The utility model relates to a device for detecting an edge defect of a double-layer substrate, comprising a first image capturing unit and a second image capturing unit, and the first center line of the first image capturing unit and the second center line of the second image capturing unit form a first angle and a second angle with the plane of the normal line of the edge of the substrate respectively; and the illumination unit emits the light. The light passes through the edge of the double-layer substrate to the first and the second imaging units, thus avoiding the mutual interference between the first and the second substrate. The defect of the edge of the double-layer substrate can be detected directly by image analysis, which has the advantages of accurate detection results and fast detection.
【技术实现步骤摘要】
一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置
本技术涉及一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置，属于显示面板检测设备
技术介绍
在显示面板生产过程中，通常需要对面板进行玻璃边缘的检测，确定玻璃基板的边缘是否存在裂片、划痕及破损等异常，以及时采取措施防止异常基板对后续生产制程造成影响。以往的面板生产中，由于玻璃尺寸相对较小，且产能要求相对较低，玻璃通常为单片搬运、移载和检测；例如用单层的机械手臂移载单片玻璃进行传输，进行玻璃边缘检测时，只需将载有单层玻璃的机械手臂移载到检测单元(如CCD相机)下方进行拍照检测，每次完成单片基板的边缘检查。而随着面板尺寸的不断增大以及生产效率的提高，单片较大基板的运输存在稳定性低容易破片等技术问题，通常会将大片的基板切割成两片，进行运输和检测等；例如机械手臂会相应设计为双层手臂，但边缘检查的时候，对应的检测装置仍只适用于单层玻璃的检测，上层玻璃检测时，下层玻璃会对上层玻璃造成影响；下层玻璃检测时，上层玻璃又会对下层玻璃造成影响，使得双层玻璃边缘检测较为困难，且效率较低。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：现有的光学检测装置只能检测单层待测物...
【技术保护点】
1.一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置，所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板，其特征在于，还包括检测装置，所述检测装置设在双层基板的一侧，所述检测装置包括第一摄像单元和第二摄像单元，且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角。
【技术特征摘要】
1.一种用于检测双层基板边缘缺陷的装置，所述双层基板包括第一基板和与其平行设置的第二基板，其特征在于，还包括检测装置，所述检测装置设在双层基板的一侧，所述检测装置包括第一摄像单元和第二摄像单元，且所述第一摄像单元的第一中心线和第二摄像单元的第二中心线分别与基板边缘法线的平面成第一夹角和第二夹角。2.根据权利要求1所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置，其特征在于，所述第一夹角与所述第二夹角相等。3.根据权利要求1所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置，其特征在于，所述第一夹角与所述第二夹角为5°-10°。4.根据权利要求2所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置，其特征在于，所述第一摄像单元和第二摄像单元与所述第一基板的间距均为105-115mm。5.根据权利要求3所述的用于检测双层基板边缘缺陷的装置，其特征在于，所述第一摄像单元和第二摄像单元的焦距不同。6.根据权利要求1至4...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨凯峰，杨慎东，郭连俊，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32
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