光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备技术方案

本发明专利技术提供一种光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备，光学基准点识别方法包括：提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息；读取用于识别光学基准点的识别参数配置；根据所述焊盘属性信息、识别参数配置、预定筛选条件及结合所述预定筛选条件的预设筛选顺序，对所有焊盘逐一或并行进行判断，以标记出光学基准点。通过本发明专利技术可以提供预判断的光学基准点给客户参考，而无需客户看着板子自己人工寻找光学基准点，从而可减少SMT制程过程中人工参与的步骤，解决了自动化程序制作中的一个关键问题，为实现电子行业的智能制造提供了技术支持。

Optical datum identification method, system, computer readable storage medium and equipment

The invention provides an optical datum point identification method, a system, a computer readable storage medium and a device. The optical datum point identification method includes: extracting all the pads and their attribute information in the graphic design data of the PCB board to be identified; reading the identification parameter configuration for identifying the optical datum points; and according to the welding disk properties. The information, the identification parameter configuration, the predetermined screening condition, and the preset screening order combined with the predefined screening conditions are judged one by one or parallel to all the pads to mark out the optical datum point. This invention can provide the prejudged optical datum point to the customer reference, without the customer looking at the board to look for the optical datum point manually, thus can reduce the step of manual participation in the process of SMT process, and solve a key problem in the manufacture of automation program, and provide the technology for the intelligent manufacturing of the real electronic industry. Surgical support.

【技术实现步骤摘要】
光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备
本专利技术属于PCB电路板的检测
，涉及一种识别方法和系统，特别是涉及一种光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备。
技术介绍
PCB电路板上都会设计两个或以上的光学基准点，目的是对PCB整板进行定位,便于SMT设备进行位置识别，像丝网印刷机、贴片机、光学检测机等等几乎所有SMT设备都会用到这个基准点。目前行业内在制作SMT设备的程序时大都是人为进行移动到PCB光学基准点位置找到它；或者是工程师通过软件读出设计文件里的图形然后根据自身工作经验指定此点为光学基准点。智能制造要求制造过程中人工干预的步骤尽量减少，并要求制作设备程序能够在短时间内完成甚至实现自动完成。PCB电路板上光学基准点的定义是必不可少的环节，如果能用软件自动识别光学基准点并定义好将是实现自动制作程序的一个关键技术点。因此，提供一种光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备，以解决现有技术无法自动识别和定义光学基准点等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备，用于解决现有技术无法自动识别和定义光学基准点的问题。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术一方面提供一种光学基准点识别方法，包括：提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息；读取用于识别光学基准点的识别参数配置；根据所述焊盘属性信息、识别参数配置、预定筛选条件及结合所述预定筛选条件的预设筛选顺序，对所有焊盘逐一或并行进行判断，以标记出光学基准点。于本专利技术的一实施例中，所述焊盘属性信息包括焊盘形状、焊盘尺寸、焊盘上引脚、焊盘上元器件的名称及焊盘的网络链接状态。于本专利技术的一实施例中，所述识别参数配置包括预定焊盘形状、预定焊盘尺寸范围、预定焊盘上引脚的数值、预定焊盘上元器件的名称前缀及无网络链接状态。于本专利技术的一实施例中，所述预定筛选条件包括预定焊盘上元器件的名称前缀与预定焊盘上引脚的数值相结合的筛选条件、包括网络链接状态的筛选条件及预定焊盘形状与预定焊盘尺寸范围相结合的筛选条件。于本专利技术的一实施例中，所述预设筛选顺序为：首先判断焊盘上元器件的名称前缀是否为预定焊盘上元器件的名称前缀，且该焊盘上引脚的数值是否为1；接着判断焊盘网络链接状态是否表示为无网络链接状态；最后判断焊盘形状和焊盘尺寸是否符合预定焊盘形状和预定焊盘尺寸范围。于本专利技术的一实施例中，所述根据所述识别参数/项，预定筛选条件及预设筛选顺序，对所有焊盘逐一进行判断，以标记出光学基准点的步骤包括：判断第i个焊盘上元器件的名称前缀是否为预定焊盘上元器件的名称，且第i个焊盘上引脚的数值是否为1；若是，则将第i个焊盘标记为光学基准点；若否，则判断第i个焊盘的网络链接状态是否为无网络链接状态；若是，则判断第i个焊盘的焊盘形状和焊盘尺寸值是否符合预定焊盘形状和预定焊盘尺寸范围，若是，则将第i个焊盘标记为光学基准点；若否，则结束对第i个焊盘的判断，转入对第i+1个焊盘的判断的步骤；若否，则结束对第i个焊盘的判断，转入对第i+1个焊盘的判断的步骤；其中，i从1开始。于本专利技术的一实施例中，所述根据所述识别参数值/项，预定筛选条件及预设筛选顺序，对所有焊盘并行进行判断，以标记出光学基准点的步骤包括：判断所有焊盘上元器件的名称前缀是否为预定焊盘上元器件的名称，且所有焊盘上引脚的数值是否为1；若是，则将元器件的名称前缀为预定焊盘上元器件的名称，且焊盘上引脚的数值为1的焊盘标记为光学基准点；若否，则判断所有焊盘的网络链接状态是否为无网络链接状态；若是，则判断所有焊盘的焊盘形状和焊盘尺寸值是否符合预定焊盘形状和预定焊盘尺寸范围，若是，则将焊盘形状符合预定焊盘形状和焊盘尺寸值符合预定焊盘尺寸范围的焊盘标记为光学基准点；若否，则结束对焊盘的判断；若否，则结束对焊盘的判断。本专利技术另一方面提供一种光学基准点识别系统，包括：提取模块，用于提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息；读取模块，用于读取用于识别光学基准点的识别参数配置；处理模块，用于根据所述焊盘属性信息、识别参数配置、预定筛选条件及结合所述预定筛选条件的预设筛选顺序，对所有焊盘逐一或并行进行判断，以标记出光学基准点。本专利技术又一方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述光学基准点识别方法。本专利技术最后一方面提供一种设备，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述设备执行所述光学基准点识别方法。如上所述，本专利技术的光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备，具有以下有益效果：通过本专利技术提供的光学基准点识别方法、系统、计算机可读存储介质及设备可以提供预判断的光学基准点给客户参考，而无需客户看着板子自己人工寻找光学基准点，从而可减少SMT制程过程中人工参与的步骤，解决了自动化程序制作中的一个关键问题，为实现电子行业的智能制造提供了技术支持。附图说明图1A显示为本专利技术的光学基准点识别方法于一实施例中的流程示意图。图1B显示为本专利技术的S13中对所有焊盘逐一判断的流程示意图。图2显示为本专利技术的光学基准点识别系统于一实施例中的原理结构示意图。元件标号说明2光学基准点识别系统21提取模块22读取模块23处理模块S11～S13步骤S131～S135步骤具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，遂图式中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。实施例一本实施例提供一种光学基准点识别方法，包括：提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息；读取用于识别光学基准点的识别参数配置；根据所述焊盘属性信息、识别参数配置、预定筛选条件及结合所述预定筛选条件的预设筛选顺序，对所有焊盘逐一或并行进行判断，以标记出光学基准点。以下将结合图示对本实施例所提供的光学基准点识别方法进行详细描述。本实施例所述的光学基准点识别方法应用于PCB板的图形数据。请参阅图1A，显示为光学基准点识别方法于一实施例中的流程示意图。如图1A所示，所述光学基准点识别方法具体包括以下几个步骤：S11，提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息。在本实施例中，所有焊盘包括待识别PCB板的图形设计数据中所有正面和反面层的焊盘。所述焊盘属性信息包括焊盘形状、焊盘尺寸、焊盘上引脚、焊盘上元器件的名称及焊盘的网络链接状态等。S12，读取用于识别光学基准点的识别参数配置。所述识别参数配置包括预定焊盘形状、预定焊盘尺寸范围、预定焊盘上引脚的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学基准点识别方法，其特征在于，包括：提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息；读取用于识别光学基准点的识别参数配置；根据所述焊盘属性信息、识别参数配置、预定筛选条件及结合所述预定筛选条件的预设筛选顺序，对所有焊盘逐一或并行进行判断，以标记出光学基准点。

【技术特征摘要】
1.一种光学基准点识别方法，其特征在于，包括：提取待识别PCB板的图形设计数据中的所有焊盘及其属性信息；读取用于识别光学基准点的识别参数配置；根据所述焊盘属性信息、识别参数配置、预定筛选条件及结合所述预定筛选条件的预设筛选顺序，对所有焊盘逐一或并行进行判断，以标记出光学基准点。2.根据权利要求1所述的光学基准点识别方法，其特征在于，所述焊盘属性信息包括焊盘形状、焊盘尺寸、焊盘上引脚、焊盘上元器件的名称及焊盘的网络链接状态。3.根据权利要求2所述的光学基准点识别方法，其特征在于，所述识别参数配置包括预定焊盘形状、预定焊盘尺寸范围、预定焊盘上引脚的数值、预定焊盘上元器件的名称前缀及无网络链接状态。4.根据权利要求3所述的光学基准点识别方法，其特征在于，所述预定筛选条件包括预定焊盘上元器件的名称前缀与预定焊盘上引脚的数值相结合的筛选条件、包括网络链接状态的筛选条件及预定焊盘形状与预定焊盘尺寸范围相结合的筛选条件。5.根据权利要求3所述的光学基准点识别方法，其特征在于，所述预设筛选顺序为：首先判断焊盘上元器件的名称前缀是否为预定焊盘上元器件的名称前缀，且该焊盘上引脚的数值是否为1；接着判断焊盘网络链接状态是否表示为无网络链接状态；最后判断焊盘形状和焊盘尺寸是否符合预定焊盘形状和预定焊盘尺寸范围。6.根据权利要求5所述的光学基准点识别方法，其特征在于，所述根据所述识别参数/项，预定筛选条件及预设筛选顺序，对所有焊盘逐一进行判断，以标记出光学基准点的步骤包括：判断第i个焊盘上元器件的名称前缀是否为预定焊盘上元器件的名称，且第i个焊盘上引脚的数值是否为1；若是，则将第i个焊盘标记为光学基准点；若否，则判断第i个焊盘的网络链接状态是否为无网络链接状态；若是，则判断第i个焊盘的焊盘形状和焊盘尺寸值...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱胜杰，刘继硕，刘丰收，
申请(专利权)人：上海望友信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31