低本底α、β测量装置制造方法及图纸

技术编号:17910923 阅读:46 留言:0更新日期:2018-05-10 17:25
本发明专利技术提供了一种低本底α、β测量装置,包括:主探测器、反符合探测器和控制电路,主探测器和反符合探测器分别与控制电路相连接;主探测器用于采集主探测信号,并将主探测信号输入至控制电路,主探测信号为样品产生的α、β射线,和/或,环境本底辐射生成的探测信号;反符合探测器用于采集反符合信号,并将反符合信号输入至控制电路,反符合信号为环境本底辐射生成的探测信号;控制电路用于主探测信号和反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰,并在确定出未受到干扰时,统计α、β活度测量的测量结果。本发明专利技术缓解了现有的测量装置在进行α、β活度测量时容易受到环境本底辐射干扰的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
低本底α、β测量装置
本专利技术涉及辐射探测的
,尤其是涉及一种低本底α、β测量装置。
技术介绍
低本底α、β测量装置广泛应用于水样、生物样、环境样等多种样品中的总α、总β活度测量,是环境监测站、物理保健中心、自来水公司的必备设备。因所测样品的放射性比活度较低,测量环境需保持极低的环境本底,除安装铅室屏蔽外还需安装反符合探测装置来屏蔽高能环境本底辐射产生的本底干扰。因低本底测量对低本底的高要求,反符合探测能全部准确的屏蔽环境本底辐射的干扰,且样品测量周期一般为几个或十几个小时,需要反符合探测器能够持续稳定工作。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种低本底α、β测量装置,本专利技术缓解了现有的测量装置在进行α、β活度测量时容易受到环境本底辐射干扰的技术问题。第一方面,本专利技术实施例提供了一种低本底α、β测量装置包括:主探测器、反符合探测器和控制电路,其中,所述主探测器和所述反符合探测器分别与所述控制电路相连接;所述主探测器用于采集主探测信号,并将所述主探测信号输入至所述控制电路,其中,所述主探测信号为基于样品产生的α、β射线,和/或,环境本底辐射生成的探测信号;所述反符合探测器用于采集反符合信号,并将所述反符合信号输入至所述控制电路,其中,所述反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号;所述控制电路用于所述主探测信号和所述反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰,并在确定出未受到干扰时,统计α、β活度测量的测量结果。进一步地,所述探测器和控制电路数量均为多个,其中,所述主探测器分别与每个所述控制电路相连接,用于向每个所述控制器发送所述主探测信号;所述反符合探测器与每个所述控制电路相连接,用于向每个所述控制器发送所述反符合信号。进一步地,所述控制电路包括:甄别电路和逻辑运算电路,其中,所述甄别电路包括第一甄别电路和第二甄别电路,所述第一甄别电路与所述主探测器相连接,用于获取所述主探测器发送的所述主探测信号;所述第二甄别电路与所述反符合探测器相连接,用于获取所述反符合探测器的所述反符合信号;所述逻辑运算电路分别与所述第一甄别电路和所述第二甄别电路相连接,用于基于所述第一甄别电路的甄别结果和所述第二甄别电路的甄别结果确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰。进一步地,所述第一甄别电路包括:第一甄别子电路,第二甄别子电路和第三甄别子电路;其中,所述第一甄别子电路,所述第二甄别子电路和所述第三甄别子电路分别与所述主探测器相连接,用于分别获取所述主探测器发送的所述主探测信号。进一步地,所述逻辑运算电路包括:第一与门,第二与门,第三与门和与非门,其中,所述第一与门的输入端与所述第一甄别子电路的输出端相连接,所述第二与门的输入端与所述二甄别子电路的输出端相连接,所述第三与门的输入端与所述第三甄别子电路的输出端相连接,所述与非门的输入端分别与所述第三甄别子电路和所述二甄别电路的输出端相连接,所述与非门的输出端分别与所述第三与门输入端连接,第三与门输出端分别与第一与门和所述第二与门的输入端相连接;所述第一与门,所述第二与门,所述第三与门和所述与非门的输出端分别与单片机相连接。进一步地,所述控制电路还包括:第一运算放大电路和第二运算放大电路,其中,所述第一运算放大电路设置在所述主探测器和所述第一甄别电路之间,用于获取所述主探测器输出的所述主探测信号,并对所述主探测信号进行放大之后输入至所述第一甄别电路中;所述第二运算放大电路设置在所述反符合探测器和所述第二甄别电路之间,用于获取所述反符合探测器输出的所述反符合信号,并对所述反符合信号进行放大之后输入至所述第二甄别电路中。进一步地,所述主探测器包括:低本底α、β双闪烁体、第一低钾光电倍增管和第一前置放大分压电路,其中,所述低本底α、β双闪烁体与所述第一低钾光电倍增管相连接,所述第一低钾光电倍增管与所述第一前置放大分压电路的输入端相连接;所述低本底α、β双闪烁体用于吸收样品产生的α、β射线,和/或,环境本底辐射,并基于所述α、β射线,和/或,所述环境本底辐射产生荧光;所述第一低钾光电倍增管用于将所述荧光转换为电信号;所述第一前置放大分压电路用于对所述电信号进行放大,放大之后得到所述主探测信号。进一步地,所述反符合探测器包括:反符合闪烁体、第二低钾光电倍增管、第二前置放大分压电路,其中,所述第二低钾光电倍增管与所述第二前置放大分压电路的输入端相连接,所述第二前置放大分压电路的输出端与所述反符合闪烁体相连接,所述反符合闪烁体用于吸收环境本底辐射,并基于所述环境本底辐射产生荧光;所述第二低钾光电倍增管用于将所述荧光转换为电信号;所述第二前置放大分压电路用于对所述电信号进行放大,放大之后得到所述反符合信号。进一步地,所述装置还包括:上位机,所述上位机与单片机相连接,用于获取所述单片机传输的数据,并对所述单片机传输的数据进行存储。在本专利技术提供的低本底α、β测量装置包括:主探测器、反符合探测器和控制电路,其中,主探测器和反符合探测器分别与控制电路相连接;主探测器用于采集主探测信号,并将主探测信号输入至控制电路,其中,主探测信号为基于样品产生的α、β射线,和/或,环境本底辐射生成的探测信号;反符合探测器用于采集反符合信号,并将反符合信号输入至控制电路,其中,反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号;控制电路用于主探测信号和反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰,并在确定出未受到干扰时,统计α、β活度测量的测量结果。通过上述描述可知,本专利技术所提供的低本底α、β测量装置反符合装置缓解了现有的测量装置在进行α、β活度测量时容易受到环境本底辐射干扰的技术问题。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种低本底α、β测量装置的示意图;图2是本专利技术实施例提供的一种多路控制电路与反符合探测器和主探测器的布置图;图3是本专利技术实施例提供的另一种可选的低本底α、β测量装置的示意图;图4是本专利技术实施例提供一种主探测器的示意图;图5是本专利技术实施例提供的一种反符合探测器的示意图。图标:10-主探测器;20-反符合探测器;30-控制电路;301-甄别电路;A301-第一甄别电路;B301-第二甄别电路;A3011-第一甄别子电路;A3012-第二甄别子电路;A3013第三甄别子电路;302-逻辑运算电路;3021-第一与门;3022-第二与门;3023-与非门;3024-第三与门;303-单片机;40-上位机;101-低本底α、β双闪烁体;102-第一低钾光电倍增管;103本文档来自技高网...
低本底α、β测量装置

【技术保护点】
一种低本底α、β测量装置,其特征在于,包括:主探测器、反符合探测器和控制电路,其中,所述主探测器和所述反符合探测器分别与所述控制电路相连接;所述主探测器用于采集主探测信号,并将所述主探测信号输入至所述控制电路,其中,所述主探测信号为基于样品产生的α、β射线,和/或,环境本底辐射生成的探测信号;所述反符合探测器用于采集反符合信号,并将所述反符合信号输入至所述控制电路,其中,所述反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号;所述控制电路用于所述主探测信号和所述反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰,并在确定出未受到干扰时,统计α、β活度测量的测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种低本底α、β测量装置,其特征在于,包括:主探测器、反符合探测器和控制电路,其中,所述主探测器和所述反符合探测器分别与所述控制电路相连接;所述主探测器用于采集主探测信号,并将所述主探测信号输入至所述控制电路,其中,所述主探测信号为基于样品产生的α、β射线,和/或,环境本底辐射生成的探测信号;所述反符合探测器用于采集反符合信号,并将所述反符合信号输入至所述控制电路,其中,所述反符合信号为基于环境本底辐射生成的探测信号;所述控制电路用于所述主探测信号和所述反符合信号确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰,并在确定出未受到干扰时,统计α、β活度测量的测量结果。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制电路数量均为多个,其中,所述主探测器分别与每个所述控制电路相连接,用于向每个所述控制器发送所述主探测信号;所述反符合探测器与每个所述控制电路相连接,用于向每个所述控制器发送所述反符合信号。3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述控制电路包括:甄别电路和逻辑运算电路,其中,所述甄别电路包括第一甄别电路和第二甄别电路,所述第一甄别电路与所述主探测器相连接,用于获取所述主探测器发送的所述主探测信号;所述第二甄别电路与所述反符合探测器相连接,用于获取所述反符合探测器的所述反符合信号;所述逻辑运算电路分别与所述第一甄别电路和所述第二甄别电路相连接,用于基于所述第一甄别电路的甄别结果和所述第二甄别电路的甄别结果确定在对样本进行α、β活度测量的过程中是否受到环境本底辐射的干扰。4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述第一甄别电路包括:第一甄别子电路,第二甄别子电路和第三甄别子电路;其中,所述第一甄别子电路,所述二甄别子电路和所述第三甄别子电路分别与所述主探测器相连接,用于分别获取所述主探测器发送的所述主探测信号。5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述逻辑运算电路包括:第一与门,第二与门,第三与门和与非门;其中,所述第一与门的输入端与所述第一甄别子电路的输出端相连接;所述第二与门的输入端与所述二甄别子电路的输出端相连接;所述第三与门的输入端与所述第三甄别子电...

【专利技术属性】
技术研发人员:董翀刘汉华
申请(专利权)人:北京中科核安科技有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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