一种光学轴类检查仪的X轴校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，包括用于安装在扫描仪上两顶尖之间的标准长度轴，标准长度轴两端面具有与扫描仪顶尖对应的一对顶尖孔，在标准长度轴一端内侧具有基准面，沿标准长度轴的轴向按给定距离间隔设置有内槽，本装置可在现场快速校准光学轴类扫描仪的X轴，对设备的工作状态进行分析，确保设备相关参数的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种光学轴类检查仪的X轴校准装置
本技术涉及一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，属于计量领域。
技术介绍
光学轴类扫描仪是一台快速、精确的光学尺寸测量的仪器，适用于所有回转体零件，如航空和汽车轴类和组件、连接器、牙科螺纹及植入物、液压件、食品和化妆品的金属包装、滚道、涡轮机零件、数控车削零件等，只需要数秒时间即可完成测量。该设备是集成由2×7000个线性阵列组成7.5°系统的高分辨率CCD传感器，相当于一个分辨率为200万像素的照相机，将零件用两顶针顶住后，该设备会对零件的轮廓进行扫描，传感器就会根据感光规则动作，快速检测到像素级的轻微变化，通过自带软件分析，得到测量数据，可以实现静态测量和动态测量。它可以靠近机床，在零件被加工的同一位置进行测量，让测量变得轻而易举。然而，对该设备校准遇到几个问题：1.扫描仪没有工作台，只有顶尖，现有校准装置无法安装在工作区域内进行校准；2.扫描仪工作时，底光源通过聚光透镜照射在被测工件上，工件通过投影镜头和高分辨传感器采集到工件图像，所以校准装置材料和外形设计都得符合投影镜头和传感器准确采集。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：提供一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，可在现场快速校准光学轴类扫描仪的X轴向，对该设备的工作状态进行分析，确保设备相关参数的准确性，以解决现有校准的问题。本技术的技术方案是：一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，包括用于安装在扫描仪上两顶尖之间的标准长度轴，标准长度轴两端面具有与扫描仪顶尖对应的一对顶尖孔，在标准长度轴一端内侧具有基准面，沿标准长度轴的轴向按给定距离间隔设置有内槽。所述标准长度轴的轴线直线度不大于0.005mm。所述标准长度轴两端顶尖孔的跳动不大于0.01mm。所述标准长度轴上的各内槽内壁面的平行度不大于0.01mm。所述标准长度轴轴线与各内槽内壁面的垂直度不大于0.01mm。本技术的有益效果：与现有技术相比，本技术能够在立式、卧式光学轴类扫描仪进行安装校准，通过扫描仪的快速扫描校准装置轮廓，校准扫描仪的准确度，符合阿贝原则。合理使用本技术，可在车间现场进行实时校准，确保校准相关参数的准确性，本技术还具有装拆操作使用方便、结构简单的特点。本技术对光学轴类扫描仪校准时，可快速、准确的的对扫描仪进行校准测量，真实的反应扫描仪的准确度。附图说明图1为本技术的原理图；图2为标准长度轴的主视图；图3为标准长度轴的右视图；图中，1-标准长度轴，101-内槽，102-顶尖孔，103-平行度，104-垂直度，105-基准面，2、底光源，3、聚光透镜，4、被测工件，5、投影镜头，6、传感器，7、工件图像。具体实施方式下面结合附图及具体的实施例对技术进行进一步介绍：如图1所示，光学轴类扫描仪的工作原理是底光源2通过聚光透镜3照射在被测工件4上，工件通过投影镜头5和高分辨的传感器6采集到工件图像7，通过自动化编程，对采集的图像进行图形分析和处理，得到可靠准确的测量数据。如图2和图3所示，本实施例一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，包括用于安装在扫描仪上两顶尖之间的标准长度轴1，标准长度轴1两端面具有与扫描仪顶尖对应的一对顶尖孔102，在标准长度轴1一端内侧具有基准面105，沿标准长度轴1的轴向按给定距离间隔设置有多个内槽101。所述标准长度轴1上的多个凹槽规格尺寸相同，通过各槽面到基准面105的距离的不一致，来校准扫描仪的工作范围内的准确度，在工作范围内均匀分布校准尺寸，所得值与标准值进行比较，得到全量程范围内扫描仪的准确度。所述标准长度轴1的轴线直线度不大于0.005mm，确保标准长度轴1无扭曲变形，减少由于测得的距离和实际的距离之间的差异即余弦误差。所述标准长度轴1两端顶尖孔102的跳动不大于0.01mm，确保顶尖紧固连接，减小测量过程中的振动造成的校准测量值得不稳定性。所述标准长度轴1上的各内槽101内壁面的平行度103不大于0.01mm，确保尺寸测量校准的准确可靠。所述标准长度轴1轴线与各内槽101内壁面的垂直度104不大于0.01mm，确保扫描过程中轮廓清晰扫描，提高校准能力。本实施例中的标准长度轴1校准扫描仪时通过扫描仪的两端顶尖连接到设备的工作区域，为保证校准效果，标准长度轴1与扫描仪顶尖的圆跳动不得大于0.01mm，标准长度轴1的外直径Ф40mm，标准长度误差±1μm。采用顶尖顶住安装形式，通过光学快速扫描系统，消除了紧固连接、振动、余弦误差及其他影响示值的误差。在本实施例中，标准长度轴1可以均匀校准扫描仪X轴方向上的示值误差，基准面105是校准起始所对应的平面。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，其特征在于：包括用于安装在扫描仪上两顶尖之间的标准长度轴（1），标准长度轴（1）两端面具有与扫描仪顶尖对应的一对顶尖孔（102），在标准长度轴（1）一端内侧具有基准面（105），沿标准长度轴（1）的轴向按给定距离间隔设置有内槽（101）。

【技术特征摘要】
1.一种光学轴类检查仪的X轴校准装置，其特征在于：包括用于安装在扫描仪上两顶尖之间的标准长度轴（1），标准长度轴（1）两端面具有与扫描仪顶尖对应的一对顶尖孔（102），在标准长度轴（1）一端内侧具有基准面（105），沿标准长度轴（1）的轴向按给定距离间隔设置有内槽（101）。2.根据权利要求1所述的光学轴类检查仪的X轴校准装置，其特征在于：所述标准长度轴（1）的轴线直线度不大于0.005mm。3.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨华，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：新型
国别省市：贵州,52