A processing device, testing device and processing method for a large size strip optical element, which includes a jigsaw fixture, a standard uniaxial polishing machine, and a testing device. The detection device includes a vertical interferometer, a computer control end and an adjustable bearing car, and the invention realizes a strip shape. The optical elements are assembled in one piece and processed at one time, and the flatness of the plate and strip optical elements of the assembled platen is detected. The invention is suitable for batch processing and detection of large size strip like optical elements, and has the characteristics of high efficiency and low cost.
【技术实现步骤摘要】
大尺寸板条状光学元件的加工装置检测装置和加工方法
本专利技术涉及板条状光学元件加工,特别是一种大尺寸板条状光学元件的加工装置检测装置和加工方法。
技术介绍
板条状光学元件在高功率激光系统、激光制造、增材制造、空间光学和军事等领域得到了愈来愈广泛的应用。目前的板条状光学元件朝着大径厚比和大尺寸方向发展。当前的板条光学元件在加工过程中由于自重的影响极容易产生变形而发生面形畸变;另外加工方式一般采用单片加工模式,加工效率极低且稳定性、一致性较差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种大尺寸板条状光学元件的加工装置检测装置和加工方法,他克服了当前板条状光学元件,尤其是大口径板条状光学元件单片加工效率低、加工过程面形变化大,不能实现批量化加工的缺陷。本专利技术利用特殊的工装夹具和检测装置,实现了板条状光学元件拼盘式多件一次性加工和整盘面形检测,加工效率高,加工成本低,可实现板条状光学元件的批量化加工。本专利技术的技术方案如下:一种大尺寸板条状光学元件的加工装置和检测装置,其特点在于该加工装置包括拼盘式工装夹具和标准单轴抛光机;该拼盘式工装夹具包括:紧固元件、工件基板和上盘机构;待加工的板条光学元件粘合在所述的工件基板上,该工件基板与所述的上盘机构通过紧固元件连接在一起;所述的检测装置包括:标准镜组件、待测整盘板条光学元件、可调承载、电脑控制端、竖式干涉仪、面形显示端和工作台;所述的标准镜组件与所述的竖式干涉仪自下而上固定连接并置于机架上配合使用,在所述的工作台面上具有一个通孔,依次设置电脑控制端、机架、面形显示端,所述的竖式干涉仪和标准镜组件位于所述的通孔的上方, ...
【技术保护点】
1.一种大尺寸板条状光学元件的加工装置和检测装置,其特征在于该加工装置包括拼盘式工装夹具和标准单轴抛光机;该拼盘式工装夹具包括:紧固元件(1)、工件基板(2)和上盘机构(4);待加工的板条光学元件(3)粘合在所述的工件基板(2)上,该工件基板(2)与所述的上盘机构(4)通过紧固元件连接在一起;所述的检测装置包括:标准镜组件(5)、待测整盘板条光学元件(6),可调承载车(7)、电脑控制端(8)、竖式干涉仪(9)、面形显示端(10)和工作台(11);所述的标准镜组件(5)与所述的竖式干涉仪(9)自下而上固定连接并置于机架上配合使用,在所述的工作台(11)面上具有一个通孔,依次设置电脑控制端(8)、机架、面形显示端(10),所述的竖式干涉仪(9)和标准镜组件(5)位于所述的通孔的上方,所述的竖式干涉仪(9)和面形显示端(10)分别与所述的电脑控制端(8)相连,所述的可调承载车(7)置于所述的工作台(11)面下所述的竖式干涉仪(9)下方。
【技术特征摘要】
1.一种大尺寸板条状光学元件的加工装置和检测装置,其特征在于该加工装置包括拼盘式工装夹具和标准单轴抛光机;该拼盘式工装夹具包括:紧固元件(1)、工件基板(2)和上盘机构(4);待加工的板条光学元件(3)粘合在所述的工件基板(2)上,该工件基板(2)与所述的上盘机构(4)通过紧固元件连接在一起;所述的检测装置包括:标准镜组件(5)、待测整盘板条光学元件(6),可调承载车(7)、电脑控制端(8)、竖式干涉仪(9)、面形显示端(10)和工作台(11);所述的标准镜组件(5)与所述的竖式干涉仪(9)自下而上固定连接并置于机架上配合使用,在所述的工作台(11)面上具有一个通孔,依次设置电脑控制端(8)、机架、面形显示端(10),所述的竖式干涉仪(9)和标准镜组件(5)位于所述的通孔的上方,所述的竖式干涉仪(9)和面形显示端(10)分别与所述的电脑控制端(8)相连,所述的可调承载车(7)置于所述的工作台(11)面下所述的竖式干涉仪(9)下方。2.根据权利要求1所述的大尺寸板条状光学元件的加工装置和检测装置,其特征在于所述的工件基板(2)上开有平行通孔,便于板条状光学元件加工过程的散热和下盘操作;工件基板(2)的尺寸可根据板条状光学元件的长度和宽度进行调节。3.根据权利要求1所述的大尺寸板条状光学元件的加工装置和检测装置,其特征在于所述的竖式干涉仪(9)采用竖式结构并配有直线导轨,可沿导轨在工作台平面上前后左右运动,便于测量待测整盘板条光学元件(6)不同区域的面形数据。4.根据权利要求1所述的大尺寸板条状光学元件的加工装置和检测装置,其特征在于所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:顿爱欢,邵建达,吴福林,徐学科,陈荣,许振其,
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所,
类型:发明
国别省市:上海,31
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