一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺制造技术

本实用新型专利技术公开一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，属于测量工具领域，包括尺身和在尺身上滑动的尺框，所述卡尺为游标卡尺或者数显卡尺；尺身左端的端面设有尺身测量面，尺身测量面垂直于尺身，尺框设有两个尺框量爪，两个尺框量爪关于尺身对称设置，尺框量爪自由端向左延伸至尺框外，尺框量爪自由端向另一个尺框量爪弯曲，尺框量爪自由端设有尺框测量爪测量面，尺框测量爪测量面平行于尺身测量面。本实用新型专利技术结构简单、设计合理，能够方便、准确的测得圆柱工件正对的双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差。

A measuring caliper for measuring the symmetry error of double key groove relative to cylindrical reference axis

The utility model discloses a measuring caliper with double keyway relative to cylindrical datum axis symmetry deviation, which belongs to the field of measuring tools, including a ruler body and a ruler frame sliding on the ruler body. The caliper is a vernier caliper or a digital display caliper; the left end face of the ruler body is provided with a ruler body measuring surface, the ruler body measuring surface is perpendicular to the ruler body, and the ruler frame is arranged. There are two measuring claws with ruler frame, two measuring claws with ruler frame are set symmetrically. The free end of measuring claw with ruler frame extends to the left to the outside of measuring claw with ruler frame. The free end of measuring claw with ruler frame bends to the other measuring claw with ruler frame. The measuring surface of measuring claw with ruler frame is parallel to the measuring surface of measuring claw with ruler frame. The utility model has the advantages of simple structure and reasonable design, and can conveniently and accurately measure the deviation of the symmetry between the double keyway of the cylindrical workpiece and the cylindrical datum axis.

【技术实现步骤摘要】
一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺
本技术涉及测量工具领域，尤其涉及一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺。
技术介绍
目前，在对圆柱工件双键槽(两个键槽关于圆柱轴线左右对称)中心平面相对于圆柱基准轴线的对称度偏差进行直接测量是一个难题，常用的办法是通过测量键槽侧面相对与圆柱工件相对两侧的垂直距离来判断，但是键槽侧面与圆柱工件侧壁不在同一个高度上，普通的卡尺(游标卡尺、深度卡尺、数显卡尺)的尺框量爪均不能直接测量双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差，需要借助辅助工具进行测量。但这不但操作不便，也容易产生较大的操作误差，很难得出准确数值。
技术实现思路
本技术旨在提供一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，用以解决现有的卡尺无法直接测量双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差的问题。为达到上述目的，本技术采用的技术方案如下：一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，包括尺身和在尺身上滑动的尺框，尺身左端的端面设有尺身测量面，尺身测量面垂直于尺身，尺框设有两个尺框量爪，两个尺框量爪关于尺身对称设置，尺框量爪自由端向左延伸至尺框外，尺框量爪自由端向另一个尺框量爪弯曲，尺框量爪自由端设有尺框测量爪测量面，尺框测量爪测量面平行于尺身测量面。进一步的，所述尺框量爪自由端的两个相对侧均设有尺框测量爪测量面。优选的，所述尺框量爪为n形或者c形。进一步的，所述尺身的左端设有尺身量爪，尺身量爪通过螺钉及定位销安装在尺身上，尺身测量面设置在尺身量爪自由端的端面。优选的，所述尺身设有刻度，尺框设有游标。另一种优选的，所述尺身设有定栅尺和保护膜，尺框设有数显动栅和显示器。本技术的操作步骤如下：步骤1、将两个尺框量爪的尺框测测量面放置于被测工件两键槽的同一侧(A面)，移动尺身使尺身测量面与被测工件圆柱面接触，记下数值A；步骤2、将被测工件旋转180°，使两个尺框量爪的尺框测量爪测量面放置于被测工件两键槽的另一侧(B面)，移动尺身体使尺身测量面与被测工件圆柱面接触，记下数值B；步骤3、数值A与数值B差值的绝对值的一半即为双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差。步骤4、在步骤1中，使用数显卡尺测量数值A时按下“置零”(即“ZERO”)键，则步骤3中数值B绝对值的一半即为双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差。本技术结构合理、操作方便，测量精度高，不需要借助辅助工具即能够准确测得双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差。附图说明图1为本技术卡尺测量键槽A面的示意图；图2为本技术卡尺测量键槽B面的示意图。图中：1-尺身、2-尺框、3-尺身测量面、4-尺框量爪、5-尺框测量爪测量面、6-尺身量爪。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图，对本技术进行进一步详细说明。实施例一：如图1、图2所示，本实施例中，一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，包括尺身1和在尺身1上滑动的尺框2，所述尺身1设有定栅尺和保护膜、尺框2设有数显动栅和显示器，尺身1相对尺框2的移动量能够显示在显示器上；尺身2左右方向为尺身2的长度方向，尺身2的左端通过螺钉及定位销连接有尺身量爪6，尺身量爪6的自由端的端面设有尺身测量面3，尺身测量面3垂直于尺身1，尺框2的左端设有两个尺框量爪4，两个尺框量爪4关于尺身1长度方向对称设置，尺框量爪4为n形或者c形的形状，该形状使尺框量爪4自由端向左延伸至尺框2外，尺框量爪4自由端向另一个尺框量爪4弯曲，尺框量爪4自由端设有尺框测量爪测量面5，尺框测量爪测量面5平行于尺身测量面3。所述尺框量爪4自由端的两个相对侧均设有尺框测量爪测量面5。本技术的测量卡尺的使用步骤为，步骤1、将两个尺框量爪的尺框测测量面放置于被测工件两键槽的同一侧(A面)，移动尺身使尺身测量面与被测工件圆柱面接触，按下显示器“置零”(即“ZERO”)键，如图1所示；步骤2、将被测工件旋转180°，使两个尺框量爪的尺框测量爪测量面放置于被测工件两键槽的另一侧(B面)，移动尺身体使尺身测量面与被测工件圆柱面接触，记下数值B，如图2所示；步骤3、数值B绝对值的一半即为双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差。实施例二：其与实施例一的区别在于，本技术的测量卡尺为机械式卡尺，尺身1上设有刻度，尺框2上设有游标，使用者通过读取尺身1及尺框2上的刻度数得出测量值。使用步骤如下：步骤1、将两个尺框量爪的尺框测测量面放置于被测工件两键槽的同一侧(A面)，移动尺身使尺身测量面与被测工件圆柱面接触，记下数值A；步骤2、将被测工件旋转180°，使两个尺框量爪的尺框测量爪测量面放置于被测工件两键槽的另一侧(B面)，移动尺身体使尺身测量面与被测工件圆柱面接触，记下数值B；步骤3、数值A与数值B差值的绝对值的一半即为双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差。实施例三：在本实施例中，尺身1上既设有刻度又设有定栅尺，尺框2上既设有游标又设有数显动栅和显示器；使本实施例的测量卡尺既能够通过刻度人工读数，又具有数显自动读数的功能。当然，本技术还可有其它多种实施例，在不背离本技术精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本技术作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本技术所附的权利要求的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，其特征在于：包括尺身(1)和在尺身(1)上滑动的尺框(2)，尺身(1)左端的端面设有尺身测量面(3)，尺身测量面(3)垂直于尺身(1)，尺框(2)设有两个尺框量爪(4)，两个尺框量爪(4)关于尺身(1)对称设置，尺框量爪(4)自由端向左延伸至尺框(2)外，尺框量爪(4)自由端向另一个尺框量爪弯曲，尺框量爪(4)自由端设有尺框测量爪测量面(5)，尺框测量爪测量面(5)平行于尺身测量面(3)。

【技术特征摘要】
1.一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，其特征在于：包括尺身(1)和在尺身(1)上滑动的尺框(2)，尺身(1)左端的端面设有尺身测量面(3)，尺身测量面(3)垂直于尺身(1)，尺框(2)设有两个尺框量爪(4)，两个尺框量爪(4)关于尺身(1)对称设置，尺框量爪(4)自由端向左延伸至尺框(2)外，尺框量爪(4)自由端向另一个尺框量爪弯曲，尺框量爪(4)自由端设有尺框测量爪测量面(5)，尺框测量爪测量面(5)平行于尺身测量面(3)。2.根据权利要求1所述的双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺，其特征在于：所述尺框量爪(4)自由端的两个相对侧均设有尺框测量爪测量面(5)。3....

【专利技术属性】
技术研发人员：李大明，戴超，
申请(专利权)人：成都成量工具集团有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51