效率高，累积误差小，大大提高了产品合格率和检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种激光位移传感器在机测量系统
本专利技术属于在机测量领域，更具体地，涉及一种激光位移传感器在机测量系统。
技术介绍
随着制造工业的迅速发展，生产出的产品的形状更加复杂、尺寸公差的要求更加严格，加工精度的要求越来越高，而在以往的加工实践中，只能通过数控程序来保证零件的加工精度，但面对加工过程中的因刀具磨损等非程序控制因素产生的加工误差，缺乏可靠的工艺手段进行分析、判断及调整，最终导致加工零件合格率低，造成大量人力、物力资源的浪费。对于航空领域的飞机结构件和导弹弹体结构件等尺寸规格大，加工特征多，精度要求高的复杂薄壁零件，在其加工过程中可能会有多道工序需要进行三坐标测量仪测量。而三坐标测量仪是在全封闭式的测量环境中运行的，其接触式的检测方法需要进行繁琐的检测路线编程设计及碰撞仿真检查，造成检测时间比加工时间还要长的现状，严重影响了生产效率，同时零件也可能会多次中转，反复装夹，这就造成误差累积，存在质量隐患。现有技术中虽然出现了接触式在机测量，该技术可以通过实时提供分析数据，为工艺改进、质量问题追溯提供依据，为批次性生产提供可靠质量保证，但接触式测头在测量时需对单点进行反复碰触，效率低且本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光位移传感器在机测量系统，其特征在于，该测量系统包括工作台(101)、机床夹具(103)、刀柄夹具(105)、测量传感器(203)，所述工作台(101)表面沿其轴向方向上设置有多条槽，用于放置所述机床夹具(103)，该机床夹具通过被放置在不同的槽中实现位置的变换；所述机床夹具(103)设置在所述工作台上，用于夹持待加工零件，该机床夹具在所述工作台上移动以此改变待加工零件的位置；所述刀柄夹具(105)设置在所述工作台的上方，与机床主轴连接，用于夹持测量传感器(203)，所述机床主轴具有多个方向的自由度，用于调整测量传感器的位置；所述测量传感器(203)发出测量激光至待测零件的表面，然后...

【技术特征摘要】
1.一种激光位移传感器在机测量系统，其特征在于，该测量系统包括工作台(101)、机床夹具(103)、刀柄夹具(105)、测量传感器(203)，所述工作台(101)表面沿其轴向方向上设置有多条槽，用于放置所述机床夹具(103)，该机床夹具通过被放置在不同的槽中实现位置的变换；所述机床夹具(103)设置在所述工作台上，用于夹持待加工零件，该机床夹具在所述工作台上移动以此改变待加工零件的位置；所述刀柄夹具(105)设置在所述工作台的上方，与机床主轴连接，用于夹持测量传感器(203)，所述机床主轴具有多个方向的自由度，用于调整测量传感器的位置；所述测量传感器(203)发出测量激光至待测零件的表面，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文龙，寇猛，王刚，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：湖北,42