基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法技术

本发明专利技术公开了一种基性‑超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，包括：将所述薄片样品上的基性‑超基性岩样品划分为多个子区域；对所述薄片样品喷镀导电材料；通过扫描电镜能谱仪寻找基性‑超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图；将电镜的基性‑超基性岩样品中出现锆元素峰的位置导航到可见的视野中；确定视野内的基性‑超基性岩样品中的斜锆石矿物的位置；在基性‑超基性岩样品上对所述斜锆石矿物的位置进行标记；钻取标记好的所述矿物斜锆石。本发明专利技术能够解决难以从基性‑超基性岩中分选出斜锆石的问题。

【技术实现步骤摘要】
基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法
本专利技术涉及测年
，尤其涉及一种基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法。
技术介绍
斜锆石(ZrO2)是一种常见的副矿物，是在硅不饱和或者临界饱和条件下形成，其在各种岩石类型中都有产出，诸如金伯利岩、碳酸岩、正长岩、基性-超基性岩和球粒火成岩等。斜锆石是理想且可靠的地质计时器。基性-超基性岩侵入体的结晶时代的准确厘定就是依靠斜锆石U-Pb同位素方法。主要原因是：斜锆石在镁铁质岩浆结晶分异的晚期结晶；包含有不同浓度的高U和可忽略的初始Pb含量；在基性-超基性岩中基本上不存在以捕掳晶形式存在的继承性斜锆石；与锆石(ZrSiO4)相比，不易发生Pb丢失的现象。由此可见斜锆石对基性-超基性岩的年代学研究意义重大。对于诸如中酸性岩的锆石、独居石等测年副矿物，常规的样品制备方法是：岩石粉碎到200目，利用摇床重选等方法挑选出矿物颗粒。这种方法应用在基性-超基性岩中分选斜锆石时效果却很差，主要难点在于：①斜锆石通常量很少并且晶体颗粒很细小，一般宽度小于30μm；②斜锆石脆性大，在岩石样品粉粹的过程中，很容易破碎成更小的颗粒，导致在过筛的过本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基性‑超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，其特征在于，包括：将基性‑超基性岩样品置于载玻片上，得到薄片样品；将所述薄片样品上的基性‑超基性岩样品划分为多个子区域；对所述薄片样品喷镀导电材料；通过扫描电镜能谱仪寻找基性‑超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图；将电镜的基性‑超基性岩样品中出现锆元素峰的位置导航到可见的视野中；确定视野内的基性‑超基性岩样品中的斜锆石矿物的位置；在基性‑超基性岩样品上对所述斜锆石矿物的位置进行标记；钻取标记好的所述矿物斜锆石。

【技术特征摘要】
1.一种基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，其特征在于，包括：将基性-超基性岩样品置于载玻片上，得到薄片样品；将所述薄片样品上的基性-超基性岩样品划分为多个子区域；对所述薄片样品喷镀导电材料；通过扫描电镜能谱仪寻找基性-超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图；将电镜的基性-超基性岩样品中出现锆元素峰的位置导航到可见的视野中；确定视野内的基性-超基性岩样品中的斜锆石矿物的位置；在基性-超基性岩样品上对所述斜锆石矿物的位置进行标记；钻取标记好的所述矿物斜锆石。2.根据权利要求1所述的基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，其特征在于，通过扫描电镜能谱寻找基性-超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图，包括：将喷镀有导电材料的薄片样品置于扫描电镜样品仓内，并固定在样品台上，然后通过能量色散X射线探测器寻找基性-超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图。3.根据权利要求1所述的基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，其特征在于，通过扫描电镜能谱仪寻找基性-超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图，包括：将每个子区域划分为多个单元；通过扫描电镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨赛红，闫欣，陈意，李秋立，唐旭，谷立新，苏本勋，
申请(专利权)人：中国科学院地质与地球物理研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11