一种精密元件的测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种精密元件的测量系统，包括至少一红外激光发射器、至少一红外摄像头以及与所述红外摄像头电连接的处理终端；红外激光发射器，用于发射红外激光对精密元件的至少一面进行扫描；红外摄像头，用于接收被精密元件反射回来的红外激光；处理终端，用于依据接收到的红外激光对精密元件获得工业元件的三维成像和尺寸参数。 1

【技术实现步骤摘要】
一种精密元件的测量系统
本技术涉及精密元件测量领域，尤其涉及一种精密元件的测量系统。
技术介绍
随着现在化的发展，电子设备中所使用的精密元件的越来越多，在对精密元件进行测量的时候，目前使用的显微镜和刻度尺已经不能满足今后测量精度和快捷性的要求。
技术实现思路
为了解决上述现有技术的不足，本技术提供一种精密元件的测量系统，依据红外激光反射畸变原理对被精密元件反射的红外激光进行成像，获得精密元件的三维成像，再依据三维成像输出精密元件的尺寸参数，可优化测量方法、提高测量精度等。本技术所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：一种精密元件的测量系统，包括至少一红外激光发射器、至少一红外摄像头以及与所述红外摄像头电连接的处理终端；红外激光发射器，用于发射红外激光对精密元件的至少一面进行扫描；红外摄像头，用于接收被精密元件反射回来的红外激光；处理终端，用于依据接收到的红外激光对精密元件获得工业元件的三维成像和尺寸参数。进一步地，还包括至少一移动装置，用于设置所述红外激光发射器，带动所述红外激光发射器在对精密元件进行扫描时移动。进一步地，所述移动装置电连接所述处理终端。进一步地，所述红外激光发射器电连接至所述处理终端。进一步地，所述处理终端为计算机。进一步地，所述处理终端包括有显示模块，用于显示精密元件的三维成像和尺寸参数。本技术具有如下有益效果：该测量系统利用所述红外激光发射器发射出的红外激光对精密元件进行扫描，然后利用所述红外摄像头接收被精密元件反射回来的红外激光，当精密元件的表面存在深度变化或缝隙时，被反射回去的红外激光就会发生畸变和不连续，然后所述处理终端就可以依据接收到的红外激光中的畸变和不连续获得精密元件表面的立体信息，最后还原获得工业元件的三维成像和尺寸参数。附图说明图1为本技术提供的精密元件的测量系统。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术进行详细的说明。如图1所示，一种精密元件的测量系统，包括至少一红外激光发射器1、至少一红外摄像头2以及与所述红外摄像头2电连接的处理终端；红外激光发射器1，用于发射红外激光对精密元件的至少一面进行扫描；红外摄像头2，用于接收被精密元件反射回来的红外激光；处理终端，用于依据接收到的红外激光对精密元件获得工业元件的三维成像和尺寸参数。该测量系统利用所述红外激光发射器1发射出的红外激光对精密元件进行扫描，然后利用所述红外摄像头2接收被精密元件反射回来的红外激光，当精密元件的表面存在深度变化或缝隙时，被反射回去的红外激光就会发生畸变和不连续，然后所述处理终端就可以依据接收到的红外激光中的畸变和不连续获得精密元件表面的立体信息，最后还原获得工业元件的三维成像和尺寸参数。而且，红外激光还能穿透精密元件表面，进入到精密元件的内部，对精密元件的内部进行扫描成像，可以在不拆解精密元件的前提下获知其内部结构。该测量系统还包括至少一移动装置，用于设置所述红外激光发射器1，带动所述红外激光发射器1在对精密元件进行扫描时移动。所述移动装置电连接所述处理终端，由所述处理终端依据工作进程进行控制，另外，所述红外激光发射器1也电连接至所述处理终端，由所述处理终端依据工作进程进行控制。所述处理终端优选但不限于为计算机，且包括有显示模块，用于显示精密元件的三维成像和尺寸参数。以上所述实施例仅表达了本技术的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制，但凡采用等同替换或等效变换的形式所获得的技术方案，均应落在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种精密元件的测量系统，其特征在于，包括至少一红外激光发射器、至少一红外摄

【技术特征摘要】
1.一种精密元件的测量系统，其特征在于，包括至少一红外激光发射器、至少一红外摄像头以及与所述红外摄像头电连接的处理终端；红外激光发射器，用于发射红外激光对精密元件的至少一面进行扫描；红外摄像头，用于接收被精密元件反射回来的红外激光；处理终端，用于依据接收到的红外激光对精密元件获得工业元件的三维成像和尺寸参数。2.根据权利要求1所述的精密元件的测量系统，其特征在于，还包括至少一移动装置，用于设置所述红外激光发射器，带动所述红外激光...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈厚余，谢荣富，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44