投影式复检机及其校正方法技术

本发明专利技术提出一种投影式复检机及其补偿校正方法，使得该投影式复检机在不同的操作环境中，均能藉由该补偿校正方法对投射出的图像予以补偿修正，提供操作人员在复检时能够在待复检物上更快速地找出需确认是否为真实缺陷的位置。

【技术实现步骤摘要】
投影式复检机及其校正方法
本专利技术系关于一种用于检测电路的光学检测、复检方法，更特别的是关于一种应用于投影式复检机的补偿校正方法。
技术介绍
光学辨识系统如自动光学检测机(AutomatedOpticalInspection,AOI)及外观终检机(AutomaticFinalInspection,AFI)等检测机台，如今已经被普遍应用在电子业之电路板组装生产线上的检测流程中，用以取代以往的人工目测检视作业，它利用影像技术比对待测物与标准影像是否有差异来判断待测物有否符合标准，由此可知，自动光学检测大幅节省了检测时间及人力成本。此外，自动光学检测设备还具有较高之稳定度以及操作弹性等优点。而经由光学检测后，会再将光学检测机台之检测结果及可能存在缺陷的待复检物A送至复检站，经人工辨识后确认是否为真的缺陷或仅是光学检测机台的误判，进而操作人员再将待复检物A进行标识或是修复的动作。而在复检站时，为能方便人员判断光学检测机台检出的缺陷是位于待复检物A的何处位置上，习知之投影式复检站技术如图1所示，包括有显示单元10、运算单元20、投影单元30、平台40，其设计之方式将待复检物A放置于投影单元的下方平台40上，再透过上方之投影单元30将前端经光学检测机台检测后判读的可能缺陷处投射于待复检物A上，以方便人员能够直接目视该检出缺陷在待复检物A上的实际位置及判断是否为真的缺陷。然而，习知之投影式复检机在各厂家使用环境及条件不一，例如因实际待复检物A大小不同故投影单元架设的高度不同，又或者是使用者使用时摆放平台40不完全水平等因素，这导致上方投影单元30投射出的影像有所偏差，而其投射出的缺陷位置处也相对会有偏差，例如图1当中箭头所指实际待复检物A旁投射出误差的虚线处，如果缺陷位置位于待复检物A的右下角，则投影单元30投射出的缺陷位置会让操作者难以辨识位于实际待复检物A上的何处位置上，故如何补偿校正投影式复检机使其能适用于不同操作环境，以方便操作人员能更准确的比对出是否为真实缺陷，此实为业界亟待解决的问题，本专利技术案即为此提出解决方案。
技术实现思路
本专利技术之一目的在于缩短光学检测机于检测流程中所需的时间，特别是在光学复检站之复检流程中。本专利技术之另一目的在于提供一种投影式复检机的检测方法，以供操作人员在复检时能够在实际待复检物上更快速地找出需确认是否为真实缺陷的位置。本专利技术的又一目的为，提出一种投影式复检机的补偿校正方法，使得其在不同的操作环境中，均能经由该校正方法对投影式复检机投射出的图像予以补偿修正。为达上述之目的，本专利技术提出一种投影式复检机，包含：显示单元，可用于显示理论值图像；指令输入装置，可用于选取理论值图像及待复检物上相对应之至少2点；运算单元，其根据理论值图像及待复检物上选定之至少2点计算校正量；及投影单元，用以输出校正后的图像。为达上述之目的，本专利技术提出一种投影式复检机的校正方法，包含：步骤S100：于一理论值图像上选定至少2点；步骤S200：于一投影平面上根据实际待复检物选定对应于理论值图像上之该至少2点；步骤S300：运算单元根据步骤S100及步骤S200选定之该至少2点来计算校正量；及步骤S400：输出校正后的投影图像。于本专利技术之一实施例中，操作者于一显示单元上，利用指令输入装置(例如：鼠标、触控屏幕、触摸板、触控笔等)从正确的待复检物理论值图像上选定至少2点做为参考点，例如可选左上角及右下角各1点，接着从投影单元下方根据实际待复检物的位置，利用指令输入装置点选相应于理论值图像上选定之该至少2点(左上角及右下角)，藉由在理论值图像及实际待复检物上选定之该至少2点来计算投影偏差量，再经补偿后输出校正过的投影图像；当然，也可先从投影单元下方根据实际待复检物选定至少2点作为参考点，再从显示单元的理论值图像上选定相应之该至少2点，亦即于理论值图像及实际待复检物上选取参考点之先后可互相置换。于本专利技术之另一实施例中，操作者于一显示单元上，利用指令输入装置(例如：鼠标、触控屏幕、触摸板、触控笔等)从正确的待复检物理论值图像上选定角落4点作为参考点，从左上角开始顺时钟分别为左上、右上、右下、左下，接着从投影单元下方根据实际待复检物的位置，利用指令输入装置依相同顺序点选相应于理论值图像上选定的4点，藉由在理论值图像及实际待复检物上选定之该4点来计算投影偏差量，再经补偿后输出校正过的投影图像；当然，也可先从投影单元下方根据实际待复检物选定角落4点作为参考点，再从显示单元的理论值图像上依相同顺序点选相应之该4点，亦即于理论值图像及实际待复检物上选取参考点之先后可互相置换。于本专利技术之再一实施例中，操作者亦可选定非位于角落的至少2点来作为参考点，但该参考点是需要能够被操作员轻易辨视的，例如可选择位于实际待复检物上具有金属线路转折处、油膜标号处、电路组件较大处作为参考点的选择，如此能够较轻易的在实际待复检物上选定相应于理论值图像上之参考点。于本专利技术之再一实施例中，亦可由内建程序来自动选定理论值图像上之该至少2点，例如可由内建程序来自动预设理论值图像上的角落4点为选定之参考点，则操作者在使用时仅需使用指令输入装置在实际待复检物上依序选择角落之4点即可完成投影偏差量的计算，毋需再于理论值图像中选定对应之参考点。附图说明图1为习知之投影式复检站之相关示意图；图2为本专利技术一实施例中投影式复检机的校正示意图；图3为本专利技术另一实施例中投影式复检机的校正示意图；图4为本专利技术再一实施例中投影式复检机的校正示意图；图5为本专利技术投影式复检机之校正步骤示意图。具体实施方式为充分了解本专利技术之目的、特征及功效，兹藉由下述具体之实施例，并配合所附之图式，对本专利技术做一详细说明，说明如后：请参阅图2，系本专利技术一实施例中操作者于复检机(或称为复检站)进行复检工作时的相关操作方式，复检机可能的设备包括有：显示单元10、运算单元20、投影单元30、平台40、指令输入装置50等，但复检机之设备并非一定要完全包括前述5项装置，例如运算单元20可能存在于复检机之前的光学检测机台(图未示)之中；又例如平台40未必需要，投影单元30亦可将需投影之画面直接投射在操作者原有环境里的工作台面上(图未示)。复检机中的显示单元10、投影单元30、指令输入装置50等均连接至图2中未示出的运算单元20，复检机首先于运算单元20上先接收一正确的理论值图像101并呈现于显示单元10之上，以供操作者能清楚了解待复检物A的正确图像为何，该理论值图像101上包括有相关电路及元件分布图案(图未示)，接着利用指令输入装置50(例如鼠标、触控笔、触摸板或触控屏幕等)于理论值图像101上选定2点为参考点(本实施例中以虚线圈选处左上角及右下角参考点为例)，此时因实际待复检物A已放置于投影单元30投射于平台40或操作者工作台面之投影平面上，故可再将指令输入装置50之光标移动至该投影平面上，并选定实际待复检物A上对应于理论值图像101之2点位置(左上角及右下角)，此时运算单元20根据理论值图像101及实际待复检物A上各选定之对应2点来计算投影偏差量，将此偏差量补偿修正后再投影输出校正后的图像。较佳的，于实际待复检物A上选定该2点之顺序和在理论值图像101上选定之顺序相同。前述运算单元20计算偏差量之方法可为插本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种投影式复检机，包含：显示单元，可用于显示理论值图像；指令输入装置，可用于选取理论值图像及待复检物上相对应之至少2点；运算单元，其根据理论值图像及待复检物上选定之该至少2点计算校正量；及投影单元，用以输出校正后的图像。

【技术特征摘要】
1.一种投影式复检机，包含：显示单元，可用于显示理论值图像；指令输入装置，可用于选取理论值图像及待复检物上相对应之至少2点；运算单元，其根据理论值图像及待复检物上选定之该至少2点计算校正量；及投影单元，用以输出校正后的图像。2.如权利要求1所述的投影式复检机，于选定2点时，该2点大致位于对角线位置；于选定4点时，该4点大致位于4个角落。3.如权利要求1所述的投影式复检机，该指令输入装置选取理论值图像及待复检物上对应之至少2点时，其选取之顺序相同。4.如权利要求1所述的投影式复检机，该投影单元输出之校正后的图像可为缺陷位置标示图、待复检物轮廓图、待复检物全部图像、待复检物部分图像，或者为前述两者以上混合者。5.一种投影式复检机之校正方法，包含：步骤S100：于一理论值图像上选定至少2点；步骤S200：于一投影平面上根据实际待复检物选定对应于...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪光夏，呂彥德，李建翰，何羽立，
申请(专利权)人：牧德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71