【技术实现步骤摘要】
用于高速交换SoC的健康监控电路结构
本专利技术属于集成电路设计技术,涉及一种用于高速交换SoC的健康监控电路结构。
技术介绍
为保证电子设备的功能安全、性能安全,其所使用的电子元器件必须安全可靠的运行,在元器件失效之前,提供必要的预警,以避免造成整个设备出现安全事故是一个有效的方法。在作为通信设备核心的数据高速交换SoC芯片设计中,如能加入具有健康监控功能,即利用集成的温度传感器、老化工艺传感器来监控芯片的实时温度信息及老化情况,将能预知芯片失效等异常状态并及时处理,保证芯片所在的设备安全运行。Serdes接口由于数量众多以及使用不均衡问题,如果不及时采集Serdes的老化信息并且及时更换老化的Serdes接口,则容易影响整个芯片的正常使用;芯片的温度也影响着芯片的工作状况,温度过高也易造成芯片的非正常工作状况,因此检测芯片器件的老化信息和芯片的实时温度信息,对芯片是否可以正常工作显得尤为重要。
技术实现思路
专利技术目的:为了解决上述背景中提及的问题,本专利技术提供一种用于高速交换SoC的健康监控电路结构。通过老化预警传感器和温度传感器,及时检测芯片上器件的老化信息和实时温度信息,可最大限度的避免因器件老化和芯片温度过高产生的一些电路故障,确保芯片的正常工作,且此结构简单,易在芯片设计中实现。技术方案:一种用于高速交换SoC的健康监控电路结构,包括预警处理模块(1)、至少2个集成老化预警传感器的Serdesx8模块(2)、片上温度传感器模块(3)、片上处理器模块(4);其中,预警处理模块(1)连接片上温度传感器模块(3)和老化预警传感器的Serdesx8模 ...
【技术保护点】
1.一种用于高速交换SoC的健康监控电路结构,其特征在于:包括预警处理模块(1)、至少2个集成老化预警传感器的Serdes x8模块(2)、片上温度传感器模块(3)、片上处理器模块(4);其中,预警处理模块(1)连接片上温度传感器模块(3)和老化预警传感器的Serdes x8模块(2),片上处理器(4)与预警处理模块(1)相连;预警处理模块(1)负责处理和监控集成老化工艺传感器的Serdes x8模块(2)的信息和片上温度传感器模块(3)的实时温度信息,产生预警信息传给片上处理器(4),由片上处理器(4)的中断系统决策是否产生中断;集成老化预警传感器的Serdes x8模块(2)检测Serdes接口的老化信息,若检测到器件的老化程度超过规定阈值,则通过状态寄存器将信息传输到预警处理模块(1);片上温度传感器模块(3)监控芯片的当前实时温度,若测得的温度超出配置的阈值范围,通过中断状态进行上报至预警处理模块(1)处理,最终传至片上处理器(4)并产生中断响应;片上处理器模块(4)收到预警处理模块(1)产生的中断请求,读取预警处理模块中的预警信息,根据预定机制做出处理。
【技术特征摘要】
1.一种用于高速交换SoC的健康监控电路结构,其特征在于:包括预警处理模块(1)、至少2个集成老化预警传感器的Serdesx8模块(2)、片上温度传感器模块(3)、片上处理器模块(4);其中,预警处理模块(1)连接片上温度传感器模块(3)和老化预警传感器的Serdesx8模块(2),片上处理器(4)与预警处理模块(1)相连;预警处理模块(1)负责处理和监控集成老化工艺传感器的Serdesx8模块(2)的信息和片上温度传感器模块(3)的实时温度信息,产生预警信息传给片上处理器(4),由片上处理器(4)的中断系统决策是否产生中断;集成老化预警传感器的Serdesx8模块(2)检测...
【专利技术属性】
技术研发人员:田泽,杨海波,李攀,邵刚,郭蒙,
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所,
类型:发明
国别省市:陕西,61
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