【技术实现步骤摘要】
一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺
本专利技术涉及测量工具领域,尤其涉及一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺。
技术介绍
目前,在对圆柱工件双键槽(两个键槽关于圆柱轴线左右对称)中心平面相对于圆柱基准轴线的对称度偏差进行直接测量是一个难题,常用的办法是通过测量键槽侧面相对与圆柱工件相对两侧的垂直距离来判断,但是键槽侧面与圆柱工件侧壁不在同一个高度上,普通的卡尺(游标卡尺、深度卡尺、数显卡尺)的尺框量爪均不能直接测量双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差,需要借助辅助工具进行测量。但这不但操作不便,也容易产生较大的操作误差,很难得出准确数值。
技术实现思路
本专利技术旨在提供一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺,用以解决现有的卡尺无法直接测量双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差的问题。为达到上述目的,本专利技术采用的技术方案如下:一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺,包括尺身和在尺身上滑动的尺框,尺身左端的端面设有尺身测量面,尺身测量面垂直于尺身,尺框设有两个尺框量爪,两个尺框量爪关于尺身对称设置,尺框量爪自由端向左延伸至尺框外,尺框量爪自由端向另一个尺框量爪弯曲,尺框量爪自由端设有尺框测量爪测量面,尺框测量爪测量面平行于尺身测量面。进一步的,所述尺框量爪自由端的两个相对侧均设有尺框测量爪测量面。优选的,所述尺框量爪为n形或者c形。进一步的,所述尺身的左端设有尺身量爪,尺身量爪通过螺钉及定位销安装在尺身上,尺身测量面设置在尺身量爪自由端的端面。优选的,所述尺身设有刻度,尺框设有游标。另一种优选的,所述尺身设有定栅尺和保护膜,尺框设有数显动 ...
【技术保护点】
1.一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺,其特征在于:包括尺身(1)和在尺身(1)上滑动的尺框(2),尺身(1)左端的端面设有尺身测量面(3),尺身测量面(3)垂直于尺身(1),尺框(2)设有两个尺框量爪(4),两个尺框量爪(4)关于尺身(1)对称设置,尺框量爪(4)自由端向左延伸至尺框(2)外,尺框量爪(4)自由端向另一个尺框量爪弯曲,尺框量爪(4)自由端设有尺框测量爪测量面(5),尺框测量爪测量面(5)平行于尺身测量面(3)。
【技术特征摘要】
1.一种双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺,其特征在于:包括尺身(1)和在尺身(1)上滑动的尺框(2),尺身(1)左端的端面设有尺身测量面(3),尺身测量面(3)垂直于尺身(1),尺框(2)设有两个尺框量爪(4),两个尺框量爪(4)关于尺身(1)对称设置,尺框量爪(4)自由端向左延伸至尺框(2)外,尺框量爪(4)自由端向另一个尺框量爪弯曲,尺框量爪(4)自由端设有尺框测量爪测量面(5),尺框测量爪测量面(5)平行于尺身测量面(3)。2.根据权利要求1所述的双键槽相对圆柱基准轴线对称度偏差测量卡尺,其特征在于:所述尺框量爪(4)自由端的两个相对侧均设有尺框测量爪测量面(5)。3....
【专利技术属性】
技术研发人员:李大明,戴超,
申请(专利权)人:成都成量工具集团有限公司,
类型:发明
国别省市:四川,51
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