The invention provides a detection method of luminescent material, including: (1) taking the luminescent material to be measured, grinding, and (2) XRD detection of the luminescent material: the luminescent material after grinding is detected in the XRD detector, the XRD Atlas of the luminescent material is obtained, and the XRD map is compared with the standard card to determine the luminescent material. The matrix composition of the luminescent material: (3) the excitation spectrum detection of the luminescent material: the luminescent material after the lapping is detected in the fluorescence spectrometer, and the excitation spectrum of the luminescent material is obtained; (4) the emission spectrum of the luminescent material is detected: the luminescent material after the grinding is placed in the fluorescence spectrometer for emission spectrum detection The emission spectra of the luminescent materials are obtained; (5) the excitation and emission spectra of the luminescent materials are analyzed, and the doped components and the luminescence properties of the luminescent materials are determined. The method of the invention can reduce the detection error of luminous materials and improve the experimental efficiency.
【技术实现步骤摘要】
一种发光材料的检测方法
本专利技术涉及发光材料
,尤其涉及一种发光材料的检测方法。
技术介绍
当今的发光材料和激光材料的研究,在国民经济及国家安全的实际应用中,占主导和最重要地位。在进入新世纪后,稀土发光材料科学和技术成为今后占主导地位的平板显示,第四代新照明光源,现代医疗电子设备,更先进的光纤通信等高新技术的发展和创新可靠的依据和保证。LED半导体发光二极管(LED)具有发光效率高、节能、无污染、寿命长、体积小、质量轻等优点,是最被看好的新一代固态照明产品,在照明市场具有很大的发展潜力。发光材料可应用于LED半导体发光二极管中。但是,对于新研制发光材料的表征和检测分析还存在一定的困难。
技术实现思路
本专利技术主要针对上述技术问题,提出一种发光材料的检测方法,能够减小发光材料检测误差、排除实验干扰,提高实验效率,为发光材料的成分、发光性能的分析提供可靠的依据。本专利技术提供了一种发光材料的检测方法,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。优选的,所述XRD检测仪的工作参数为:使用金属Cu靶(辐射源为 ...
【技术保护点】
1.一种发光材料的检测方法,其特征在于,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。
【技术特征摘要】
1.一种发光材料的检测方法,其特征在于,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。2.根据权利要求1所述的发光材料的检测方法,其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:谷亚男,
申请(专利权)人:大连智讯科技有限公司,
类型:发明
国别省市:辽宁,21
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