【技术实现步骤摘要】
一种目标剂量率的确定方法、装置及计算机可读存储介
[0001]本申请涉及核辐射监测
，尤其涉及一种目标剂量率的确定方法、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]核辐射检测仪又称辐射检测仪，其核心部件是传感器，主要用于将各种需要检测的物理、化学等变量信息转变成可测量的电信号，再传给芯片进行计算得出辐射剂量值。核辐射检测仪剂量仪采用一支盖革
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弥勒计数管来测定辐射，当每一次射线通过该GM管并引起电离时便使该GM管产生一次检测电流脉冲，每个脉冲被电子管电路检测并记录为一个计数，该剂量仪的显示值为在你所选定的模式下的计数值。由于放射性的随机特性，故由剂量仪所检测到的计数值各分钟有变化，当取一段平均时间内的读数则较为正确，当所取的时间间隔越长则平均数越准。
[0003]由于核辐射检测仪采用芯片得到计数值的剂量值，芯片会受到电流、电压等其他因素的影响从而剂量值的准确性，导致剂量值不准确。
技术实现思路
[0004]本申请实施例的目的在于提供一种目标剂量率的确定方法、装置及可读存储...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种目标剂量率的确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标计数率，其中，所述目标计数率为核辐射监测设备检测到的待测点处的平均计数率；确定所述目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围，其中，所述分段函数用于指示不同计数率对应的剂量率，所述剂量率为所述核辐射监测设备在单位时长内接受辐射的剂量，所述目标计数率范围包括端点处的最小计数率和最大计数率；确定所述目标计数率范围在所述分段函数中的目标修正系数，其中，所述目标修正系数是通过所述最大计数率对应的最大剂量率、所述最小计数率对应的最小剂量率以及所述目标计数率范围得到的；根据所述目标修正系数、所述最小计数率、所述最小剂量率和所述目标计数率，确定所述目标计数率对应的目标剂量率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标修正系数、所述最小计数率、所述最小剂量率和所述目标计数率，确定所述目标计数率对应的目标剂量率包括：确定所述目标计数率和所述最小计数率之间的计数率差值；将所述目标修正系数和所述计数率差值的乘积，作为所述计数率差值对应的剂量率高度，其中，所述剂量率高度用于指示所述计数率差值在所述分段函数中对应的纵坐标高度差值；将所述剂量率高度与所述最小剂量率的和值，作为所述目标计数率对应的目标剂量率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述目标剂量率的计算公式为：F(X)＝(F(X2)
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F(X1))/(X2
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X1)*(X
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X1)+F(X1)，其中，F(X)为目标剂量率，X1为最小计数率，F(X1)为最小剂量率，X2为最大计数率，F(X2)为最大剂量率，X为目标计数率，(F(X2)
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F(X1))/(X2
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X1)为目标修正系数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标计数率在分段函数中对应的目标计数率范围之前，所述方法还包括：获取样本刻度点，其中，所述样本刻度点包括样本计数率和所述样本计数率对应的样本剂量率；将所述样本刻度点按照预设顺序插入样本函数中，其中，所述样本函数包括至少一个已有刻度点，所述已有刻度点包括已有计数率和已有剂量率，所述预设顺序为所述样本计数率和所述已有计数率按照大小进行排列的顺序；确定所述样本计数率的邻接计数率，其中，所述邻接计数率为所述样本计数率在所述样本函数中相邻的至少一个计数率；根据所述样本计数率和所述邻接计数率，更新所述样本函数中的已有刻度点；在所述样本计数率的数量达到预设数量阈值的情况下，按照更新后的已有刻度点确定所述分段函数。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述样本计数率和所述邻接计数率，更新所述样本函数中的已有刻度点包括：确定所述样本计数率的样本刻度系数和邻接计数率的邻接刻度系数，其中，刻度系数...
【专利技术属性】
技术研发人员：董翀，沈杨，李天荣，
申请(专利权)人：北京中科核安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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