一种提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法技术

本发明专利技术涉及一种提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法，解决土壤样品在扫描电镜高真空模式下，难以获得清晰表面形貌像的问题，包括以下步骤：1)土壤粒径划分，将待测土壤按粘粒、粉粒、砂粒提取分离；2)导电碳胶粘贴，采用导电碳胶将分离后粒径单一的待测样品粘贴在样品台上；3)喷金处理，采用离子溅射仪进行喷金处理；4)调节扫描电镜，观测待测样品，调节扫描电镜电子束电压大小，调节扫描电镜电子束束斑大小，观测待测土壤。本发明专利技术有效的减弱了扫描电镜高真空模式下电荷积累导致的亮斑和干涉条纹对成像质量的影响，有效减轻电荷积聚对电镜设备的损伤，实现对非导电样品的高分辨率观测。

A method to improve the conductivity of soil samples by SEM

The present invention relates to a method of improving the conductivity of soil samples by scanning electron microscope to solve the problem that the soil sample is difficult to obtain a clear surface image under the high vacuum mode of scanning electron microscope, including the following steps: 1) the soil particle size is divided, the soil is extracted and separated according to the clay particles, powder particles and sand grains; and 2) the conductive carbon glue is pasted. Using conductive carbon glue to paste on the sample table with single particle size after separation; 3) spray gold treatment, use ion sputtering instrument for spraying gold; 4) adjust scanning electron microscope, observe the sample to be measured, adjust the size of electron beam voltage of SEM, adjust the size of the beam spot of scanning electron microscope, and observe the soil to be measured. The invention effectively reduces the effect of the bright spots and interference fringes on the imaging quality in the high vacuum mode of the scanning electron microscope, effectively alleviates the damage of the charge accumulation to the electron microscope equipment, and realizes the high resolution observation of the non conductive samples.

【技术实现步骤摘要】
一种提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法
本专利技术涉及土地整治工程领域，具体涉及一种进行土壤样品扫描电镜观测时提高样品导电性的方法。
技术介绍
随着土壤科学研究的发展，进行土壤微形态和微结构研究具有其必然性，对提升土壤问题的研究深度具有重要意义。使用扫描电镜观测土壤结构是微结构研究的一种重要手段，通过微观表面形貌图，可测量得到土壤粒径、团聚体数目，分析土壤孔隙等。测量结果的准确度强烈依赖于扫描电镜成像的分辨率。用扫描电镜观测时要求被测试样具有良好的导电性，导电性越好，成像越清晰；导电性差，成像时就会有电荷积聚，表现为成像有白色亮斑或干涉条纹，遮盖真实信息。土壤的导电性差，往往会出现上述问题，影响土壤观测。高真空模式是扫描电镜所具有分辨率最高的一种模式，如何采用扫描电镜高真空模式获得土壤样品清晰的表面形貌像，是一个亟待解决的关键问题。针对导电性差的样品，现有技术常采取的措施为进行喷金处理，经试验，发现土样在做了喷金处理后仍存在导电差、电荷在样品表面积累，出现白色亮斑或干涉条纹，影响成像的问题，严重制约着扫描电镜技术在土壤微结构及性质研究方面的应用，妨碍土壤学研究工作在微观领域的深入发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)土壤粒径划分：将待测土壤按粒径大小提取分离，得到粒径单一的待测样品；2)导电碳胶粘贴：采用导电碳胶将经步骤1)分离后粒径单一的待测样品粘贴在样品台上；3)喷金处理：采用离子溅射仪对步骤2)中的待测样品进行喷金处理；4)调节扫描电镜，观测待测样品。

【技术特征摘要】
1.一种提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)土壤粒径划分：将待测土壤按粒径大小提取分离，得到粒径单一的待测样品；2)导电碳胶粘贴：采用导电碳胶将经步骤1)分离后粒径单一的待测样品粘贴在样品台上；3)喷金处理：采用离子溅射仪对步骤2)中的待测样品进行喷金处理；4)调节扫描电镜，观测待测样品。2.根据权利要求1所述的提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法，其特征在于：所述步骤2)具体为：首先，将导电碳胶与样品台紧密粘贴；然后，将一层经步骤1)分离后粒径单一的待测样品铺设并粘贴在导电碳胶表面，使土壤颗粒与导电碳胶表面面与面接触，将未能紧密粘贴在导电碳胶表面的土壤颗粒去除。3.根据权利要求2所述的提高土壤样品扫描电镜观测导电性的方法，其特征在于：所...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭航，李玲，李娟，朱德强，王荧，葛磊，曹婷婷，
申请(专利权)人：陕西地建土地工程技术研究院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61