用于分光光度计的测量装置及其测量方法制造方法及图纸

技术编号:15398155 阅读:118 留言:0更新日期:2017-05-22 13:51
本发明专利技术提供一种用于分光光度计的测量装置及其测量方法。该装置包括:测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑单元,用于根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;启动器,用于启动对空白样品和待测样品的测量;测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断单元,用于根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据;控制单元,用于在样品池内的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕。

Measuring device for spectrophotometer and measuring method thereof

The present invention provides a measuring device for a spectrophotometer and a measuring method thereof. The device comprises a measuring method of editing unit for measuring method of editing spectrophotometer; acquisition method of editing unit according to including blank samples and sample the sample number editing acquisition method; starter for starting measurement of blank samples and samples; measurement unit, according to the measurement method and the acquisition method, the sample pool were measured in blank samples and measured samples and save measurement data; judging unit, according to the method of judging whether the data acquisition measurement of blank sample measurement data; the control unit, used in the sample pool of blank samples and samples after measurement according to the acquisition method to determine the blank sample and the sample are all measured after.

【技术实现步骤摘要】
用于分光光度计的测量装置及其测量方法
本专利技术涉及分光光度计的测量
,特别涉及一种用于分光光度计的测量装置及其测量方法。
技术介绍
用分光光度计进行定量测量时,扣空白是十分普遍的操作。扣空白指的是用样品的测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据。空白样品指的是测量样品时所用的溶剂,空白测量数据是指对空白样品进行定量测量得到的数据。样品的测量条件要与空白样品的测量条件相同。扣空白可以方便地扣除溶剂对样品测量数据的影响。现有技术中,扣空白通常通过设定第一个待测样品为空白样品,然后用样品的测量数据减去该空白样品的空白测量数据完成。采用这种方法,不管待测样品有多少个,都只能设定一个样品为空白样品,且只能设定第一个待测样品为空白样品,非常不方便用户使用。目前,非常需要一种能够灵活、方便地扣空白的用于分光光度计的测量装置及其测量方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于分光光度计的测量装置。本专利技术的另一目的是提供一种分光光度计。本专利技术的再一目的是提供一种用于分光光度计的测量方法。本专利技术提供的用于分光光度计的测量装置包括:测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑单元,用于根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;启动器,用于启动对空白样品和待测样品的测量;测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断单元,用于根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该测量数据相应的空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;控制单元,用于在样品池内的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,并在样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后使测量单元开始测量。进一步地,所述测量方法编辑单元用于对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。进一步地,所述采集方法编辑单元用于对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。优选地,所述采集方法编辑单元进一步用于对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑。优选地,所述测量装置是定量测量装置。本专利技术提供的分光光度计包括所述测量装置。本专利技术提供的用于分光光度计的测量方法包括如下步骤:测量方法编辑步骤,编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑步骤,根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;启动步骤,启动对空白样品和待测样品的测量;测量步骤,根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断步骤,根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该待测样品的相应空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;控制步骤,样品池中的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后返回至测量步骤。优选地,所述测量方法编辑步骤包括对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。优选地,所述采集方法编辑步骤进一步包括对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。优选地,所述采集方法编辑步骤进一步包括对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑。优选地,所述测量方法适用于定量测量。本专利技术具有如下有益效果:本专利技术提供的用于分光光度计的测量装置和测量方法,可以同时设定多个样品为空白样品,并且可以根据需要设定任意样品为空白样品,使得测量过程中的扣空白操作更加灵活,方便用户使用。附图说明图1为本专利技术实施例提供的用于分光光度计的测量装置的示意图;图2为本专利技术实施例提供的用于分光光度计的测量方法的流程图;图3为本专利技术实施例提供的用于分光光度计的测量方法的判断步骤的示意图。具体实施方式下面结合附图及实施例对本专利技术的
技术实现思路
作进一步的描述。如图1所示,本专利技术提供的用于分光光度计的测量装置包括:测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑单元,用于根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;启动器,用于启动对空白样品和待测样品的测量;测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断单元,用于根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该测量数据相应的空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;控制单元,用于在样品池内的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,并在样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后使测量单元开始测量。所述测量方法编辑单元用于对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。所述采集方法编辑单元用于对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。所述采集方法编辑单元进一步用于对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑。所述测量装置是定量测量装置。在本实施例中,所述测量装置仅有一个样品池,且该样品池一次只能容纳一个样品。如图2所示,本专利技术提供的用于分光光度计的测量方法包括如下步骤:测量方法编辑步骤,编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑步骤,根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;启动步骤,启动对空白样品和待测样品的测量;测量步骤,根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断步骤,根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该待测样品的相应空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;控制步骤,样品池中的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后返回至测量步骤。所述测量方法编辑步骤包括对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。所述采集方法编辑步骤进一步包括对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。用户可以根据需要在所述样品信息中随意注明与各空白样品和各待测样品相关的信息。所述采集方法编辑步骤进一步包括对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑。例如,如图3所示,空白样品有两个,其样品ID例如分别为Sample1和Sample5;待测样品本文档来自技高网
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用于分光光度计的测量装置及其测量方法

【技术保护点】
一种用于分光光度计的测量装置,其特征在于,该装置包括:测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑单元,用于根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;进一步用于对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑;启动器,用于启动对空白样品和待测样品的测量;测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断单元,用于根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该测量数据相应的空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;控制单元,用于在样品池内的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,并在样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后使测量单元开始测量。

【技术特征摘要】
1.一种用于分光光度计的测量装置,其特征在于,该装置包括:测量方法编辑单元,用于编辑分光光度计的测量方法;采集方法编辑单元,用于根据包括空白样品和待测样品的样品个数编辑采集方法;进一步用于对待测样品的ID与其空白样品的ID的对应关系进行编辑;启动器,用于启动对空白样品和待测样品的测量;测量单元,用于根据所述测量方法和所述采集方法,依次测量各样品池中的空白样品和待测样品并保存测量数据;判断单元,用于根据所述采集方法判断测量数据是否为空白样品的测量数据,如果是,则标记该测量数据为空白测量数据,如果否,则根据所述采集方法查找该测量数据相应的空白样品的空白测量数据,并用该测量数据减去其相应的空白测量数据作为扣空白后的测量数据;控制单元,用于在样品池内的空白样品和待测样品测量完成后,根据所述采集方法判断空白样品和待测样品是否全部测量完毕,如果否,则提示用户更换样品池中的空白样品和/或待测样品,并在样品池中空白样品和/或待测样品更换完成后使测量单元开始测量。2.如权利要求1所述的用于分光光度计的测量装置,其特征在于,所述测量方法编辑单元用于对类型、单位、公式、波长点和校准曲线中的一个或多个进行编辑。3.如权利要求1所述的用于分光光度计的测量装置,其特征在于,所述采集方法编辑单元用于对空白样品和待测样品的ID、样品池的ID、批次、浓度和样品信息中的一个或多个进行编辑。4.如权利要求1所述的用于分光光度计的测量装置,其特征在于,所述测量装置是定量测量装置。5.一种分光光度计,其特征在于,该分光光度计包括如权利要求1-4中的任意一项所...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵江静赵东阳王悦王铁军李维森
申请(专利权)人:北京普源精仪科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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