The invention discloses a tooling for pressure test of patch optocoupler, which relates to the technical field of testing tooling. It includes the upper shell and the lower shell, the upper shell and the lower shell are connected, the lower shell has a lower test tank with multiple optocouplings. There are two parallel conducting grooves in the lower test tank, the conductive part is provided with the optocoupler in the conducting slot, the conductive part is connected with the voltage meter through the wire, and the end of the test trough is equipped with a guide light. The sealing part is provided with a closed inlet port in the inlet port. The sealing part is connected with the lower shell, and the upper shell is equipped with a pressing part that presses the optocoupler in the conducting slot, and the press is located at the position corresponding to the upper shell and the lower test slot. The invention adopts the transparent and insulated upper shell and the lower shell for the optocoupler to test the optocoupler, which is convenient and safe to use, and adopts the flexible seal to install the optocoupler and prevent the optocoupler from sliding out. One
【技术实现步骤摘要】
一种贴片光耦耐压测试的工装
本专利技术涉及测试工装
,具体涉及一种贴片光耦耐压测试的工装。
技术介绍
现有的光耦器件在使用之前需要进行入厂检验,包括各方面的电性能测试,所述的电性能测试包括耐压测试、电流测试等等,必须满足技术要求,才能使用。目前,光耦器件进行耐压测试时,是将单只光耦直接通过测试线与耐压仪器电连接的,光耦的引脚焊接在焊盘上,焊盘再与测试线电连接,每次对光耦测试后,还需将光耦引脚与焊盘相分离,这样,不仅耗时耗力,使得测试效率低,而且测试也不方便,不适合批量测试。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本专利技术公开一种贴片光耦耐压测试的工装,能够解决现有测试工装不适合批量测试的问题。为实现以上目的,本专利技术通过以下技术方案予以实现:一种贴片光耦耐压测试的工装,包括上壳体和下壳体,上壳体与下壳体转动连接,下壳体设有容纳多个光耦的下测试槽,下测试槽内设有两条相互平行的导电槽,导电槽内设有向光耦供电的导电件,导电件通过导线连接有耐压仪,下测试槽的一端设有引导光耦滑入的导入口,导入口内设有闭合导入口的密封件,密封件与下壳体转接,上壳体设有将光耦压紧在导电槽内的透明的压紧件,压紧件位于上壳体与下测试槽对应的位置。进一步的,所述上壳体设有与下测试槽对应的上测试槽,压紧件位于上测试槽内。进一步的,所述上测试槽内设有带动压紧件压紧光耦的弹性件,弹性件的一端与压紧件连接,弹性件的另一端与上测试槽的底面连接。进一步的,所述下壳体设有带动密封件在导入口内转动的转轴,转轴的一端与下壳体转接,转轴的另一端与密封件转接。进一步的,所述导入口为楔形,导入口的宽度由导入口远离 ...
【技术保护点】
1.一种贴片光耦耐压测试的工装,其特征在于:包括上壳体和下壳体,上壳体与下壳体
【技术特征摘要】
1.一种贴片光耦耐压测试的工装,其特征在于:包括上壳体和下壳体,上壳体与下壳体转动连接,下壳体设有容纳多个光耦的下测试槽,下测试槽内设有两条相互平行的导电槽,导电槽内设有向光耦供电的导电件,导电件通过导线连接有耐压仪,下测试槽的一端设有引导光耦滑入的导入口,导入口内设有闭合导入口的密封件,密封件与下壳体转接,上壳体设有将光耦压紧在导电槽内的透明的压紧件,压紧件位于上壳体与下测试槽对应的位置。2.如权利要求1所述贴片光耦耐压测试的工装,其特征在于:所述上壳体设有与下测试槽对应的上测试槽,压紧件位于上测试槽内。3.如权利要求2所述贴片光耦耐压测试的工装,其特征在于:所述上测试槽内设有带动压紧件压紧光耦的弹性件,弹性件的一端与压紧件连接,弹性件的另一端与上测试槽的底面连接。4.如权利要求1所述贴片光耦耐压测试的工装,其特征在于:所述下壳...
【专利技术属性】
技术研发人员:张辉虎,蒋梦影,何丽茜,曾淑飞,陶敬荣,刘先进,
申请(专利权)人:浙江八达电子仪表有限公司,国网浙江省电力公司金华供电公司,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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