一种发光材料的检测方法技术

技术编号:18254764 阅读:47 留言:0更新日期:2018-06-20 07:10
本发明专利技术提供一种发光材料的检测方法,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。本发明专利技术方法能够减小发光材料检测误差、提高实验效率。

A method for detecting luminescent materials

The invention provides a detection method of luminescent material, including: (1) taking the luminescent material to be measured, grinding, and (2) XRD detection of the luminescent material: the luminescent material after grinding is detected in the XRD detector, the XRD Atlas of the luminescent material is obtained, and the XRD map is compared with the standard card to determine the luminescent material. The matrix composition of the luminescent material: (3) the excitation spectrum detection of the luminescent material: the luminescent material after the lapping is detected in the fluorescence spectrometer, and the excitation spectrum of the luminescent material is obtained; (4) the emission spectrum of the luminescent material is detected: the luminescent material after the grinding is placed in the fluorescence spectrometer for emission spectrum detection The emission spectra of the luminescent materials are obtained; (5) the excitation and emission spectra of the luminescent materials are analyzed, and the doped components and the luminescence properties of the luminescent materials are determined. The method of the invention can reduce the detection error of luminous materials and improve the experimental efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种发光材料的检测方法
本专利技术涉及发光材料
,尤其涉及一种发光材料的检测方法。
技术介绍
当今的发光材料和激光材料的研究,在国民经济及国家安全的实际应用中,占主导和最重要地位。在进入新世纪后,稀土发光材料科学和技术成为今后占主导地位的平板显示,第四代新照明光源,现代医疗电子设备,更先进的光纤通信等高新技术的发展和创新可靠的依据和保证。LED半导体发光二极管(LED)具有发光效率高、节能、无污染、寿命长、体积小、质量轻等优点,是最被看好的新一代固态照明产品,在照明市场具有很大的发展潜力。发光材料可应用于LED半导体发光二极管中。但是,对于新研制发光材料的表征和检测分析还存在一定的困难。
技术实现思路
本专利技术主要针对上述技术问题,提出一种发光材料的检测方法,能够减小发光材料检测误差、排除实验干扰,提高实验效率,为发光材料的成分、发光性能的分析提供可靠的依据。本专利技术提供了一种发光材料的检测方法,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。优选的,所述XRD检测仪的工作参数为:使用金属Cu靶(辐射源为K线,λ=0.15406nm)作为阳极,仪器阳极加速电压设置为40KV,工作电流为30mA,扫描速度为2°/min,选用的2θ角扫描步长为0.02°,测量的2θ角度范围为20°~60°。优选的,所述荧光光谱仪的工作参数为:用150W的氙灯作为激发光源,R928光电倍增管作为检测器,分辨率为1.0nm,扫描速度为2400nm/min。优选的,还包括:根据发光材料的激发光谱和发射光谱得到发光材料的色坐标,以进行发光材料的色度学分析。本专利技术提供的一种发光材料的检测方法,本专利技术方法简单、成本低廉,能够减小发光材料检测误差、排除实验干扰,提高实验效率,为发光材料的成分、发光性能的分析提供可靠的依据。具体实施方式为使本专利技术解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚,下面结合实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术,而非对本专利技术的限定。本专利技术提供了一种发光材料的检测方法,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。优选的,所述XRD检测仪的工作参数为:使用金属Cu靶(辐射源为K线,λ=0.15406nm)作为阳极,仪器阳极加速电压设置为40KV,工作电流为30mA,扫描速度为2°/min,选用的2θ角扫描步长为0.02°,测量的2θ角度范围为20°~60°。优选的,所述荧光光谱仪的工作参数为:用150W的氙灯作为激发光源,R928光电倍增管作为检测器,分辨率为1.0nm,扫描速度为2400nm/min。优选的,还包括:根据发光材料的激发光谱和发射光谱得到发光材料的色坐标,以进行发光材料的色度学分析。本专利技术提供的一种发光材料的检测方法,本专利技术方法简单、成本低廉,能够减小发光材料检测误差、排除实验干扰,提高实验效率,为发光材料的成分、发光性能的分析提供可靠的依据。最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本专利技术的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本专利技术进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换,并不使相应技术方案的本质脱离本专利技术各实施例技术方案的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光材料的检测方法,其特征在于,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。

【技术特征摘要】
1.一种发光材料的检测方法,其特征在于,包括:(1)取待测的发光材料,进行研磨;(2)对发光材料进行XRD检测:将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测,得到发光材料的XRD图谱,将XRD图谱与标准卡片进行比对,确定发光材料的基质成分;(3)对发光材料进行激发光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测,得到发光材料的激发光谱;(4)对发光材料进行发射光谱检测:将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测,得到发光材料的发射光谱;(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析,确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。2.根据权利要求1所述的发光材料的检测方法,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:谷亚男
申请(专利权)人:大连智讯科技有限公司
类型:发明
国别省市:辽宁,21

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