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本发明公开了一种基性‑超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，包括：将所述薄片样品上的基性‑超基性岩样品划分为多个子区域；对所述薄片样品喷镀导电材料；通过扫描电镜能谱仪寻找基性‑超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图；将电镜的基性‑超基...
该专利属于中国科学院地质与地球物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院地质与地球物理研究所授权不得商用。

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